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UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

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Capítulo 3<br />

3.6.4 Efectos del la radiación ionizante en los transistores bipolares.<br />

Los transistores bipolares son dispositivos electrónicos en los que el transporte de corriente<br />

se lleva a cabo mediante los portadores minoritarios. Estos apenas son afectados por la dosis<br />

total de radiación ionizante por lo que los transistores bipolares son muy resistentes a este tipo de<br />

radiación. Sólo hay dos efectos que son dignos de reseñar cuando un transistor bipolar sufre la<br />

acción de la radiación ionizante.<br />

En primer lugar, cuando un transistor bipolar sufre la acción de este tipo de radiación, se va<br />

a crear un exceso de portadores minoritarios que darán lugar a fotocorrientes en las uniones PN<br />

del transistor, que desaparecen cuando la irradiación cesa. Asimismo, estas corrientes pueden<br />

modelarse como fuentes de corriente constantes en paralelo con las uniones PN del transistor y<br />

estudiar el comportamiento del transistor en este caso. Esta técnica puede aplicarse incluso a<br />

circuitos integrados construidos en tecnología bipolar (Fig. 3.19).<br />

Fig. 3.19: Referencia de tensión de tipo band-gap en el que se<br />

han incorporado fuentes de corriente de origen fotoeléctrico en<br />

las uniones BC inversamente polarizadas [Dev02].<br />

El segundo efecto es más duradero pues está relacionado con las componentes de corriente<br />

aparecidas entre la interfaz del silicio y el óxido de protección. Como se vio en el caso de la<br />

unión PN, la acumulación de cargas en el óxido de protección conlleva la aparición de una nueva<br />

componente de corriente entre la base y el emisor. Si la dosis es alta, se produce un aumento de<br />

las corrientes de generación-recombinación a causa del aumento de la anchura de la región de<br />

vaciamiento. Sin embargo, el efecto de ambas corrientes es similar. Ya se vio en el apartado<br />

anterior que el incremento de las corrientes de generación-recombinación producido por la<br />

disminución del tiempo de vida media de los portadores minoritarios inducía un descenso en el<br />

valor de hFE. A pesar de que el origen de las corrientes parásitas es diferente en el caso de que un<br />

transistor sea irradiado con radiación ionizante, el efecto es similar. En un transistor bipolar se<br />

espera una reducción del valor de la ganancia en corriente similar al mostrado en fig. 3.20.<br />

Asimismo, se predice una leve disminución del máximo valor de la ganancia si hay daño por<br />

62<br />

Fig. 3.20: Ganancia h FE de un transistor irradiado con<br />

radiación ionizante. Puede observarse el descenso de la<br />

ganancia en la zona de pequeños valores de la corriente de<br />

base.

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