Estudio de parámetros atómicos y moleculares en ... - FaMAF
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Capítulo 4<br />
<strong>Estudio</strong> <strong>de</strong> Parámetros Experim<strong>en</strong>tales<br />
Para po<strong>de</strong>r <strong>de</strong>scribir con precisión un espectro <strong>de</strong> emisión <strong>de</strong> rayos x es necesario,<br />
a<strong>de</strong>más <strong>de</strong>l conocimi<strong>en</strong>to <strong>de</strong> los parámetros atómicos involucrados, contar con una<br />
bu<strong>en</strong>a caracterización <strong>de</strong> los espectrómetros utilizados para la <strong>de</strong>tección y mo<strong>de</strong>lar<br />
los diversos efectos inher<strong>en</strong>tes a la técnica <strong>de</strong> medición usada y a características<br />
intrínsecas <strong>de</strong> algunas muestras medidas. En este capítulo, que pue<strong>de</strong> ser dividido<br />
<strong>en</strong> tres partes, mostraremos los avances alcanzados <strong>en</strong> este s<strong>en</strong>tido. Las dos<br />
primeras partes tratarán sobre la caracterización <strong>de</strong> espectrómetros EDS y WDS,<br />
incluy<strong>en</strong>do la <strong>de</strong>terminación <strong>de</strong> la efici<strong>en</strong>cia <strong>de</strong> <strong>de</strong>tección y el estudio <strong>de</strong> la<br />
contribución a la forma <strong>de</strong> los picos característicos asociada a cada sistema. En la<br />
última parte se consi<strong>de</strong>rarán los efectos <strong>en</strong> el espectro <strong>de</strong> emisión <strong>de</strong> rayos x <strong>de</strong>bido<br />
al recubrimi<strong>en</strong>to conductor <strong>de</strong> carbono y a una capa <strong>de</strong> óxido superficial para el<br />
caso <strong>de</strong> muestras metálicas.<br />
Los resultados mostrados <strong>en</strong> este capítulo fueron publicados <strong>en</strong> los sigui<strong>en</strong>tes<br />
artículos:<br />
- Visñovezky, C., Limandri, S., Canafoglia, M., Bonetto, R. y Trincavelli, J. 2007,<br />
Spectrochim. Acta B, Vol. 62, págs. 492-498.<br />
- Trincavelli, J., Limandri, S., Carreras, A. y Bonetto, R. 2008, Microsc.<br />
Microanal., Vol. 14, págs. 306-314.<br />
- Limandri, S., Bonetto, R., Di Rocco, H. y Trincavelli, J. 2008, Spectrochim. Acta<br />
B, Vol. 63, págs. 962-967.<br />
- Limandri, S., Carreras, A. y Trincavelli, J. 2010, Microsc. Microanal. , Vol. 16,<br />
págs. 583-593.<br />
4.1 Caracterización <strong>de</strong> un espectrómetro EDS<br />
Cuando se pret<strong>en</strong><strong>de</strong> procesar espectros <strong>de</strong> rayos x medidos con sistemas <strong>de</strong> <strong>de</strong>tección dispersivos<br />
<strong>en</strong> <strong>en</strong>ergías (EDS), <strong>de</strong>b<strong>en</strong> t<strong>en</strong>erse <strong>en</strong> cu<strong>en</strong>ta dos efectos asociados a dicho sistema: el primero <strong>de</strong> ellos<br />
es la colección incompleta <strong>de</strong> cargas <strong>en</strong> el <strong>de</strong>tector, responsable <strong>de</strong> la asimetría <strong>de</strong> los picos<br />
característicos hacia el lado <strong>de</strong> bajas <strong>en</strong>ergías; y el segundo es la efici<strong>en</strong>cia <strong>de</strong> <strong>de</strong>tección, la cual da una<br />
medida <strong>de</strong> la capacidad <strong>de</strong>l <strong>de</strong>tector <strong>de</strong> contar efectivam<strong>en</strong>te los fotones que llegan a él. En las<br />
próximas secciones <strong>de</strong>scribiremos cómo abordamos <strong>en</strong> esta tesis el estudio <strong>de</strong> los dos efectos<br />
m<strong>en</strong>cionados.<br />
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