Estudio de parámetros atómicos y moleculares en ... - FaMAF
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Capítulo 7: Determinación <strong>de</strong> Secciones Eficaces <strong>de</strong> Ionización <strong>en</strong> capas K para C, O, Si, Al y Ti ____________<br />
ecuación (7.4)–, parámetros <strong>de</strong> calibración (ganancia y cero), parámetros <strong>de</strong> ancho <strong>de</strong> picos (ruido<br />
electrónico y Fano) y el espesor <strong>de</strong>l óxido superficial <strong>en</strong> el caso <strong>de</strong> las películas metálicas.<br />
Posteriorm<strong>en</strong>te, se ajustó el fondo y el parámetro α <strong>en</strong> una zona <strong>de</strong> amplitud aproximadam<strong>en</strong>te <strong>de</strong> 500<br />
eV alre<strong>de</strong>dor <strong>de</strong>l pico característico a estudiar. A la expresión (7.5) para el cálculo <strong>de</strong>l error <strong>de</strong> la<br />
sección eficaz se le sumó <strong>en</strong> cuadratura el error relativo <strong>de</strong> α arrojado por el programa, el cual está<br />
ligado a errores <strong>de</strong>l ajuste. De todas maneras, el error relativo <strong>de</strong> α resultó <strong>en</strong> todos los casos m<strong>en</strong>or<br />
que el 0,8%, lo cual es <strong>de</strong>spreciable fr<strong>en</strong>te al resto <strong>de</strong> las incertezas involucradas <strong>en</strong> (7.5).<br />
Int<strong>en</strong>sidad [nº <strong>de</strong> cu<strong>en</strong>tas]<br />
10 4<br />
10 3<br />
C-Kα<br />
10 5 Film <strong>de</strong> Si sobre C medido a 3 keV<br />
Pico suma <strong>de</strong> C<br />
+ O-Kα<br />
Experim<strong>en</strong>tal<br />
POEMA con efecto <strong>de</strong> oxidación<br />
POEMA sin efecto <strong>de</strong> oxidación<br />
Si-Kα<br />
Si-Kβ<br />
10 2<br />
Film <strong>de</strong> Si sobre C medido a 3 keV<br />
0.5 1.0 1.5 2.0<br />
Energía [keV]<br />
Int<strong>en</strong>sidad [nº <strong>de</strong> cu<strong>en</strong>tas]<br />
10 5<br />
10 4<br />
10 3<br />
Experim<strong>en</strong>tal<br />
Ajuste con POEMA<br />
Film <strong>de</strong> Al 2<br />
O 3<br />
sobre C medido a 2,5 keV<br />
0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2 1.4 1.6<br />
Energía [keV]<br />
Figura 7.6: Espectros <strong>de</strong> emisión <strong>de</strong> rayos x para las capas <strong>de</strong> Si y Al 2 O 3 , medidos a 3 keV y 2,5 keV,<br />
respectivam<strong>en</strong>te.<br />
: espectros experim<strong>en</strong>tales; : ajuste final, consi<strong>de</strong>rando todos los efectos <strong>de</strong>l sustrato y<br />
<strong>de</strong> la oxidación superficial;<br />
: ajuste sin consi<strong>de</strong>rar la pres<strong>en</strong>cia <strong>de</strong> oxidación superficial.<br />
En la figura 7.6 se muestra, a modo <strong>de</strong> ejemplo, el ajuste obt<strong>en</strong>ido para la película <strong>de</strong> Si medido a<br />
3 keV y para la capa <strong>de</strong> Al 2 O 3 medido a 2,5 keV. Pue<strong>de</strong> verse cómo mejora la predicción <strong>de</strong>l espectro<br />
cuando se ti<strong>en</strong>e <strong>en</strong> cu<strong>en</strong>ta la oxidación superficial (figura 7.6 a) pres<strong>en</strong>te <strong>en</strong> la capa <strong>de</strong> Si. Los<br />
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