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UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

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CAPITULO 4<br />

TOPOLOGÍAS INTERNAS <strong>DE</strong> UN AMPLIFICADOR<br />

OPERACIONAL Y DISPOSITIVOS RELACIONADOS<br />

Los dos capítulos anteriores se centraron en el estudio del daño que puede producir la<br />

radiación en los materiales y componentes electrónicos más básicos. El paso natural que se ha de<br />

dar a continuación es el estudio del comportamiento de componentes electrónicos complejos<br />

frente a la radiación.<br />

A lo largo de los próximos capítulos, se van a presentar los resultados obtenidos al irradiar<br />

diferentes componentes como amplificadores operacionales, de instrumentación, referencias de<br />

tensión, etc. Las muestras fueron irradiadas en el reactor de investigación del Instituto<br />

Tecnológico e Nuclear de Portugal. El reactor, que se describe con detalle en el capítulo 5 de esta<br />

memoria, produce un haz de neutrones con energías del orden de 1 MeV junto con una cierta<br />

dosis de radiación gamma residual. En todas las campañas de irradiación se intentó que el flujo<br />

de neutrones en el centro de la cavidad fuera del orden de 5·10 13 n·cm -2 . En la mayor parte de los<br />

casos, este valor se alcanzaba al cabo de 60 h de irradiación siendo la dosis gamma residual del<br />

orden de 1500 Gy en las muestras centrales.<br />

Este capítulo versará sobre las estructuras internas típicas de un amplificador operacional<br />

cuando se diseñan en tecnología bipolar. A partir de estas topologías, se relacionarán las no<br />

idealidades de los amplificadores operacionales con las propiedades físicas de los componentes<br />

internos sencillos. Posteriormente, se estudiarán circuitos integrados complejos en los que se<br />

haya hecho uso de amplificadores operacionales, como amplificadores de instrumentación,<br />

referencias de tensión y conversores digital-analógicos.<br />

El concepto de amplificador operacional fue introducido en 1947 por Ragazzini et alt<br />

[Rag47]. En dicho artículo, los autores describían las propiedades de circuitos realimentados en<br />

los que estuvieran presentes amplificadores diferenciales de ganancia muy elevada e impedancia<br />

de entrada infinita. Este trabajo se basaba en una investigación llevada a cabo entre 1943 y 1944<br />

en el National Defense Research Council del gobierno de los Estados Unidos de América. Los<br />

primeros amplificadores operacionales fueron construidos con válvulas de vacío y, a partir de<br />

1948, con transistores bipolares.<br />

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