UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

Efectos de la radiación sobre amplificadores de instrumentación en tecnología bipolar
generaban una señal tan distorsionada en la salida que fue imposible medir con seguridad el
valor de slew rate y la frecuencia de caída 3dB. Por todos estos motivos, sólo se pudieron
obtener datos fiables del modelo INA110.
Fig. 7.7 muestra la evolución de cada uno de los parámetros a medida que se produce la
irradiación. Se ha preferido representar la relación entre los valores finales y el inicial para poder
superponer todos los datos en la misma gráfica. Los valores iniciales eran f-3dB,G=10 = 2 MHz,
f-3dB,G=100 = 470 MHz y S.R. = 17 V/µs. Puede apreciarse que se produce un descenso en los
valores de los parámetros a medida que aumenta el flujo de neutrones. Este descenso es más
acusado cuanto mayor sea la ganancia en continua del amplificador.
La explicación de esta evolución es sencilla, pues está relacionado con la degradación en
frecuencia de los amplificadores individuales. Obviamente, cuanto peor sea la respuesta en
frecuencia de los amplificadores operacionales, peor será la de un sistema formado por
componentes de este tipo. Por esta causa, los amplificadores de instrumentación irradiados
pierden respuesta en frecuencia. De la misma manera, si el valor de slew rate disminuye con la
radiación en los amplificadores operacionales discretos, deberá ocurrir lo mismo con los
amplificadores operacionales integrados en circuitos complejos. A consecuencia de esto, se
produce una disminución del slew rate del amplificador de instrumentación. Por otra parte, a
pesar de que este parámetro se mide en la salida del amplificador operacional 3, no debe
entenderse que el valor de slew rate sea el de este amplificador. Es fácil comprender que el valor
de slew rate es igual al del amplificador operacional con respuesta más lenta.
Por otra parte, en el capítulo anterior se demostró que el comportamiento en frecuencia de
los amplificadores operacionales empeora a causa de la radiación ionizante. Por tanto, los
amplificadores de instrumentación también son susceptibles de sufrir este fenómeno, hecho que
ha sido descrito en algunos trabajos anteriores [Guc01].
7.6 Ganancia y Relación Entrada-Salida
Durante la irradiación, se midió la ganancia diferencial de los amplificadores de
instrumentación. Para ello, se realizaron barridos de tensión entre ±10 mV con paso de 1 mV en
ambas entradas para determinar la ganancia de cada una de ellas y, a partir de estos resultados, la
ganancia diferencial. Asimismo, también podía obtenerse la ganancia del modo común aunque,
en la práctica, los márgenes de error eran tan grandes que era imposible obtener un valor fiable
de la ganancia en modo común y se ha desistido de realizar su representación y estudio.
7.6.1 Evolución de la ganancia diferencial
Debido a su pronta destrucción, apenas se obtuvieron datos referentes a los modelos
AD620, INA116 e INA118. En cambio, los otros modelos pudieron ser caracterizados en
profundidad. En general, se observó que la ganancia de los amplificadores de instrumentación
decrecía en todos los modelos excepto en el amplificador INA114. En los otros modelos
(AD624, INA110, INA111 e INA121) se comprobó que, durante la primera parte de la
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