UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

c) Finalmente, el error de offset se
iguala a 4095 y no cambia durante el
resto de la irradiación.
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Efectos de la radiación en conversores digital-analógicos
Fig. 9.13: Error de offset de los conversores CMOS. Fig. 9.14: Errores de ganancia de los conversores CMOS
La evolución del error de ganancia
sorprende bastante. Inicialmente, su valor
suele ser mucho mayor que el error de offset
(EOFF ≈ 1-2 LSB, EGN ≈ 5-20 LSB) y se
mantiene en el mismo valor hasta que, cuando
el error de offset comienza a crecer, el error de
ganancia se hace negativo y crece al mismo
Fig. 9.15: Número relativo de bits de los conversores D/A
ritmo. Este crecimiento continúa hasta que en tecnología CMOS durante la irradiación.
alcanza un valor de –4095 LSB y el conversor
es destruido. Fig. 9.14 muestra la evolución de este parámetro en los conversores. Puede
apreciarse que, cuando los errores son muy altos, las gráficas asociadas a la evolución del error
de offset y de ganancia son muy parecidas. Es decir, EGN ≈ EOFF.
Por último, puede observarse que el número relativo de bits, NREL, se mantiene estable
hasta que el error de offset comienza a crecer con la radiación. La evolución de este parámetro se
muestra en fig. 9.15 y en estas gráficas se aprecia que la evolución es suave durante la mayor
parte de la irradiación aunque, a veces, se producen saltos bruscos hacia valores más bajos.
9.3.2 Relación Entrada-Salida
Para hallar una explicación del comportamiento de los conversores, es necesario observar
cómo es la relación entrada-salida de estos conversores, que se muestra en fig. 9.16a-d. En ellas,
se han dibujado estas relaciones para diversos valores de radiación.
La figura correspondiente al conversor MX7541 es bastante explícita y permite
comprender qué le ocurrió a los conversores. Inicialmente, la relación entrada-salida es un línea