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Streuung von Röntgenstrahlen an selbstorganisierten Halbleiter ...

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120 7 InP/InGaP Qu<strong>an</strong>tenpunkte<br />

lationen für die gesamte Insel konst<strong>an</strong>t gehalten wurde. Der Schichtpeak in den Simulationen ergibt<br />

für die Komponenten des Deformationstensors 〈ε 110〉 = (5.0±0.5)×10 -3 und 〈ε 1-10〉 = (8.7±0.5)×10 -3 ,<br />

woraus für das aus der Simulation bestimmte mittlere Verhältnis 〈α〉 simu=1.71 folgt.<br />

Die Neigung der in der Simulation modellierten Facetten <strong>von</strong> 15.64° und 25.02° sind ein starkes<br />

Indiz für das Vorh<strong>an</strong>densein <strong>von</strong> Typ {115} (15.79°) und {113}-Facetten (25.24°). Im Unterschied<br />

zu der <strong>von</strong> Ballet et.al. [BSY00] gefundenen Form, besitzen die Inseln der untersuchte Probe<br />

keine Deckfacette.<br />

-1<br />

q 001 [A ]<br />

3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 0.0 -0.5 -1.0<br />

4.40 4.40<br />

4.35 4.35<br />

4.30 4.30<br />

4.25 4.25<br />

4.20 4.20<br />

4.15<br />

4.15<br />

4.10<br />

0-44<br />

404<br />

4.10<br />

404<br />

4.35 4.40 4.45 4.35 4.40 4.45<br />

4.35 4.40 4.45<br />

-1<br />

q 0-10 [A ]<br />

log (I)<br />

6.5<br />

6.0<br />

5.5<br />

A I CTR B<br />

Z<br />

5.0<br />

4.5<br />

4.0<br />

-1 -1<br />

q 100 [A ]<br />

q 100 [A ]<br />

Abb. 7-4: (A) Gemessene diffus gestreute Intensität in der Nähe der 0-44 und 404<br />

Gitterpunkte. Die Messung erfolgte exklusive des Substratreflexes, der bei<br />

q 100=q 0-10=q 001=4.445Å -1 auftreten würde und in der Messung zu den bereits<br />

diskutieren Intensitätsverteilung senkrecht zur Oberfläche CTR und dem Streak (Z)<br />

führt. (B) Simulationen der diffusen Intensität für eine In 0.83Ga 0.17P Insel<br />

(w 110=50nm, w 1-10=30nm, h=7nm) auf einer <strong>an</strong> GaAs gitter<strong>an</strong>gepaßten<br />

In 0.48Ga 0.52P Pufferschicht.<br />

In Abb. 7-4A sind die gemessenen Intensitäten in der Nähe der beiden äquivalenten Reflexe 0-44<br />

und 404 dargestellt. Auch hier wurde der GaAs-Substratreflex nicht mitvermessen. Die hohe Intensität<br />

bei Erfüllung der Braggbedingung am Substrat führt wie bei den vor<strong>an</strong>gestellten Messungen zu<br />

dem bereits erwähnten Artefakt (Z), der Truncation Rod (CTR) erscheint als starke Intensitätslinie<br />

senkrecht zur Oberfläche durch den Substratreflex. Die Inselreflexe (I) erscheinen im Unterschied<br />

zum Reflexpaar 113/1-13 bei der gleichen Position im reziproken Raum (q 0-10=4.408Å -1 und<br />

q 100=4.409Å -1 ), was auf eine Äquivalenz der beiden 〈100〉 Richtungen schließen läßt. D<strong>an</strong>eben, in<br />

Abb. 7-4B, findet sich eine Simulation des 404 Reflexes für eine freistehende In 0.83Ga 0.17P Insel<br />

3.5

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