UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

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Capítulo 6 Apex no se hallaron cambios significativos y lo mismo puede decirse del desplazamiento de la tensión de saturación positiva del amplificador OPA541A. En cambio, sí se hallaron cambios significativos en los valores asociados a la tensión de saturación negativa de este último dispositivo, que se muestran en fig. 6.28. Indudablemente, este comportamiento está asociado al hecho de que la salida es tipo A aunque se carecen de suficientes datos como para poder elaborar una explicación de la causa. 200
CAPITULO 7 EFECTOS <strong>DE</strong> LA RADIACIÓN SOBRE AMPLIFICADORES <strong>DE</strong> INSTRUMENTACIÓN EN TECNOLOGÍA BIPOLAR A pesar de que los amplificadores operacionales discretos son utilizados ampliamente en el diseño de sistemas electrónicos, en algunas circunstancias es preferible integrar el amplificador y su red de realimentación en un mismo dispositivo para mejorar sus cualidades. Un ejemplo característico de ello es el amplificador de instrumentación, cuya estructura se estudió en el capítulo cuarto. En el capítulo que comienza, se mostrarán los resultados obtenidos al irradiar diversos amplificadores de instrumentación, tanto comerciales como construidos a partir de componentes discretos tolerantes a la radiación. Posteriormente, se discutirán los datos experimentales al combinar los fenómenos descritos en el capítulo 6 con el desarrollo teórico realizado en ap. 4.4. 7.1 Modelos irradiados y tolerancia a la radiación Se probaron diversos modelos de amplificadores de instrumentación, fabricados por las compañías Burr-Brown y Analog Devices, cuyos nombres y características se muestran en la tabla 7.1. La mayor parte de los amplificadores examinados se basan en la estructura clásica de tres amplificadores operacionales, descrita en ap. 4.4.1, excepto el amplificador AD620, basado en la estructura de fig. 4.29b. Asimismo, se examinaron estructuras clásicas de tres amplificadores operacionales construidas con componentes discretos. Para ello, se emplearon amplificadores OPA627 y TLE2071, cuyas altas tolerancias se mostraron en el capítulo anterior. Durante la irradiación, se midieron la tensión de offset de la salida y las ganancias de ambas entradas. Las dosis de radiación que recibieron los componentes fueron similares a las alcanzadas en los amplificadores operacionales examinados en el apartado anterior. 201
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Agradecimientos Es tradicional que
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Resumen Esta memoria afronta el pro
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