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Streuung von Röntgenstrahlen an selbstorganisierten Halbleiter ...

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106 6 SiGe/Si Inselstrukturen<br />

Speckle-Muster 46 (Sp) überlagert wird. Dieses nimmt auch für große laterale Impulsüberträge q 100<br />

nicht ab. Es wurden für verschieden mächtige Ensemble <strong>von</strong> zwei bis 1094 Inseln, die Intensitäten<br />

simuliert, ohne dass sich qualitativ <strong>an</strong> dem gezeigten Beugungsbild etwas ändert.<br />

Die endliche Kohärenzlänge erfordert eine Modifikation insofern, als dass innerhalb kohärent beleuchteter<br />

Gebiete die Amplituden phasenrichtig zu summieren sind, darüber hinaus inkohärent,<br />

das heißt die Summation erfolgt d<strong>an</strong>n über Intensitäten. (6-4) schreibt sich d<strong>an</strong>n:<br />

I<br />

total<br />

diffus<br />

single<br />

||<br />

[ iqR<br />

] = I ( q)<br />

( q )<br />

( q) A ( q)<br />

exp m G<br />

= ∑ ∑<br />

∀n m∈En<br />

diffus<br />

2<br />

Die inkohärente Summe erstreckt sich über verschiedene Ensembles n. Für einen Test wurden aus<br />

dem Ensemble in Abb. 6-28A mehrere Kind-Ensembles erzeugt, indem zu jeder AFM-bestimmten<br />

Position ein zufälliger jedoch nach oben beschränkter Wert entl<strong>an</strong>g einer 〈100〉 Richtung addiert<br />

wurde. In Abb. 6-29A ist der Prozeß der Ensembleerzeugung schematisiert dargestellt. (I) kennzeichnet<br />

die Inselpositionen im Ur-Ensemble und (II) die Inselpositionen nach einer Verrückung<br />

entl<strong>an</strong>g einer Inseldiagonalen.<br />

[100]<br />

I<br />

II<br />

-1<br />

q 001 [A ]<br />

4.58<br />

4.56<br />

4.54<br />

A 4.52<br />

diffus<br />

-0.02 0.00<br />

-1<br />

q 100 [A ]<br />

0.02<br />

(6-5)<br />

Abb. 6-29: (A) Die aus AFM bestimmten Inselpositionen (I) eines einzigen<br />

Inselarrays bestimmter Größe dienen als Grundlage zur Erzeugung einer Anzahl <strong>von</strong><br />

Kind-Ensembles, die durch Addition eines zufälligen Wertes zu jeder Inselposition<br />

entl<strong>an</strong>g der 〈100〉 Richtungen entstehen. (B) Simulierte diffus gestreute Intensität in<br />

der Nähe des 004 Gitterpunktes. Ausgehend <strong>von</strong> den Amplituden der <strong>Streuung</strong> einer<br />

Einzelinsel (130 nm Basisbreite bei einer Höhe 65 nm) und einem 33 Inseln<br />

enthaltenden Ur-Ensemble wurden 1000 Kind-Ensembles durch Addition eines zufälligen<br />

maximalen Offsets <strong>von</strong> 20 nm entl<strong>an</strong>g 〈100〉 generiert. Innerhalb eines<br />

Ensembles wurden die Amplituden aufaddiert. Anschließend wurden die Intensitäten<br />

inkohärent über alle Kind-Ensembles summiert. Die Verschiebung zu höheren<br />

K<br />

B<br />

14<br />

13<br />

12<br />

11<br />

log (I)<br />

46 Ein Speckle-Muster repräsentiert die gesamte Struktur ohne jede Mittelung. Experimentell konnten solche Muster u.a. <strong>an</strong> optischen<br />

Gittern beobachtet [LSM98] werden.

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