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UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

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muestra<br />

muestra<br />

Formación a escala molecular de soluciones sólidas<br />

punta fuerza<br />

punta<br />

Trayectoria de la punta<br />

fuerza<br />

Trayectoria de la punta<br />

Figura 4.5. Comparación entre los modos de operación de altura constante (a)<br />

y fuerza constante (b).<br />

Normalmente un AFM registra tanto las señales de altura como las de<br />

flexión lateral (ver Lateral Force Microscope, tabla 4.I), las cuales pueden<br />

originarse bien por variaciones en la fricción superficial producidas por un cambio<br />

de material, bien por cambios de la pendiente (figura 4.6). Para separar ambos<br />

efectos es necesario, por tanto obtener simultáneamente imágenes de LFM y<br />

AFM.<br />

81<br />

a<br />

b

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