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Streuung von Röntgenstrahlen an selbstorganisierten Halbleiter ...

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42 3 Beugung <strong>von</strong> <strong>Röntgenstrahlen</strong><br />

direkt bestätigt werden. Bei Erhöhung des Einfallswinkels verkleinert sich die projizierte<br />

Kohärenzlänge, so dass die Beugungsordnungen bei immer kleineren d eff verschwinden.<br />

L T<br />

L L<br />

Kohärenzvolumen<br />

α i<br />

L/<br />

T sin α i<br />

L/cos<br />

L α i<br />

Abb. 3-3: Entscheidend für den Streuprozeß sind die kohärent ausgeleuchteten<br />

Gebiete auf der Probe, mithin die Projektionen L T/sin α i und L L/cos α i. Für sehr<br />

kleine Einfallswinkel k<strong>an</strong>n die Projektion der tr<strong>an</strong>sversalen Kohärenzlänge sehr<br />

große Werte <strong>an</strong>nehmen.<br />

Für die hochaufgelöste Beugung spielen die Projektionseigenschaften der Kohärenzlänge jedoch<br />

nur eine untergeordnete Rolle. In Kap. 6.3 wird zur Beschreibung der <strong>Streuung</strong> <strong>an</strong> SiGe Inselensembles<br />

eine modifizierte in-pl<strong>an</strong>e Korrelationsfunktion konstruiert, die die endliche Kohärenzlänge<br />

durch eine phasengerechte Summation der Streubeiträge innerhalb kohärent beleuchteter<br />

Gebiete berücksichtigt. Auf größeren Längenskalen besteht zwischen den Phasen der gestreuten<br />

Wellen keine feste Beziehung, so dass die Summation nur über Intensitäten - ohne Phaseninformation<br />

- erfolgt.

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