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PHOTONIQUE POUR LES LASERS À CASCADE QUANTIQUE ...

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tel-00740111, version 1 - 9 Oct 2012<br />

CHAPITRE 5 . RÉDUCTION DE L’ÉPAISSEUR<br />

libre Meep [84] (MIT Electromagnetic Equation Propagation). La réflectivité<br />

induite peut alors être obtenue en fonction du facteur de qualité ainsi<br />

calculé en utilisant la relation suivante :<br />

<br />

Ri = exp<br />

− 4πneffLf<br />

c Q<br />

<br />

(5.7)<br />

Où neff est l’indice effectif du mode, f sa fréquence, L la longueur de la<br />

cavité et c la célérité de la lumière.<br />

On peut comparer la valeur de la réflectivité induite ainsi calculée à<br />

celle obtenue de manière plus simple, en utilisant les indices effectifs du<br />

mode métal métal et du mode métal / région active / air. L’indice effectif du<br />

guide métal métal est de 3.6 et celui du mode métal / région active /air peut<br />

être calculé facilement en utilisant les matrices de transfert (cf. chapitre<br />

3). La réflectivité (en énergie) calculée en utilisant les indices effectifs est<br />

alors donnée par :<br />

2 3.6 − neff,MRA<br />

Rindice effectif =<br />

(5.8)<br />

3.6 + neff,MRA<br />

où neff,MRA est l’indice effectif du guide métal / région active / air. La valeur<br />

maximale de la réflectivité calculée en utilisant les indices effectifs est alors<br />

R = (3.6 − 1) 2 /(3.6 + 1) 2 = 0.32<br />

La figure 5.3 présente la réflectivité induite calculée en utilisant la géométrie<br />

définie dans la figure 5.2 ainsi que la réflectivité simplifiée obtenue<br />

en utilisant les indices effectifs. Les deux courbes ne se superposent pas,<br />

ainsi la réflectivité induite ne peut pas être calculée en simplifiant la structure<br />

par les indices effectifs correspondant. Cela provient du mismatch<br />

entre les modes qui ne peut pas être décrit en utilisant les indices effectifs.<br />

Plus la structure va être fine, plus cette réflectivité induite par la géométrie<br />

du métal va être grande. Elle dépasse même la valeur maximale<br />

obtenue en utilisant les indices effectifs pour des épaisseurs inférieur à 7<br />

µm (pour une longueur d’onde de 111 µm). C’est à dire qu’en deçà de<br />

cette épaisseur, il n’est plus possible d’obtenir une telle réflectivité pour un<br />

interface entre du GaAs massif et un autre diélectrique.<br />

Nous verrons dans le prochain chapitre que la réflectivité induite peut<br />

être utilisée pour des microdisques laser. Pour cela nous utiliserons des<br />

structures fines qui permettent d’avoir une réflectivité induite importante.<br />

La réflectivité induite peut aussi servir de brique de base pour construire<br />

des structures photoniques (cf chapitres 7 et 8). L’effet étant plus important<br />

pour les structures fines, nous verrons dans le prochain paragraphe<br />

comment Michaël Bahriz a montré qu’elle peut engendrer un gap complet<br />

dans des structures photoniques.<br />

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