ASAXS - Helmholtz-Zentrum Berlin
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Detektorkanal (Pixel)<br />
Aufnahme: 1 2 3<br />
Detektorkanal (Pixel)<br />
7.4 Röntgendiffraktionsmessungen (XRD)<br />
Auswertebereich<br />
Abbildung 7.18: Dargestellt ist das 2D-Diffraktogramm der Probe S3 aufgenommen mit einem<br />
Flächendetektor. Es wurden drei separate Aufnahmen zu einem gesamten<br />
Diffraktogramm zusammengefügt (unkorrigierte Daten). Das Spektrum ist<br />
um 90 ◦ im Uhrzeigersinn gedreht. Das Diffraktogramm wurde im markierten<br />
Bereich ausgewertet.<br />
In Abbildung 7.19 ist das Ergebnis der Mittelung dargestellt (schwarze Linie). Bei der Mittelung<br />
des Spektrums wurden die Verzerrungseffekte korrigiert. Zusätzlich ist das Spektrum<br />
der Probe S9 eingezeichnet (rote Linie). Beide Spektren zeigen intensive Beugungslinien, wobei<br />
die Peakhöhen für die Probe S9 höher sind im Vergleich zur Probe S3.<br />
Dies kann mit einer höheren Konzentration an kristalliner Phase in der Glaskeramik erklärt<br />
werden. Weiterhin fällt auf, dass die Peaks der Probe S3 breiter als die der Probe S9<br />
sind. Schmalere Peaks bedeuten größere Kohärenzlänge, größere kristalline Partikel in der<br />
Glaskeramik.<br />
Zusätzlich zu den beiden Spektren der Probe S3 und S9 sind in Abb. 7.19 die Peaklagen<br />
von PbF2 (kubisch) und CdF2 (kubisch) eingezeichnet. Die Peaklagen stimmen nicht bzw.<br />
nur begrenzt mit denen der Proben überein. Die Anzahl und Gruppierung der Peaks der Proben<br />
passen mit denen des PbF2 zusammen, wobei die Peaks der Proben um etwa 0.8-1.5 ◦<br />
zu größeren Winkeln verschoben sind. Eine Übereinstimmung der Anzahl und Gruppierung<br />
der Peaks mit CdF2 hingegen ist nicht gegeben. Demzufolge ist es wahrscheinlicher, dass die<br />
Nanokristalle vorwiegend aus PbF2 aufgebaut sind und das CdF2 nicht oder nur sehr schwach<br />
konzentriert in den Teilchen vorkommt. Die Verschiebung der Peaklagen der Proben relativ<br />
zu denen des PbF2 kann auf einen Mischkristall hindeuten sowie auf vorhandene Eigenspannungen<br />
in der Glaskeramik. Beide Effekte können Beugungslinien in ihrer Lage verschieben.<br />
7.4.3 Zusammenfassung der XRD-Ergebnisse<br />
Die XRD-Messungen konnten zeigen, dass die hergestellten Glaskeramikproben kristalline Nanopartikel<br />
enthalten. Aus der Anzahl und Anordnung der Beugungslinien lässt sich schlussfolgern,<br />
dass ein Mischkristall vorliegt, mit dem Hauptanteil PbF2. Das CdF2 scheint in diesem<br />
Zusammenhang keinen oder einen geringen Einfluss zu haben. Ein Vergleich der gemessenen<br />
Spektren mit denen aus anderen Probenchargen (siehe Diplomarbeit Roman Wurth [101])<br />
Intensität (cps)<br />
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