05.11.2012 Aufrufe

Streuung von Röntgenstrahlen an selbstorganisierten Halbleiter ...

Streuung von Röntgenstrahlen an selbstorganisierten Halbleiter ...

Streuung von Röntgenstrahlen an selbstorganisierten Halbleiter ...

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.

YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.

134 9 Literaturverzeichnis<br />

Tr<strong>an</strong>smission electron microscopy investigation of the morphology of InP Str<strong>an</strong>ski-Krast<strong>an</strong>ow<br />

isl<strong>an</strong>ds grown by metalorg<strong>an</strong>ic chemical vapor deposition<br />

Appl. Phys. Lett. 67, 2981 (1995)<br />

[GSB95] M.Grundm<strong>an</strong>n, O.Stier, D.Bimberg<br />

InAs/GaAs pyramidal qu<strong>an</strong>tum dots: Strain distribution, optical phonons, <strong>an</strong>d electronic<br />

structure<br />

Phys. Rev. B 52, 11969 (1995)<br />

[GSB00] J.M.Garcia, J.P.Silveira, F.Briones<br />

Strain relaxation <strong>an</strong>d segregation effects during self-assembled InAs qu<strong>an</strong>tum dots formation on<br />

GaAs(001)<br />

Appl. Phys. Lett. 77, 409 (2000)<br />

[HAS92] P.O.H<strong>an</strong>sson, M.Albrecht, H.P.Strunk, E.Bauser, J.H.Werner<br />

Thin Solid Films 216, 199 (1992)<br />

[HDS98] V.Holý, A.A.Darhuber, J.St<strong>an</strong>gl, S.Zerlauth, F.Schäffler, G.Bauer, N.Darowski,<br />

D.Lübbert, U.Pietsch, I.Vávra<br />

Copl<strong>an</strong>ar <strong>an</strong>d grazing incidence x-ray diffraction investigation of self-org<strong>an</strong>ized SiGe qu<strong>an</strong>tum<br />

dot multilayers<br />

Phys. Rev. B 58, 7934 (1998)<br />

[HiL82] J.P.Hirth, J.Lothe<br />

Theory of Dislocations<br />

Wiley, New York (1982)<br />

[HKO93] V.Holý, J.Kubena, I.Ohlidal, K.Lischka, W.Plotz<br />

X-ray reflection from rough layered systems<br />

Phys. Rev. B 47, 15896 (1993)<br />

[HLD89] M.A.G.Halliwell, M.H.Lyons, S.T.Davey, M.Hockly, C.G.Tuppen, C.J.Gibbings<br />

Estimation of percentage relaxation in Si/Si 1-xGe x strained-layer superlattices<br />

Semi. Sci. Tech. 4, 10 (1989)<br />

[HLG95] F.Hatami, N.N.Ledentsov, M.Grundm<strong>an</strong>n, J.Bohrer, Z.I.Alferov<br />

Radiative recombination in type-II GaSb/GaAs qu<strong>an</strong>tum dots<br />

Appl. Phys. Lett. 67, 656 (1995)<br />

[HMK00] F.Hatami, U.Müller, H.Kissel, K.Braune, R.-P.Blum, S.Rogaschewski, H.Niehus,<br />

H.Kirmse, W.Neum<strong>an</strong>n, M.Schmidbauer, R.Köhler, W.T.Masselink<br />

Pl<strong>an</strong>ar ordering of InP qu<strong>an</strong>tum dots on (100) In 0.48Ga 0.52P<br />

J. Cryst. Growth 216, 26 (2000)<br />

[HoB78] J.Hornstra, W.J.Bartels<br />

Determination of the lattice const<strong>an</strong>t of epitaxial layers of III-V compounds<br />

J. Cryst. Growth 44, 513 (1978)<br />

[Hön33a] H.Hönl<br />

Zeitschrift für Physik 84, 1 (1933)<br />

[Hön33b] H.Hönl

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!