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Estudio de parámetros atómicos y moleculares en ... - FaMAF

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Capítulo 2: Consi<strong>de</strong>raciones G<strong>en</strong>erales _________________________________________________________<br />

directam<strong>en</strong>te proporcional a la amplitud <strong>de</strong>l pulso inci<strong>de</strong>nte (14). El tiempo requerido para que un<br />

pulso conformado alcance su máxima amplitud se conoce como “peaking time”.<br />

El <strong>de</strong>tector que acabamos <strong>de</strong> <strong>de</strong>scribir com<strong>en</strong>zó a <strong>de</strong>sarrollarse <strong>en</strong> el año 1968 por Fitzgerald et al.<br />

(77) y es el <strong>de</strong>tector EDS que más se ha utilizado <strong>en</strong> la mayoría <strong>de</strong> los equipos. Actualm<strong>en</strong>te, los<br />

equipos nuevos incorporan otro tipo <strong>de</strong> <strong>de</strong>tector EDS para aplicaciones que requier<strong>en</strong> altas tasas <strong>de</strong><br />

conteo, que com<strong>en</strong>zó a <strong>de</strong>sarrollarse <strong>en</strong> el año 1983 por Gatti y Rehak (78). Este <strong>de</strong>tector, <strong>de</strong>nominado<br />

<strong>de</strong>tector SDD (silcon drift <strong>de</strong>tector) se basa <strong>en</strong> el mismo principio físico que el que m<strong>en</strong>cionamos<br />

anteriorm<strong>en</strong>te, pero ti<strong>en</strong>e otro diseño y otras v<strong>en</strong>tajas asociadas. El SDD consiste <strong>en</strong> un cilindro <strong>de</strong> sili-<br />

FEG integrado<br />

ánodo (+) colector<br />

anillos <strong>de</strong> campo<br />

electrodos (-)<br />

~450µm<br />

cátodo (-)<br />

contacto frontal:<br />

<strong>en</strong>trada <strong>de</strong> la radiación<br />

Figura 2.11: Diagrama esquemático <strong>de</strong> un <strong>de</strong>tector SDD.<br />

cio tipo n, con propieda<strong>de</strong>s difer<strong>en</strong>tes <strong>en</strong> sus caras frontales: la superficie don<strong>de</strong> los fotones <strong>de</strong> rayos x<br />

ingresan al <strong>de</strong>tector es una juntura tipo p-n homogénea y el lado opuesto consiste <strong>de</strong> una estructura <strong>de</strong><br />

anillos circulares concéntricos dopados para formar un semiconductor tipo p (ver figura 2.11).<br />

Aplicando un voltaje negativo <strong>en</strong> la cara homogénea (don<strong>de</strong> <strong>en</strong>tra la radiación) y un voltaje negativo<br />

<strong>en</strong> los anillos, creci<strong>en</strong>te <strong>de</strong>l c<strong>en</strong>tro hacia afuera <strong>de</strong>l cilindro, se crea un pot<strong>en</strong>cial <strong>de</strong>ntro <strong>de</strong>l <strong>de</strong>tector <strong>de</strong><br />

manera tal que los electrones g<strong>en</strong>erados por la absorción <strong>de</strong> la radiación son conducidos hacia el<br />

pequeño ánodo colector localizado <strong>en</strong> el c<strong>en</strong>tro <strong>de</strong>l dispositivo. La v<strong>en</strong>taja principal <strong>de</strong> este <strong>de</strong>tector es<br />

la pequeña capacitancia <strong>de</strong>l ánodo, prácticam<strong>en</strong>te in<strong>de</strong>p<strong>en</strong>di<strong>en</strong>te <strong>de</strong>l área activa <strong>de</strong>l <strong>de</strong>tector. Esto<br />

permite un conteo más rápido <strong>de</strong> los fotones inci<strong>de</strong>ntes. A<strong>de</strong>más, este tipo <strong>de</strong> <strong>de</strong>tector es <strong>en</strong>friado<br />

<strong>en</strong>friado por efecto Peltier, por lo que no se necesita utilizar nitróg<strong>en</strong>o.<br />

Asimetría <strong>de</strong> picos: Colección incompleta <strong>de</strong> cargas<br />

Hemos visto que, cuando un fotón arriba al cristal <strong>de</strong>l <strong>de</strong>tector (que supondremos <strong>de</strong> ahora <strong>en</strong><br />

a<strong>de</strong>lante constituido por un cristal <strong>de</strong> Si dopado con Li) se crea un gran número <strong>de</strong> pares electrónhueco,<br />

los cuales se muev<strong>en</strong> hacia el ánodo y el cátodo bajo la influ<strong>en</strong>cia <strong>de</strong> un campo eléctrico<br />

aplicado. En sus caminos hacia los electrodos, estos portadores <strong>de</strong> carga pue<strong>de</strong>n quedar atrapados <strong>en</strong><br />

niveles <strong>de</strong> <strong>en</strong>ergía <strong>en</strong>tre la banda <strong>de</strong> val<strong>en</strong>cia <strong>de</strong>l silicio y la banda <strong>de</strong> conducción <strong>de</strong>bido a impurezas y<br />

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