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8.1. HALBLEITERLASER 213<br />

⇔ EF − EC = kT ln<br />

� ND<br />

NC<br />

�<br />

(8.14)<br />

Für Si bei 300 K , ND = 10 16 cm −3 und NC = 10 19 cm −3 folgt, daß die Fermi Energie 0.18 eV<br />

unterhalb des Leitungsbandes (EC) zu liegen kommt.<br />

Bringt man n-dotierte und p-dotierte Gebiete in Kontakt, so diffundieren Elektronen über die<br />

Berührungsfläche in die p-Schicht und Löcher in die n-Schicht. Die geladenen Akzeptor bzw.<br />

Donator-Ionenrümpfe bleiben zurück und bauen an der Grenzschicht ein elektrisches Feld<br />

auf. Dieses wirkt der Diffusion entgegen und führt zu einem Gleichgewicht aus Diffusionsund<br />

Feldstrom. Die Ausdehnung dieser Raumladungsschicht beträgt ca. 100 nm.<br />

Wie groß ist das Potential zwischen n- und p-Schicht? Wir haben gesehen, daß bei einem<br />

n-dotierten Halbleiter EF knapp unterhalb EC liegt, bei einem p-dotierten Halbleiter knapp<br />

oberhalb EV . Im termischen Gleichgewicht muß das Ferminiveau in beiden dieselbe Energie<br />

erreichen, da man ansonsten ein perpetuum mobile hätte, d.h. es flösse permanent Strom. Abbildung<br />

8.4 illustriert die energetischen Verhältnisse. E1 und E2 ergeben sich nach Gl. (8.14).<br />

Abbildung 8.3: Dotierungsverlauf und Konzentrationsverlauf der Ladungsträger<br />

in einem symmetrischen p-n Übergang im thermischen Gleichgewicht [Goet94]

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