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Streuung von Röntgenstrahlen an selbstorganisierten Halbleiter ...

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[MLH99] P.D.Miller,C-P.Liu, W.L.Henstrom, J.M.Gibson, Y.Hu<strong>an</strong>g, P.Zh<strong>an</strong>g,<br />

T.I.Kamins, D.P.Basile, R.S.Williams<br />

Direct measurement of strain in a Ge isl<strong>an</strong>d on Si(001)<br />

Appl. Phys. Lett. 75, 46 (1999)<br />

[MNM87] P.M.J.Marée, K.Nakagawa, F.M.Mulders, J.F. v<strong>an</strong> der Veen, K.L.Kav<strong>an</strong>agh<br />

Surf. Science 191, 305 (1987)<br />

[MSS01] M.Meixner, E.Schöll, M.Schmidbauer, H.Raidt, R.Köhler<br />

Formation of isl<strong>an</strong>d chains in SiGe/Si heteroepitaxy by elastic <strong>an</strong>isotropy<br />

Phys. Rev. B 64, 245307 (2001)<br />

[HiH01] Hiroshi Okada, Hideki Hasegawa<br />

Novel Single Electron Memory Device Using Metal N<strong>an</strong>o-Dots <strong>an</strong>d Schottky In-Pl<strong>an</strong>e Gate<br />

Qu<strong>an</strong>tum Wire Tr<strong>an</strong>sistors<br />

Jap. J. Appl. Phys. Part 1 40 (4B), 2797 (2001)<br />

[OKS92] B.G.Orr, D.Kessler, C.W.Snyder, L.S<strong>an</strong>der<br />

A Model for Strain-Induced Roughening <strong>an</strong>d Coherent Isl<strong>an</strong>d Growth<br />

Europhys. Lett. 19, 33 (1992)<br />

[ONG97] C.S.Ozk<strong>an</strong>, W.D.Nix, H.Gao<br />

Strain relaxation <strong>an</strong>d defect formation in heteroepitaxial Si 1-xGe x films via surface roughening<br />

induced by controlled <strong>an</strong>nealing experiments<br />

Appl. Phys. Lett. 70, 2247 (1997)<br />

[PeF00] G.S.Pearson, D.A.Faux<br />

Analytical solutions for strain in pyramidal qu<strong>an</strong>tum dots<br />

J. Appl. Phys. 88, 730 (2000)<br />

[PKW98] C.Pryor, J.Kim, L.W.W<strong>an</strong>g, A.J.Williamson, A.Zunger<br />

Comparison of two methods for describing the strain profiles in qu<strong>an</strong>tum dots<br />

J. Appl. Phys. 83, 2548 (1998)<br />

[PSB00] G. Patriarche, I. Sagnes, P. Boucaud, V. Le Th<strong>an</strong>h, D. Bouchier, C. Hern<strong>an</strong>dez,<br />

Y. Campidelli, D. Bensahel<br />

Strain <strong>an</strong>d composition of capped Ge/Si self-assembled qu<strong>an</strong>tum dots grown by chemical vapor<br />

deposition<br />

Appl. Phys. Lett. 77, 370 (2000)<br />

[Pyn92] R.Pynn<br />

Neutron scattering by rough surfaces at grazing incidence<br />

Phys. Rev. B 45, 602 (1992)<br />

[RPM99] M.Rauscher, R.P<strong>an</strong>iago, H.Metzger, Z.Kovats, J.Domke, J.Peisl, H.-D.Pf<strong>an</strong>nes,<br />

J.Schulze, I.Eisele<br />

Grazing incidence small <strong>an</strong>gle x-ray scattering from free-st<strong>an</strong>ding n<strong>an</strong>ostructures<br />

J. Appl. Phys. 86, 6763 (1999)<br />

[SBF96] A.Saitta, F.Buda, G.Fiumara, P.Giaquinta<br />

Ab initio molecular-dynamics study of electronic <strong>an</strong>d optical properties of silicon qu<strong>an</strong>tum wires:<br />

Orientational effects<br />

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