Estudio de parámetros atómicos y moleculares en ... - FaMAF
Estudio de parámetros atómicos y moleculares en ... - FaMAF
Estudio de parámetros atómicos y moleculares en ... - FaMAF
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
Realizamos un estudio <strong>de</strong> la <strong>de</strong>p<strong>en</strong><strong>de</strong>ncia <strong>de</strong> la línea satélite Kβ´ <strong>en</strong> compuestos <strong>de</strong> Mn <strong>en</strong> función<br />
<strong>de</strong>l espín nominal y efectivo <strong>de</strong>l Mn, este último valor fue <strong>de</strong>terminado mediante cálculos basados <strong>en</strong><br />
la teoría <strong>de</strong> <strong>de</strong>nsidad funcional. Encontramos que la <strong>en</strong>ergía <strong>de</strong> la línea satélite Kβ´ aum<strong>en</strong>ta linealm<strong>en</strong>te<br />
con el espín efectivo <strong>de</strong>l Mn para compuestos don<strong>de</strong> dicho elem<strong>en</strong>to se <strong>en</strong>cu<strong>en</strong>tra <strong>en</strong> estado <strong>de</strong><br />
oxidación 2. Analizamos a<strong>de</strong>más el comportami<strong>en</strong>to <strong>de</strong> la línea satélite m<strong>en</strong>cionada basándonos <strong>en</strong> los<br />
efectos <strong>de</strong> interacción <strong>de</strong> intercambio y <strong>de</strong> transfer<strong>en</strong>cia <strong>de</strong> carga.<br />
Determinamos experim<strong>en</strong>talm<strong>en</strong>te secciones eficaces <strong>de</strong> ionización <strong>de</strong> capas K por impacto <strong>de</strong><br />
electrones para C, O, Al, Si, y Ti. Para ello construimos películas <strong>de</strong>lgadas sobre sustratos <strong>de</strong> carbono<br />
y <strong>de</strong> silicio y analizamos los espectros <strong>de</strong> emisión <strong>de</strong> rayos x <strong>de</strong> la capa, aplicando correcciones por la<br />
pres<strong>en</strong>cia <strong>de</strong>l sustrato. Los resultados obt<strong>en</strong>idos fueron comparados con las escasas <strong>de</strong>terminaciones<br />
experim<strong>en</strong>tales disponibles <strong>en</strong> la literatura y con mo<strong>de</strong>los empíricos y teóricos basados <strong>en</strong> la<br />
aproximación <strong>de</strong> Born <strong>de</strong> onda plana (PWBA), <strong>de</strong> onda distorsionada (DWBA) y <strong>en</strong> el mo<strong>de</strong>lo <strong>de</strong><br />
Bethe con correcciones relativistas.<br />
Los resultados alcanzados fueron aplicados al microanálisis con sonda <strong>de</strong> electrones para el<br />
perfeccionami<strong>en</strong>to <strong>de</strong> un programa <strong>de</strong> análisis cuantitativo sin estándares, basado <strong>en</strong> el refinami<strong>en</strong>to <strong>de</strong><br />
parámetros (análogo al método Rietveld utilizado <strong>en</strong> difracción <strong>de</strong> rayos x).<br />
Los estudios realizados <strong>en</strong> el marco <strong>de</strong> esta tesis permitirán contribuir al conocimi<strong>en</strong>to <strong>de</strong> los<br />
procesos <strong>de</strong> interacción <strong>de</strong> electrones y fotones con la materia a partir <strong>de</strong> los parámetros atómicos<br />
estudiados. Los avances <strong>en</strong> este s<strong>en</strong>tido, podrán ext<strong>en</strong><strong>de</strong>rse a otras técnicas espectrométricas, o bi<strong>en</strong><br />
servirán para <strong>en</strong>carar situaciones no conv<strong>en</strong>cionales <strong>de</strong>ntro <strong>de</strong>l microanálisis con sonda <strong>de</strong> electrones,<br />
tales como el análisis sin estándares <strong>de</strong> partículas individuales y muestras rugosas o el estudio <strong>de</strong><br />
<strong>en</strong>laces químicos a partir <strong>de</strong> modificaciones <strong>en</strong> el espectro <strong>de</strong> rayos x característico.<br />
Palabras Clave: microanálisis con sonda <strong>de</strong> electrones, EDS, WDS, asimetría <strong>de</strong> picos, efici<strong>en</strong>cia <strong>de</strong><br />
<strong>de</strong>tección, función Voigt, espectro <strong>de</strong> emisión <strong>de</strong> rayos x, sección eficaz <strong>de</strong> ionización, líneas satélites,<br />
cuantificación sin estándares.<br />
PACS: 32.30.Rj, 33.70.Jg, 32.70.Jz, 32.70.Fw, 32.10.Fn, 36.20.Kd, 32.50.H, 07.85.Nc.<br />
ii