ASAXS - Helmholtz-Zentrum Berlin

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7.4 Röntgendiffraktionsmessungen (XRD)
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Abbildung 7.16: Dargestellt ist eine Transmissionselektronenmikroskopieaufnahme einer getemperten
Glaskeramik mit einer leicht anderen Zusammensetzung, als die
untersuchten Proben. Die Glaskeramik zeigt sowohl Bereiche mit Nanopartikeln
(B) als auch amorphe Glasmatrixbereiche (A).
T1 T2
200 nm
200 nm
Abbildung 7.17: Dargestellt sind TEM-Aufnahmen zweier Glaskeramiken, mit einer Zusammensetzung
die leicht von der der untersuchten Glaskeramiken abweicht. Beide
Systeme T1 und T2 zeigen gleiche Strukturelemente im Nanometerbereich,
wobei das System T2 einen höheren Volumenanteil der Nanopartikel aufweist.
theoretische Beschreibung der differenziellen Streuquerschnitte deutlich komplexer machen.
Des Weiteren werden die Nanopartikel einer Größenverteilung genügen, wie in Abb. 7.16 und
7.17 zu erkennen ist.
7.4 Röntgendiffraktionsmessungen (XRD)
Die Methoden ASAXS, XANES und TEM zeigen, dass Nanopartikel in der Glaskeramik existieren.
Aussagen über den Zustand (amorph oder kristallin) dieser Ausscheidungen lassen
sich nicht aus diesen Daten bestimmen. Aus diesem Grund wurden XRD-Messungen an den
hergestellten Glaskeramikproben durchgeführt. Des Weiteren dienen die XRD-Messungen als
Vergleichsmessung, d. h., ein Vergleich der Spektren mit anderen Probenchargen soll stattfinden,
um eventuelle Unterschiede festzustellen, die durch die Probenpräparation entstehen
können.
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