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Streuung von Röntgenstrahlen an selbstorganisierten Halbleiter ...

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102 6 SiGe/Si Inselstrukturen<br />

entspricht, so dass m<strong>an</strong> auch über Bereiche <strong>von</strong> mehreren mm 2 <strong>von</strong> einem sehr hohen Maß <strong>an</strong><br />

Verzahnung der Ketten ausgehen k<strong>an</strong>n.<br />

-1<br />

q [-110] [A ]<br />

0.004<br />

0.002<br />

0<br />

-0.002<br />

-0.004<br />

6.3.1.2 Solitärketten<br />

A<br />

K 100<br />

K 110<br />

Ab B<br />

-0.004 -0.002 0 0.002 0.004 -0.004 -0.002 0 0.002 0.004<br />

-1<br />

q [110] [A ]<br />

-1<br />

q [110] [A ]<br />

Abb. 6-25: (A) Powerspektrum (6-3) des Höhenprofils aus Abb. 6-24 und (B)<br />

Schnitt durch die diffus gestreute Intensität in der Nähe des reziproken Ursprungs<br />

gemessen in GISAXS Geometrie. Die Anordnung der Inseln in Ketten führt in<br />

beiden Fällen zu ausgeprägten Korrelationspeaks (K 100) entl<strong>an</strong>g der 〈100〉<br />

Richtungen. Darüber hinaus existiert durch die Verzahnung der Ketten ein ausgezeichneter<br />

Abst<strong>an</strong>d entl<strong>an</strong>g 〈110〉, der zu zusätzlichen Korrelationspeaks (K 110) in<br />

diesen Richtungen Anlaß gibt. Der spekulare Strahl wurde durch einen Absorber<br />

(Ab) stark gedämpft.<br />

∆q HRXRD 0.0014Å -1<br />

∆q PS 0.0027Å -1<br />

∆q GISAXS 0.0028Å -1<br />

〈110〉 〈100〉<br />

0.0022Å -1<br />

0.0020Å -1<br />

0.0021Å -1<br />

Tab. 6-1: Probe 1082. Gemessene Abstände der Korrelationspeaks unterein<strong>an</strong>der<br />

entl<strong>an</strong>g der 〈110〉 und 〈100〉 Richtung in Weitwinkelbeugung (HRXRD), Kleinwinkelstreuung<br />

(GISAXS) und im Powerspektrum (PS).<br />

3.8<br />

3.6<br />

3.4<br />

3.2<br />

3.0<br />

2.8<br />

2.6<br />

2.4<br />

log (I)<br />

In Abb. 6-26 ist die Oberflächenmorphologie der Probe 1005x mit nominell 30% Germ<strong>an</strong>ium<br />

abgebildet. Auch hier wurde die Höhenskala so gewählt, dass nur Teilgebiete, die sich mindestens<br />

10 nm über die Substratoberfläche erheben, als schwarze Objekte sichtbar sind. Wie in Abb. 6-24<br />

kommt es zur Ausbildung <strong>von</strong> Inselketten entl<strong>an</strong>g 〈100〉 allerdings mit einem kleineren mittleren<br />

Insel-Insel-Abst<strong>an</strong>d<br />

AFM<br />

d I −I<br />

100 <strong>von</strong> 195 nm und dem Unterschied, dass sich fast alle Inseln genau<br />

einer Kette zuordnen lassen. Ein Verzahnen der Ketten liegt hier nicht vor. Als charakteristische<br />

Länge in den AFM Bildern taucht zusätzlich der Abst<strong>an</strong>d der Ketten unterein<strong>an</strong>der<br />

der naturgemäß deutlich größer als<br />

AFM<br />

d I −I<br />

AFM<br />

d 100 K −K<br />

auf,<br />

100 sein muß und darüber hinaus eine breitere Verteilung

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