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UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

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Capítulo 2<br />

D) Nivel de inyección de portadores: El nivel de Fermi del semiconductor también puede<br />

verse afectado por la presencia de un exceso de portadores en el semiconductor. Se conoce<br />

una relación experimental entre el valor de la constante de daño en un semiconductor tipo n<br />

y la densidad de corriente que lo atraviesa:<br />

K<br />

2<br />

6 1.94· J + 7700· J·5309<br />

τ , n = − 3 2<br />

1.23·10 ·[1.68 ]<br />

J + 3.13· J + 6280· J + 3410<br />

(2.6)<br />

midiéndose J en A/cm 2 . Fig. 1.3 muestra el valor de esta función en función de la corriente<br />

que atraviesa el material. Esta ecuación podría normalizarse de tal forma que valiese 1<br />

cuando J = 0 y se podría combinar con (2.4) para saber el valor de Kτ,n en función del<br />

dopado y de la corriente que lo atraviesa. Fig. 1.3a y 1.3b, tomadas del [MA92], muestra el<br />

valor de Kτ,x en función de su dopado, resistividad y nivel de inyección de portadores.<br />

E) Temperatura: Las expresiones anteriores no son válidas si las impurezas no están<br />

completamente ionizadas (bajas temperaturas) ni cuando un semiconductor dopado se<br />

comporta de forma intrínseca (altas temperaturas). Se han hallado relaciones entre Kt y la<br />

temperatura pero son tan farragosas que no son muy utilizadas.<br />

(a) (b)<br />

Fig. 2.3: (a) Valores experimentales de Kτ en función del tipo de semiconductor, de su resistividad y del nivel de inyección<br />

[MA92, p. 218]. (b) Constante de daño en función del valor de la densidad de corriente del semiconductor.<br />

Otro efecto provocado por el daño por desplazamiento es la reducción de la concentración<br />

de portadores mayoritarios [Mes92]. En los semiconductores tipo n, los portadores mayoritarios<br />

son los electrones y éstos pueden ser capturados por los centros A y E (divacantes, centros<br />

vacante-donante). En los semiconductores tipo p, sólo los centros A pueden eliminar portadores.<br />

Por esta causa, la desaparición de portadores es más rápida en los semiconductores tipo n que en<br />

los tipo p. Se ha comprobado experimentalmente la eliminación de portadores en Si, AsGa<br />

[MA92], Ge [Cha73] y en InP [Mes98]. El valor de la concentración de portadores en un<br />

semiconductor tipo n es:<br />

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