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Streuung von Röntgenstrahlen an selbstorganisierten Halbleiter ...

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1 Einführung<br />

Sobald die Bewegung <strong>von</strong> Ladungsträgern in einem <strong>Halbleiter</strong> auf Dimensionen unterhalb der de-<br />

Broglie-Wellenlänge beschränkt ist, führen Qu<strong>an</strong>tisierungseffekte im Gegensatz zum unendlich ausgedehnten<br />

Festkörper auf diskrete Energieniveaus. Grenzt m<strong>an</strong> die Beweglichkeit in allen drei<br />

Dimensionen ein, entstehen sogen<strong>an</strong>nte Qu<strong>an</strong>tenpunkte. Dabei unterliegen die Ladungsträger<br />

neben dem räumlichen Confinement einer starken Coulomb Wechselwirkung. Ihrer besonderen<br />

elektronischen und optischen Eigenschaften wegen können mit Qu<strong>an</strong>tenpunkten eine g<strong>an</strong>ze Reihe<br />

neuer technologischer Anwendungen wie Einzelelektronentr<strong>an</strong>sistoren [IsH97],–speicherbauelemente<br />

[HiH01] und Qu<strong>an</strong>tenpunktlaser [BGH01] realisiert werden. Neben der Unterschreitung<br />

einer bestimmten geometrischen Größe sind für die Applikation <strong>von</strong> Qu<strong>an</strong>tenpunkten in<br />

optischen und elektronischen Bauelementen noch mindestens zwei weitere Forderungen zu<br />

erfüllen. Erstens bedarf es mit Rücksicht auf eine geringe Dispersion der zu erzielenden<br />

Eigenschaften einer hohen Konformität der Objekte, und zweitens müssen Rekombinationszentren,<br />

wie sie durch Fehl<strong>an</strong>passungsversetzungen gebildet werden, unbedingt vermieden werden.<br />

Neben aufwendigen lithographischen Verfahren zeigt die Bildung <strong>von</strong> Str<strong>an</strong>ski-Krast<strong>an</strong>ow Inseln<br />

durch elastischen Abbau <strong>von</strong> Deformationsenergie beim heteroepitaktischen Wachstum einen sehr<br />

eleg<strong>an</strong>ten Weg zur Herstellung geordneter nulldimensionaler Strukturen auf, die die vor<strong>an</strong>gestellten<br />

Forderungen hinreichend gut erfüllen. Dabei kommt dem Gitterparameterunterschied zwischen<br />

Schicht und Substrat insofern eine Schlüsselrolle für die erreichbaren Dimensionen der Objekte zu,<br />

als dass mit zunehmend unterschiedlichem Gitterparameter die sich ausbildenden Inseln immer<br />

kleinere Ausmaße aufweisen [Dor98]. Die während des zunächst pl<strong>an</strong>aren Wachstums<br />

<strong>an</strong>gesammelte Deformationsenergie k<strong>an</strong>n in einem folgenden Wachstumsstadium über die Bildung<br />

<strong>von</strong> Oberflächenverwellungen [CAM96] und später durch die Ausbildung <strong>von</strong> teils facettierten<br />

Inseln auf Kosten einer erhöhten Oberflächenenergie wieder abgebaut werden. Dabei bleibt die<br />

Kohärenz des Kristallgitters <strong>an</strong> der Phasengrenze unterhalb einer bestimmten Schichtdicke erhalten<br />

[EaC90], und erst in einem späteren Stadium können sich Fehl<strong>an</strong>passungsversetzungen bilden.<br />

Durch die vermittelnde Wirkung des die Inseln umgebenden Deformationsfeldes können sich<br />

Inselensembles außerordentlich hoher lateraler Ordnung herausbilden [SWR98], die durch das<br />

vertikale Abscheiden mehrerer heteroepitaktischer Schichten überein<strong>an</strong>der noch forciert werden<br />

k<strong>an</strong>n [SHP98].<br />

Der Wunsch nach gezielter Beeinflussung elektronischer und optischer Eigenschaften künstlicher<br />

wie auch selbstorg<strong>an</strong>isierter Strukturen erfordert Charakterisierungsmethoden, die Aussagen zu<br />

Gestalt und Größe, chemischer Zusammensetzung und Deformationszust<strong>an</strong>d im Inneren machen<br />

können. Darüber hinaus lassen sich aus Konzentrations- und Deformationsprofilen indirekt<br />

Rückschlüsse auf das Wachstum selbst ziehen. Konkret wurde in der vorliegenden Arbeit die<br />

zerstörungsfreie Untersuchung <strong>von</strong> Str<strong>an</strong>ski-Krast<strong>an</strong>ow Inseln in den Systemen SiGe/Si(001) und<br />

InP/InGaP/GaAs(001) betrieben. Dabei lag der Schwerpunkt auf hochaufgelöster Röntgenstreuung,<br />

begleitet <strong>von</strong> Untersuchungen mit den direktabbildenden Verfahren Atomkraft- und<br />

Rasterelektronenmikroskopie. <strong>Streuung</strong> kollimierter Röntgenstrahlung in Kombination mit<br />

entsprechenden Simulationen ist eine etablierte Methode zur Charakterisierung heteroepitaktischer

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