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ASAXS - Helmholtz-Zentrum Berlin

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Detektorkanal (Pixel)<br />

Aufnahme: 1 2 3<br />

Detektorkanal (Pixel)<br />

7.4 Röntgendiffraktionsmessungen (XRD)<br />

Auswertebereich<br />

Abbildung 7.18: Dargestellt ist das 2D-Diffraktogramm der Probe S3 aufgenommen mit einem<br />

Flächendetektor. Es wurden drei separate Aufnahmen zu einem gesamten<br />

Diffraktogramm zusammengefügt (unkorrigierte Daten). Das Spektrum ist<br />

um 90 ◦ im Uhrzeigersinn gedreht. Das Diffraktogramm wurde im markierten<br />

Bereich ausgewertet.<br />

In Abbildung 7.19 ist das Ergebnis der Mittelung dargestellt (schwarze Linie). Bei der Mittelung<br />

des Spektrums wurden die Verzerrungseffekte korrigiert. Zusätzlich ist das Spektrum<br />

der Probe S9 eingezeichnet (rote Linie). Beide Spektren zeigen intensive Beugungslinien, wobei<br />

die Peakhöhen für die Probe S9 höher sind im Vergleich zur Probe S3.<br />

Dies kann mit einer höheren Konzentration an kristalliner Phase in der Glaskeramik erklärt<br />

werden. Weiterhin fällt auf, dass die Peaks der Probe S3 breiter als die der Probe S9<br />

sind. Schmalere Peaks bedeuten größere Kohärenzlänge, größere kristalline Partikel in der<br />

Glaskeramik.<br />

Zusätzlich zu den beiden Spektren der Probe S3 und S9 sind in Abb. 7.19 die Peaklagen<br />

von PbF2 (kubisch) und CdF2 (kubisch) eingezeichnet. Die Peaklagen stimmen nicht bzw.<br />

nur begrenzt mit denen der Proben überein. Die Anzahl und Gruppierung der Peaks der Proben<br />

passen mit denen des PbF2 zusammen, wobei die Peaks der Proben um etwa 0.8-1.5 ◦<br />

zu größeren Winkeln verschoben sind. Eine Übereinstimmung der Anzahl und Gruppierung<br />

der Peaks mit CdF2 hingegen ist nicht gegeben. Demzufolge ist es wahrscheinlicher, dass die<br />

Nanokristalle vorwiegend aus PbF2 aufgebaut sind und das CdF2 nicht oder nur sehr schwach<br />

konzentriert in den Teilchen vorkommt. Die Verschiebung der Peaklagen der Proben relativ<br />

zu denen des PbF2 kann auf einen Mischkristall hindeuten sowie auf vorhandene Eigenspannungen<br />

in der Glaskeramik. Beide Effekte können Beugungslinien in ihrer Lage verschieben.<br />

7.4.3 Zusammenfassung der XRD-Ergebnisse<br />

Die XRD-Messungen konnten zeigen, dass die hergestellten Glaskeramikproben kristalline Nanopartikel<br />

enthalten. Aus der Anzahl und Anordnung der Beugungslinien lässt sich schlussfolgern,<br />

dass ein Mischkristall vorliegt, mit dem Hauptanteil PbF2. Das CdF2 scheint in diesem<br />

Zusammenhang keinen oder einen geringen Einfluss zu haben. Ein Vergleich der gemessenen<br />

Spektren mit denen aus anderen Probenchargen (siehe Diplomarbeit Roman Wurth [101])<br />

Intensität (cps)<br />

85

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