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Streuung von Röntgenstrahlen an selbstorganisierten Halbleiter ...

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104 6 SiGe/Si Inselstrukturen<br />

lationspeaks (K 100) treten hier auch Maxima (K 110) entl<strong>an</strong>g 〈110〉 auf. Der<br />

spekulare Strahl wurde durch einen Absorber (Ab) stark geschwächt.<br />

Die in GISAXS Geometrie bei Ein- und Austrittswinkeln <strong>von</strong> 0.19° und 0.36° aufgenommene<br />

Intensitätsverteilung in Abb. 6-27B bestätigt diesen Befund. Darüber hinaus treten hier jedoch<br />

auch Korrelationspeaks (K 110) entl<strong>an</strong>g 〈110〉 auf. Die Ergebnisse aus Powerspektrum, GISAXS und<br />

Weitwinkelbeugung sind in Tab. 6-2 zusammengefaßt.<br />

〈110〉 〈100〉<br />

∆q HRXRD 0.0020Å -1 0.0033Å -1<br />

∆q PS - 0.0021Å -1<br />

∆q GISAXS 0.0039Å -1 0.0032Å -1<br />

Tab. 6-2: Probe 1005x. Gemessene Lage der Korrelationspeaks entl<strong>an</strong>g 〈110〉 und<br />

〈100〉 in Weitwinkelbeugung, Kleinwinkelstreuung und Powerspektrum. Die Angaben<br />

bei PS und GISAXS verstehen sich als grobe Abschätzung, da eine genaue<br />

Bestimmung der Lage nicht möglich ist.<br />

Zunächst fällt auf, dass auch hier die Integration senkrecht zur Beugungsebene bei HRXRD<br />

innerhalb der [110]-Zone zu etwa 2 -kleineren Abständen führt als innerhalb der [100]-Zone.<br />

Erstaunlich hingegen ist, dass abgesehen <strong>von</strong> dieser Projektion sowohl in GISAXS als auch in<br />

HRXRD in 〈110〉 Richtung überhaupt Korrelationspeaks auftreten, 45 da diese im Powerspektrum<br />

gänzlich fehlen. Daraus läßt sich schlußfolgern, dass die gezeigte Oberflächenmorphologie, wie sie<br />

mittels AFM lokal bestimmt wurde und damit Grundlage des Powerspektrum ist, zumindest für<br />

einige Probenbereiche untypisch sein muß. Das erklärt auch die mit HRXRD und GISAXS be-<br />

stimmten Werte in 〈100〉 Richtung, die um den Faktor 1.5 <strong>von</strong> der Peakposition im Powerspektrum<br />

abweichen.<br />

6.3.2 Berücksichtigung <strong>von</strong> Ordnung in Simulationen<br />

Der hochgradig geordnete Inselverb<strong>an</strong>d der Probe 1082 erweist sich als das perfektere und damit<br />

geeignetere Objekt, um <strong>an</strong> ihm den Einfluß <strong>von</strong> Korrelation auf die diffuse Intensität genauer zu<br />

untersuchen. Im folgenden wird eine Methode vorgestellt, die laterale Korrelation der Inseln in<br />

Simulationen der diffusen Intensität in der Nähe symmetrischer Reflexe zu berücksichtigen. Dabei<br />

dient das System SiGe/Si als ein Modellsystem, <strong>an</strong> dem ausgezeichnet getestet werden k<strong>an</strong>n, in<br />

welcher Form die Mittelung in der Korrelationsfunktion G(q), siehe (5-28), zu erfolgen hat, da die<br />

begrenzte experimentelle Kohärenzlänge ein differenzierteres Bild erzwingt. Während m<strong>an</strong> für die<br />

Fouriertr<strong>an</strong>sformation der Inselpositionen aus AFM im Prinzip ein beliebig großes Ensemble<br />

her<strong>an</strong>ziehen k<strong>an</strong>n, bewirkt die begrenzte experimentell realisierte Kohärenz den Verlust der<br />

Phaseninformation auf Längenskalen jenseits der Kohärenzlänge. Dies k<strong>an</strong>n in den Simulationen<br />

durch eine kohärente Aufsummation über Bereiche, die einer kohärenten Strahlung ausgesetzt sind<br />

45 Neben der Projektion existiert mindestens eine Ordnung „echter“ Korrelationspeaks in 〈110〉 Richtung.

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