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Streuung von Röntgenstrahlen an selbstorganisierten Halbleiter ...

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18 2 Epitaktisches Wachstum<br />

Bi-Schmelze<br />

Si<br />

Ge (gelöst)<br />

Kohlenstoff-<br />

Schmelztiegel<br />

Bi+Si+Ge<br />

Si-Substrat<br />

A<br />

SiGe-<br />

Schicht<br />

Abb. 2-5: Slide-Boat-Technik (A) Sättigungsphase der Schmelze. In Teilschritt (B)<br />

wird die mit Silizium und Germ<strong>an</strong>ium gesättigte Lösung über dem Substratmaterial<br />

abgekühlt, wobei es zur Abscheidung der Komponenten kommt.<br />

Unter Wasserstoffatmosphäre wiegt m<strong>an</strong> in einem ersten Schritt im Lösungsmittel eine bestimmte<br />

Ge-Menge ein. Anschließend wird die Lösung über einem Siliziumvorrat mit Silizium gesättigt.<br />

Etwa 30 minütiges Erhitzen des Substrates auf ca. 930°C führt in-situ zur Desorption des Siliziumoxids.<br />

Nach vollständiger Sättigung (A) der Schmelze mit Silizium wird diese auf die Züchtungstemperatur<br />

<strong>von</strong> etwa 600°C abgekühlt und für mehrere Stunden homogenisiert, um einen<br />

möglichst gleichgewichtsnahen Zust<strong>an</strong>d zu erreichen. Gewöhnlich liegt die Züchtungstemperatur<br />

Null bis 2 Kelvin unter der Sättigungstemperatur. Durch horizontales Verschieben des Tiegels<br />

positioniert m<strong>an</strong> die Schmelze direkt über dem zu bewachsenden Substratmaterial (B). Nach<br />

Durchlaufen eines vorgegebenen Temperaturintervalles wird die Schmelze <strong>von</strong> der Probe entfernt<br />

und auf Raumtemperatur abgekühlt.<br />

2.4 Phänomenologische Aspekte des Str<strong>an</strong>ski-Krast<strong>an</strong>ow Modus<br />

2.4.1 Überg<strong>an</strong>g Oberflächenverwellung zu Inseln<br />

Die Entstehung einer dreidimensionalen Oberflächenstrukturierung wird getrieben durch den<br />

Versuch, die bei der Heteroepitaxie entstehenden Sp<strong>an</strong>nungen möglichst effektiv abzubauen. Das<br />

k<strong>an</strong>n elastisch entweder durch eine Verwellung der Oberfläche (Rippling) oder durch die Bildung<br />

dreidimensionaler Inselstrukturen erfolgen. Dabei spielt das Vorzeichen der Versp<strong>an</strong>nung eine<br />

entscheidende Rolle. Nur unter Drucksp<strong>an</strong>nung stehende Schichten neigen zu Rippling mit <strong>an</strong>schließender<br />

Inselbildung, wie am Beispiel Si 0.5Ge 0.5/Si(001) und Si 0.5Ge 0.5/Ge(001) demonstriert<br />

wurde, während Schichten unter Zugsp<strong>an</strong>nung zu einer Glättung der Oberfläche tendieren<br />

[XGR94].<br />

B

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