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Streuung von Röntgenstrahlen an selbstorganisierten Halbleiter ...

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6.3 Insel-Insel-Korrelation 99<br />

Anistropie in den III-V und II-VI-Verbindungen erklären [ShB99]. Nahezu perfekte 3-dimensionale<br />

Anordnungen <strong>von</strong> Inselstrukturen lassen sich im System PbSe/PbEuTe, bei dem die<br />

Anistropie besonders stark 43 ausgeprägt ist, herstellen [SHP98]. Diese führt zu Vererbungsrichtungen,<br />

die <strong>von</strong> der Wachstumsrichtung unabhängig sind und im Fall <strong>von</strong> PbSe Inseln zu einer<br />

fcc-Struktur mit einer Schichtabfolge ABCABC führen [HSP99]. Der extrem hohe Ordnungsgrad<br />

sowohl vertikal als auch lateral erlauben die Applikation <strong>von</strong> PbSe/PbEuTe in Qu<strong>an</strong>tenpunktlasern<br />

des mittleren Infrarot [SSH01].<br />

In Kap. 6.2 st<strong>an</strong>den Form, Komposition und die dar<strong>an</strong> eng geknüpfte lokale Verteilung des<br />

Deformationsfeldes einer einzelnen Insel im Vordergrund. Völlig unberücksichtigt dagegen blieben<br />

durch <strong>Streuung</strong> <strong>an</strong> einem Ensemble <strong>von</strong> Objekten hervorgerufene Interferenzeffekte. Sobald die<br />

Anordnung der Objekte einem zumindest teilweise periodischen Muster unterliegt und die Kohärenzlänge<br />

der Strahlung größer oder zumindest in der Größenordnung dieser Überstruktur ist, muß<br />

sich diese in der Messung wiederfinden. Sowohl bei linearen Strukturen [DZH98]als auch für<br />

Qu<strong>an</strong>tenpunkte [HSP99]wurden solche Beiträge zum Streusignal genutzt, um Informationen zu<br />

lateraler und vertikaler Korrelation zu gewinnen. Die spezielle Anordnung der Inseln liefert bei den<br />

Messungen in der Nähe des CTR Beiträge zur Intensität in den Abb. 6-4 bis Abb. 6-7, die sich als<br />

Oszillationen mit fester lateraler Periode zeigen. Der Abst<strong>an</strong>d ∆q dieser Satellitenreflexe im<br />

reziproken Raum ist über<br />

2π<br />

∆ q =<br />

(6-2)<br />

d<br />

mit dem mittleren Abst<strong>an</strong>d 〈d〉 der Objekte im Ortsraum verknüpft. Da alle hier untersuchten<br />

Proben Inseln in nur einer Schicht enthalten, wird diese Beziehung nur für die laterale Komponenten<br />

verwendet, wenngleich (6-2) auch für vertikale Anordnungen seine Gültigkeit beibehält.<br />

Der Umst<strong>an</strong>d, dass Korrelationspeaks besonders deutlich bei den symmetrischen Reflexen<br />

ausgeprägt waren, liegt <strong>an</strong> der Tatsache, dass bei den untersuchten asymmetrischen Reflexen der<br />

PSD nahezu senkrecht zur Oberfläche st<strong>an</strong>d und die Korrelationspeaks in der unmittelbaren<br />

Umgebung des CTR in der (notwendigen) Schwächung durch Absorber nicht auszumachen sind.<br />

Dass sie jedoch auch im asymmetrischen Fall präsent sind, beweist die in Abb. 6-9B vorgestellte<br />

Messung des -404 Reflexes <strong>an</strong> Probe 1005x, für die bewußt die Wellenlänge λ vergrößert wurde,<br />

um einen größeren Beugungswinkel und damit einen größeren Austrittswinkel zu realisieren.<br />

6.3.1 Vergleichende Untersuchungen mittels GISAXS und AFM<br />

Zunächst soll in diesem Unterkapitel die Charakterisierung <strong>von</strong> Insel-Insel-Korrelation mittels<br />

Atomkraftmikroskopie (AFM) und Kleinwinkelstreuung unter kleinen Ein- und Austrittswinkeln<br />

(GISAXS) <strong>an</strong>h<strong>an</strong>d zweier Proben beide Methoden vergleichend diskutiert werden. In dem<br />

folgenden Unterkapitel wird eine den experimentellen Kohärenzlängen bei der Beugung <strong>an</strong>gepaßte<br />

in-pl<strong>an</strong>e Korrelationsfunktion konstruiert. Dabei dient das System SiGe/Si mit seinen <strong>an</strong> der<br />

2 c<br />

43Als Maß für die Anisotropie läßt sich im kubischen System ein Anisotropiefaktor H = c44<br />

+ c12<br />

− 11 definieren, der für<br />

isotrop verteilte elastische Eigenschaften den Wert 0 <strong>an</strong>nimmt. Für Silizium beträgt dieser 57.4 GPa, für PbTe: - 77.8 GPa [LaB84].

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