Estudio de parámetros atómicos y moleculares en ... - FaMAF

____________ Capítulo 7: Determinación de Secciones Eficaces de Ionización en capas
K para C, O, Si, Al y Ti
incorporando correcciones relativistas y por efectos iónicos y la expresión propuesta por Talukder et.
al (278), quienes también utilizaron como base una versión simplificada de la fórmula de Bell,
incorporando correcciones relativistas y por efectos iónicos similares a los utilizados por Haque et al.
Para evaluar las funciones empíricas propuestas por estos autores, se utilizaron las energías de
ionización de la capa K reportadas por Bearden y Burr (210). En el caso de la expresión publicada de
Talukder et al. (278), debido a que los coeficientes publicados en su artículo presentan un error de
impresión, se utilizaron coeficientes comunicados por dichos autores de manera privada para la
fórmula de Bell.
Los determinaciones experimentales incorporadas en las figuras 7.7 a 7.11 corresponden a los
datos publicados por Hink y Ziegler (279) para Al, Shchagin et al. (280) para Si, Platten et al. (281)
para Si y O, Jessenberger y Hink (282) y He et al. (283) para Ti, Glupe y Mehlhorn (284) para Ti,
Tawara et al. (285) para O y C y Hink y Paschke (286) para C. Los datos de estos autores se
encuentran en la recopilación de los datos existentes en la literatura hasta diciembre del año 1999
realizada por Liu et al. (268). En el caso de Ti, agregamos en la figura 7.9 los valores publicados por
An et al. (267) en 2003. Según nuestro conocimiento, estos son los todos los datos experimentales
existentes en la literatura hasta el momento para los elementos y energías estudiadas en este trabajo.
En general, los datos experimentales obtenidos aquí están en buen acuerdo con la mayoría de los
resultados experimentales de otros autores, excepto con los valores obtenidos por Shchagin et. al (280)
y He et al. (283) para silicio y titanio, respectivamente. Los datos de las secciones eficaces de Ti
obtenidos por He et al. (283) caen sistemáticamente por debajo del resto de las determinaciones, tanto
1.2x10 4
Si
1.0x10 4
Sección Eficaz Q K
[barn]
8.0x10 3
6.0x10 3
4.0x10 3
2.0x10 3
5 10 15 20 25
E o
[keV]
30
Figura 7.8: Sección eficaz de ionización para la capa K de silicio en función de la energía E o de los
electrones incidentes. Los puntos indican datos experimentales. Datos obtenidos en el presente trabajo a partir
del análisis de las películas de Si ( ) y de SiO 2 ( ); : Ref. (281); : Ref. (280). Las líneas indican
expresiones empíricas y datos teóricos:
: Ref. (278).
: Ref. (265), : Ref. (277), : Ref. (261), : Ref. (88) y
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