UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

Capítulo 2
Debido a la incertidumbre de este mecanismo, es necesario estudiarlo desde un punto de
vista puramente estadístico. A diferencia de otros daños por ionización, se prefiere utilizar una
magnitud llamada “Transferencia Lineal de Energía” (Linear Energy Transfer ó LET). Esta
magnitud mide la energía que deposita una partícula por unidad de masa y volumen del material
y por longitud recorrida. El valor de esta magnitud depende de la partícula incidente, de su
energía y del tipo de blanco y se suele medir en MeV·cm -2 ·mg -1 . Asimismo, existe una
dependencia con la inclinación del haz de partículas incidentes. Se cumple que el número de
sucesos aislados que pueden producirse en un dispositivo [Den00] es igual a:
N=S·Φ·cos(α) (2.21)
Siendo Φ el flujo total de partículas, α el ángulo que forma el haz con la dirección que
produce el máximo número de sucesos aislados (Fig. 2.6) y S la sección eficaz del suceso aislado
que es, a su vez, función de LET. Fig. 2.7 muestra un ejemplo del valor de S en función de LET
[MA97]. Como puede observarse, existe un valor mínimo para producir un suceso aislado
llamado LET umbral y que, a partir de cierto valor de LET, la sección eficaz se satura en su
máximo valor. Los sucesos aislados son más frecuentes en tecnologías altamente integradas
puesto que, en este caso, es más sencillo conectar los puntos sensibles del circuito integrado.
Fig. 2.6: Definición de ángulo α del haz con la dirección
de mayor número de sucesos aislados
Fig. 2.7: Sección eficaz de un suceso aislado en función
de LET. Se observa que es necesario un mínimo valor de
LET y que la sección eficaz tiende asintóticamente a un
valor.
Los sucesos aislados se clasifican en las categorías de leves o graves en función de la
magnitud del daño que provocan. Los errores leves pueden ser corregidos mediante el reiniciado
del sistema o por técnicas de redundancia o voto en circuitos digitales [Ang00]. También se
consideran errores leves los pulsos espúreos que se producen en circuitos analógicos. Los errores
graves conducen a la destrucción del dispositivo.
2.5.1 Errores Leves: Single Event Upset (SEU), Multiple Bit Upset (MBU) y
Single Event Functional Interrupt (SEFI)
Se produce el fenómeno de SEU cuando una partícula atraviesa una celda de memoria de
un circuito digital (p. e., una RAM) y el rastro de portadores creados produce un cambio en el
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