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Streuung von Röntgenstrahlen an selbstorganisierten Halbleiter ...

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5 Numerische Streurechnungen für monodisperse<br />

mesoskopische Systeme<br />

Im Kap. 3 wurden verschiedene Her<strong>an</strong>gehensweisen zur Lösung der Wellengleichung vorgestellt.<br />

Unter ihnen zeichnet sich der kinematische Ansatz durch eine numerisch vergleichsweise leicht<br />

umzusetzende Einfachheit aus. Zur Berechnung der Streuintensitäten müssen dafür, neben der<br />

chemischen Zusammensetzung, die Positionen r der Streuer selbst bek<strong>an</strong>nt sein, für elastisch<br />

relaxierte Strukturen also der Deformationstensor ε ij(r). Kap. 5.1 gibt einen kurzen, <strong>an</strong> den praktischen<br />

Bedürfnissen orientierten Einblick in die Methode der Finiten Elemente (FEM), mit der im<br />

Rahmen dieser Arbeit ε ij(r) numerisch berechnet wurde. Da FEM mit variierenden Zellgrößen<br />

arbeitet, die zudem noch größer als der atomare Gitterabst<strong>an</strong>d sind, k<strong>an</strong>n das so gewonnene Feld<br />

nicht direkt für die Streurechnung verwendet werden. Die notwendige Netzverfeinerung und<br />

-regularisierung wird in Kap. 5.2 besprochen. Schließlich wird die allgemein gehaltene Formulierung<br />

der kinematischen <strong>Streuung</strong> aus Kap. 3.2.1, in der die Verschiebungen noch implizit in den<br />

Positionen r der Streuer berücksichtigt werden, für das konkret vorliegende Problem der <strong>Streuung</strong><br />

<strong>an</strong> mesoskopischen Inseln in Kap. 5.3 <strong>an</strong>gepaßt. Dabei zeigt sich, dass die diffus gestreute<br />

Intensität in Beugung durch Deformationsfeld und Formfunktion, in einem Kleinwinkelstreuexperiment<br />

nur durch die Formfunktion bestimmt ist. In diesem Zusammenh<strong>an</strong>g werden Effekte<br />

durch Positionskorrelation der Inseln in Konsequenz einer erweiterten Formfunktion für ein<br />

Inselensemble diskutiert.<br />

5.1 Die Methode der Finiten Elemente<br />

Analytische Ansätze zur Bestimmung des Deformationsfeldes in versp<strong>an</strong>nten Strukturen existieren<br />

z.B. für pl<strong>an</strong>are Schichten [BlM67], in vergrabenen [FDO97] und freistehenden [ShK97]<br />

Qu<strong>an</strong>tendrähten, für Hut Cluster [SSE96] und rotationssymmetrische Inselstrukturen<br />

[KaP01]. Im allgemeinen bleibt jedoch ein <strong>an</strong>alytisches Vorgehen Problemen vorbehalten, die<br />

sich hinreichend vereinfacht darstellen lassen. Darüber hinaus gibt es Versuche, unter der Annahme<br />

isotroper elastischer Konst<strong>an</strong>ten das Deformationsfeld in vergrabenen pyramidalen Qu<strong>an</strong>tenpunkten<br />

[PeF00] und in SiGe/Ge Übergittern [HDS98] <strong>an</strong>alytisch zu berechnen. Es gibt bis<br />

jetzt jedoch keine <strong>an</strong>alytischen Lösungs<strong>an</strong>sätze für das Deformationsfeld komplexerer Gebilde wie<br />

sie z.B. facettierte SiGe Inseln darstellen, die die elastische Anisotropie berücksichtigen. Dagegen<br />

wurden abhängig vom Umf<strong>an</strong>g verschiedene numerische Wege zu dessen Bestimmung beschritten:<br />

(a) Sehr kleine Systeme mit wenigen 10 bis 100 Atomen können ab-initio qu<strong>an</strong>tenmech<strong>an</strong>isch<br />

berechnet werden. Beispielsweise wurden solche Rechnungen für Qu<strong>an</strong>tendrähte und<br />

Cluster mit bis zu 100 Atomen durchgeführt [BKP92], [SBF96]. Trotz ras<strong>an</strong>ter<br />

Fortschritte bei der Entwicklung immer leistungsfähigerer Computer bleibt diese Methode<br />

auf kleine Systeme beschränkt, wenngleich sie ein nahezu vollständige Beschreibung in<br />

Hinblick auf die elektronischen und mech<strong>an</strong>ischen Eigenschaften liefert. Sie ist jedoch<br />

nicht applikabel für die in dieser Arbeit untersuchten Strukturen mit lateralen<br />

Ausdehnungen in der Größenordnung <strong>von</strong> 100 nm.

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