Estudio de parámetros atómicos y moleculares en ... - FaMAF

Bibliografía ________________________________________________________________________________
30. Rietveld, H. 1969, J. Appl. Cryst., Vol. 2, págs. 65-71.
31. Trincavelli, J., Limandri, S., Carreras, A. y Bonetto, R. 2008, Microsc. Microanal., Vol. 14, págs. 306-
314.
32. Limandri, S., Bonetto, R., Di Rocco, H. y Trincavelli, J. 2008, Spectrochim. Acta B, Vol. 63, págs. 962-
967.
33. Visñovezky, C., Limandri, S., Canafoglia, M., Bonetto, R. y Trincavelli, J. 2007, Spectrochim. Acta B,
Vol. 62, págs. 492-498.
34. Limandri, S., Carreras, A. y Trincavelli, J. 2010, Microsc. Microanal. , Vol. 16, págs. 583-593.
35. Limandri, S., Carreras, A., Bonetto, R. y Trincavelli, J. 2010, Phys. Rev. A, Vol. 81, págs. 012504 1-10.
36. Limandri, S., Bonetto, R., Carreras, A. y Trincavelli, J. 2010, Phys. Rev. A, Vol. 82, págs. 032505 1-9.
37. Limandri, S., Trincavelli, J., Bonetto, R. y Carreras, A. 2008, Phys. Rev. A, Vol. 78, págs. 022518 1-10.
38. Limandri, S., Ceppi, S., Tirao, G., Stutz, G., Sánchez, C. y Riveros, J. 2010, Chem. Phys. , Vol. 367,
págs. 93-98.
39. Jenkins, R. An Introduction to X Ray Spectrometry. Heyden, New York : s.n., 1976.
40. Fink, E. Handbook of Spectroscopy. [ed.] J. Robinson. s.l. : CRC Press, Cleveland, 1974.
41. Muller, R. Spectrochemical Analysis with X-Rays. New York : Plenum Press, 1972.
42. Bonetto, R. El Efecto Auger. Córdoba, Argentina : Facultad de Matemática, Astronomía y Física -
Universidad Nacional de Córdoba, 1976. Seminario de Licenciatura en Física.
43. Remond, G., Myklebust, R., Fialin, M., Phillips, M. y Roques-Carmes, C. 2002, J. Res. Natl. Inst. Stand.
Technol., Vol. 107, págs. 509-529.
44. Mauron, O., Dousse, J. 2002, Phys. Rev. A, Vol. 66, págs. 042713 1-14.
45. Krause, M. y Carlson, T. 1965, Phys. Rev., Vol. 140, págs. A1965-A1064.
46. Knudson, A., Nagel, D., Burkhalter, P. y Dunning, K. 1971, Phys. Rev. Lett., Vol. 26, págs. 1149-1152.
47. Mauron, O., Dousse, J., Hoszowska, J., Marques, J., Parente, F., y Polasik, M. 2000, Phys. Rev. A, Vol.
62, págs. 062508 1-11.
48. Raju, S., Seetharami Reedy, B., Murti, M. y Mombasawala, L. 2007, X-Ray Spectrom., Vol. 36, págs.
35-41.
49. Soni, S. y Nigan, A. 1981, J. Phys. C, Vol. 14, págs. 3289-3295.
50. Maskil, N., Deutsch, M. 1988, Phys. Rev. A, Vol. 38, págs. 3467-3472.
51. Cipolla, S. 1999, Nucl. Instr. Meth. A, Vol. 422, págs. 546-550.
52. Herren, Ch., Dousse, J. 1997, Phys. Rev. A, Vol. 56, págs. 2750-2758.
53. Srivastava, K., Singh, S., Srivastava, A., Nayal, R., Chaubey, A. y Gupta, P. 1982, Phys. Rev. A, Vol.
25, págs. 2838-2844.
54. Koster, A. y Mendel, H. 1970, J. Phys. Chem. Solids, Vol. 31, págs. 2511-2522.
55. Tsutsumi, K., Nakamori, H. y Ichikawa, K. 1976, Phys. Rev. B, Vol. 13, págs. 929-933.
56. Deutsch, M., Hölzer, G., Härtwig, J., Wolf, J., Fritsch M., y Förster, E. 1995, Phys. Rev. A, Vol. 51,
págs. 283-296.
57. Song, Y., Lee, S. y Chang, C. 1995, Chinese J. Phys., Vol. 33, págs. 671-680.
58. Enkisch, H., Sternemann, C., Paulus, M., Volmer, M. y Schülke, W. 2004, Phys. Rev. A, Vol. 70, págs.
022508 1-7.
59. Deutsch, M., Förster, E., Hölzer, G., Härtwig, J., Hämäläinen, K., Kao, C., Huotari, S. y Diamant, R.
2004, J. Res. Natl. Inst. Stand. Technol. , Vol. 109, págs. 75-98.
60. Peng, G., deGroot, F., Hämäläinen, K., Moore, J., Wang, X., Grush, M., Hastings, J., Siddons, D.,
Armstring, W., Mullins, O. y Cramer, S. 1994, J. Am. Chem. Soc., Vol. 116, págs. 2914-2920.
61. Gokhale, B., Rai, S. y Rai, S. 1977, J. Phys. F, Vol. 7, págs. 299-301.
62. Esmail, E., Nichollsm, C. y Urch, S. 1973, Analyst, Vol. 98, págs. 725-731.
63. Van Grieken, R. y Markowicz, A. Handbook of X-Ray Spectrometry: Methods and Techniques. s.l. :
Marcel Dekker, Inc., 1993.
64. Ducumb, P., Barkshire, I. y Statham, P. 2001, Micros. Microanal., Vol. 7, págs. 341-365.
190