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Streuung von Röntgenstrahlen an selbstorganisierten Halbleiter ...

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6.1 Inselform 71<br />

Signal unter der Voraussetzung homogener Inseln, multiplikativ aus zwei Anteilen zusammensetzt:<br />

einem Anteil, der die Form der Einzelinsel berücksichtigt und einem Korrelations<strong>an</strong>teil, der die<br />

Anordnung der Objekte berücksichtigt. Vorab wollen wir uns auf den ersten Term, der<br />

Fouriertr<strong>an</strong>sformierten der Inselform, beschränken, um in Kap. 6.3 auf die Bestimmung der in-pl<strong>an</strong>e<br />

Korrelationsfunktion G(q || ) näher einzugehen.<br />

q [A ]<br />

-1<br />

001<br />

0.04<br />

0.02<br />

0<br />

A<br />

F B<br />

-0.04 -0.02 0.00 0.02 0.04 -0.02 0.00 0.02<br />

-1<br />

q 110 [A ]<br />

-1<br />

q 100 [A ]<br />

Abb. 6-2: Innerhalb der [110]- (A) und [100]-Zone (B) simuliertes Betragsquadrat<br />

der Formfunktion<br />

( FT )<br />

Insel<br />

2<br />

Ω (q)<br />

für eine wie in Abb. 5-1 dargestellte Insel mit einer<br />

Basis <strong>von</strong> 130 nm und einer Höhe <strong>von</strong> 65 nm. (A) enthält unter einem Winkel <strong>von</strong><br />

54.7° die durch den Abbrucheffekt verursachten Truncation Rods (F) senkrecht zu<br />

den {111} Inselfacetten. (B) zeigt<br />

Ω<br />

( FT )<br />

Insel<br />

(q)<br />

2<br />

X<br />

in einem um 45° gedrehten Schnitt<br />

entl<strong>an</strong>g [100]. Da die 〈101〉 Inselk<strong>an</strong>ten im regularisierten Inselmodell in kleine<br />

{110} Flächen zerfallen, besitzen diese eine endliche Breite und führen zu einem<br />

intensitätsschwachen künstlichen Truncation Rod (X) unter 45°.<br />

9<br />

8<br />

7<br />

6<br />

log (I)<br />

Abb. 6-2 zeigt zwei simulierte 2-dimensionale Schnitte durch das Betragsquadrat der 3-dimensionalen<br />

Formfunktion für eine Einzelinsel mit einer Basisbreite <strong>von</strong> 130 nm und einer Höhe <strong>von</strong><br />

65 nm, wobei der Knotenabst<strong>an</strong>d in der Insel der vierfachen Gitterkonst<strong>an</strong>ten <strong>von</strong> Silizium entspricht.<br />

Die Schnitte befinden sich in den beiden Ebenen, die durch [001] und [110] (Teilbild A)<br />

und [001] und [100] (Teilbild B) aufgesp<strong>an</strong>nt werden. 30 Die Inselfacetten führen in Bild A entl<strong>an</strong>g<br />

den 〈111〉 Richtungen zu Facettenrods (F), die unter einem Winkel <strong>von</strong> 54.7° zur Kristalloberfläche<br />

verlaufen. Wegen der begrenzten Größe der Insel sind diese in ihrer Intensität mit einer Periode<br />

δq 110=0.005Å -1 moduliert, woraus m<strong>an</strong> auf die mittlere laterale Abmessung der Inseln über<br />

B=2π/δq 110=126 nm rückschließen k<strong>an</strong>n. Diese Modulationen werden einzig durch die Form einer<br />

Insel hervorgerufen und dürfen nicht mit den experimentell beobachteten Korrelationspeaks verwechselt<br />

werden, die einen vergleichbaren lateralen Abst<strong>an</strong>d haben, sofern der Inselabst<strong>an</strong>d in die<br />

Größenordnung der Inselabmessungen kommt. In Teilbild B fehlen die Facettenrods, da in dieser<br />

Beugungsebene keine Flächen die Insel begrenzen. Trotzdem kommt es zu diffuser Intensität (X),<br />

30 Die gezeigte Intensitätsskala ergibt sich aus der phasenrichtigen Summation der Amplituden und der <strong>an</strong>schließenden<br />

Betragsbildung. Deshalb sind die überstrichenen Größenordnungen nur in relativer Hinsicht mit der Messung vergleichbar. Zum<br />

einen liegt das <strong>an</strong> der Tatsache, dass die Amplitude der einfallenden Welle in der Simulation 1 gesetzt wurde, zum <strong>an</strong>deren hängt<br />

die simulierte Intensität natürlich <strong>von</strong> der Anzahl der Streuer selbst und damit entscheidend <strong>von</strong> der Schrittweite des verfeinerten<br />

Netzes ab.

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