PHOTONIQUE POUR LES LASERS À CASCADE QUANTIQUE ...
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tel-00740111, version 1 - 9 Oct 2012<br />
CHAPITRE 5 . RÉDUCTION DE L’ÉPAISSEUR<br />
libre Meep [84] (MIT Electromagnetic Equation Propagation). La réflectivité<br />
induite peut alors être obtenue en fonction du facteur de qualité ainsi<br />
calculé en utilisant la relation suivante :<br />
<br />
Ri = exp<br />
− 4πneffLf<br />
c Q<br />
<br />
(5.7)<br />
Où neff est l’indice effectif du mode, f sa fréquence, L la longueur de la<br />
cavité et c la célérité de la lumière.<br />
On peut comparer la valeur de la réflectivité induite ainsi calculée à<br />
celle obtenue de manière plus simple, en utilisant les indices effectifs du<br />
mode métal métal et du mode métal / région active / air. L’indice effectif du<br />
guide métal métal est de 3.6 et celui du mode métal / région active /air peut<br />
être calculé facilement en utilisant les matrices de transfert (cf. chapitre<br />
3). La réflectivité (en énergie) calculée en utilisant les indices effectifs est<br />
alors donnée par :<br />
2 3.6 − neff,MRA<br />
Rindice effectif =<br />
(5.8)<br />
3.6 + neff,MRA<br />
où neff,MRA est l’indice effectif du guide métal / région active / air. La valeur<br />
maximale de la réflectivité calculée en utilisant les indices effectifs est alors<br />
R = (3.6 − 1) 2 /(3.6 + 1) 2 = 0.32<br />
La figure 5.3 présente la réflectivité induite calculée en utilisant la géométrie<br />
définie dans la figure 5.2 ainsi que la réflectivité simplifiée obtenue<br />
en utilisant les indices effectifs. Les deux courbes ne se superposent pas,<br />
ainsi la réflectivité induite ne peut pas être calculée en simplifiant la structure<br />
par les indices effectifs correspondant. Cela provient du mismatch<br />
entre les modes qui ne peut pas être décrit en utilisant les indices effectifs.<br />
Plus la structure va être fine, plus cette réflectivité induite par la géométrie<br />
du métal va être grande. Elle dépasse même la valeur maximale<br />
obtenue en utilisant les indices effectifs pour des épaisseurs inférieur à 7<br />
µm (pour une longueur d’onde de 111 µm). C’est à dire qu’en deçà de<br />
cette épaisseur, il n’est plus possible d’obtenir une telle réflectivité pour un<br />
interface entre du GaAs massif et un autre diélectrique.<br />
Nous verrons dans le prochain chapitre que la réflectivité induite peut<br />
être utilisée pour des microdisques laser. Pour cela nous utiliserons des<br />
structures fines qui permettent d’avoir une réflectivité induite importante.<br />
La réflectivité induite peut aussi servir de brique de base pour construire<br />
des structures photoniques (cf chapitres 7 et 8). L’effet étant plus important<br />
pour les structures fines, nous verrons dans le prochain paragraphe<br />
comment Michaël Bahriz a montré qu’elle peut engendrer un gap complet<br />
dans des structures photoniques.<br />
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