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Streuung von Röntgenstrahlen an selbstorganisierten Halbleiter ...

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7 InP/InGaP Qu<strong>an</strong>tenpunkte<br />

Über die Strukturen auf SiGe Basis hinaus wurden im Rahmen dieser Arbeit die Untersuchungen<br />

auf freistehende InP Inseln auf InGaP/GaAs(001) ausgedehnt. Dabei konnte gezeigt werden, dass<br />

der vorgestellte Apparat zur kinematischen Simulation der diffus gestreuten Intensitäten unter<br />

Berücksichtigung der mittels Finiter Elemente berechneten Deformationsfelder auch für kleinere<br />

freistehende Objekte bis hinab zu einigen 10 nm richtige Resultate liefert. Die am weitesten<br />

verbreitete Wachstumsmodus zur Herstellung <strong>von</strong> selbstorg<strong>an</strong>isierten Qu<strong>an</strong>tenpunkten im Gebiet<br />

der III-V Verbindungshalbleiter ist die Züchtung <strong>von</strong> Str<strong>an</strong>ski-Krast<strong>an</strong>ow (S-K) Inseln. Dabei<br />

zeigen die entstehenden Strukturen abhängig <strong>von</strong> Material, Wachstumsmethode und –bedingungen<br />

eine große Formenvielfalt. Beispielhaft sei hier neben dem System InP/InGaP die Herstellung <strong>von</strong><br />

S-K Inseln in den Systemen InAs/InGaAs [MGI94], GaSb/GaAs [HLG95], InSb/InP<br />

[UAP97] AlInAs/AlGaAs [FLL94] aufgeführt.<br />

Die Qu<strong>an</strong>tenpunkte im System InP/InGaP bilden aufgrund der etwa doppelt so großen B<strong>an</strong>dlücke<br />

im Vergleich zu InAs/InGaAs ein Pend<strong>an</strong>t zu diesen für den l<strong>an</strong>gwelligen Bereich des sichtbaren<br />

Lichtes <strong>von</strong> etwa 630 nm bis 700 nm [KES95]. Seit der Demonstration <strong>von</strong> Lumineszenz <strong>an</strong><br />

InP/InGaP Qu<strong>an</strong>tenpunkten [STL96], [ZJP98] wurden erhebliche Anstrengungen zum Verständnis<br />

des Wachstums dieser Strukturen unternommen. Dabei offenbarten sich eine g<strong>an</strong>ze Reihe<br />

unterschiedlicher Morphologien. Ballet et.al. [BSY00] bestimmten mittels STM die Form mittels<br />

MBE gezüchteter InP Inseln zu Inseln mit (001) Deckfacette und quadratischem Grundriß. Die<br />

Seitenfacetten werden <strong>von</strong> {113} Flächen gebildet. Mit molekularer Gasphasenepitaxie (MOVPE)<br />

gezüchtete Inseln weisen im TEM Bild ebenfalls Pyramidenstümpfe allerdings mit einer sechseckigen<br />

Basis auf, deren Ausdehnungen in [110] und [1-10] etwa 60 nm und 45 nm betragen bei<br />

einer Höhe <strong>von</strong> 12 nm bis 18 nm [GCS95]. Die Insel bildenden Flächen sind vom Typ {001},<br />

{110} und {111}. Untersuchungen der Photolumineszenz <strong>an</strong> ebenfalls MOVPE gezüchteten InP<br />

Inseln konnten eine Elongation entl<strong>an</strong>g [110] bestätigen [ZJP01], während mit Gasphasen MBE<br />

(GSMBE) hergestellte Inseln eine inverse Asymmetrie mit der l<strong>an</strong>gen Seiten entl<strong>an</strong>g [1-10]<br />

aufweisen [SRN99].<br />

7.1 Form- und Größenbestimmung<br />

Die in dieser Arbeit untersuchten Proben wurden am Lehrstuhl für Elementar<strong>an</strong>regungen und<br />

Tr<strong>an</strong>sport in Festkörpern (Prof. T.Masselink) der Humboldt-Universität <strong>von</strong> Frau Hatami mittels<br />

GSMBE auf GaAs(001) Substraten gezüchtet. Nach dem Aufbringen einer bei 500°C und einer<br />

Wachstumsgeschwindigkeit <strong>von</strong> 0.9 µm/h gewachsenen 100 nm dicken GaAs Pufferschicht<br />

wurden bei 415°C eine zu GaAs gitter<strong>an</strong>gepaßte In0.48Ga0.52P Schicht abgeschieden, die <strong>an</strong> der<br />

Oberfläche eine (2×1) Rekonstruktion aufweist, die mit RHEED nachgewiesen werden konnte.<br />

Anschließend wurden bei 410°C mehrere Monolagen InP gewachsen.

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