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UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID

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4.1.2.2.- Elementos principales de un AFM<br />

Formación a escala molecular de soluciones sólidas<br />

El límite de resolución que alcanza un AFM depende críticamente de tres<br />

elementos: el escáner piezoeléctrico, el fleje y la punta. Los materiales con<br />

propiedades piezoeléctricas son aquellos que cambian de dimensiones en<br />

respuesta a un voltaje aplicado y pueden diseñarse para que realicen un<br />

movimiento deseado en las direcciones X, Y y Z. Los escáneres piezoeléctricos<br />

de un AFM (figura 4.2a) están fabricados a partir de polvo cerámico de titanato de<br />

plomo y zirconio al que se le añaden determinados dopantes, con lo que se<br />

consigue una optimización de las propiedades piezoeléctricas y, por consiguiente,<br />

un movimiento perfectamente controlado según el esquema de la figura 4.2b. La<br />

línea de barrido puede tener una longitud comprendida entre varias decenas de<br />

angstroms hasta mas de 100 micras pudiéndose obtener desde 64 hasta 512<br />

puntos de información por línea. En la dirección vertical, el escáner puede captar<br />

variaciones de altura desde un rango de subangstroms hasta 10 micras.<br />

x<br />

-y<br />

a b<br />

-x<br />

y<br />

Dirección lenta<br />

comienzo<br />

dirección rápida<br />

Figura 4.2. Esquema del escáner piezoeléctrico y su movimiento.<br />

{<br />

paso<br />

Los flejes y sus puntas son los otros componentes fundamentales del<br />

sistema. La figura 4.3a muestra una imagen de un fleje obtenida con un<br />

microscopio electrónico de barrido. Ambos componentes están fabricados de<br />

77<br />

fin

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