UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

Tabla 4.I. Distintos tipos de SPMs
Formación a escala molecular de soluciones sólidas
SPMs Y TÉCNICAS ASOCIADAS UTILIDADES PRINCIPALES
• Scanning Tunneling Microscope (STM) Generación de imágenes tridimensionales de
superficies conductoras y semiconductoras con
resolución atómica.
• Atomic Force Microscope (AFM) Obtención de la topografía de una superficie a escala
atómica.
• Lateral Force Microscope (LFM) Medición de variaciones de la fricción debidas a
cambios de material o de la pendiente.
• Magnetic Force Microscope (MFM) Información sobre las propiedades magnéticas de la
muestra.
• Force Modulation Microscope (FMM) Caracterización de las propiedades elásticas de la
muestra.
• Phase Detection Microscope (PDM) Captación de variaciones de propiedades superficiales
como elasticidad, adhesión y fricción.
• Electrostatic Force Microscopy (EFM) Localización de distintos dominios con distinta carga en
• Scanning Capacitance Microscope
(SCM)
la muestra.
Medición de variaciones espaciales en la capacitancia.
• Thermal Scanning Microscope (TSM) Medición de la conductividad térmica.
• Near-field Scanning Optical
Microscopy (NSOM)
Mejora la resolución de un microscopio óptico
tradicional en 1 orden de magnitud.
• Nanolitografia Manipulación de la superficie de la muestra.
4.1.2.- Fundamentos de la microscopía de fuerza atómica
4.1.2.1.- Funcionamiento general del AFM
Un microscopio de fuerza atómica posee una punta aguda, generalmente de unas
pocas micras de longitud y un diámetro inferior a los 100Å, que se encuentra
montada sobre una pieza de metal flexible o fleje (“cantilever”). Con ayuda de un
ordenador, la punta se aproxima lentamente a la muestra situada sobre un
escáner piezoeléctrico, el cual realiza un movimiento vibratorio en las direcciones
75