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Bulletin 2012/02 - European Patent Office

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(G01N) I.1(2)<br />

• Training method for an adaptive evaluation<br />

algorithm, hyperspectral measuring device<br />

and device for applying an operating<br />

material<br />

• Procédé de formation pour un algorithme<br />

adaptatif d'évaluation, un appareil d'hyperspectroscopie,<br />

ainsi que dispositif de<br />

distribution de moyens de production<br />

(71) Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der<br />

angewandten Wissenschaft E.V.,<br />

Hansastraße 27c, 80686 München, DE<br />

(72) Seiffert, Udo, 38892 Harsleben, DE<br />

Bollenbeck, Felix, 06108 Halle, DE<br />

(74) Pfenning, Meinig & Partner GbR, <strong>Patent</strong>- und<br />

Rechtsanwälte Joachimstaler Strasse 12,<br />

10719 Berlin, DE<br />

G01N 21/85 → (51) G01N 21/35<br />

(51) G01N 22/00 (11) 2 405 259 A1<br />

G01R 29/08<br />

(25) Ja (26) En<br />

(21) 10748580.7 (22) 29.01.2010<br />

(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB<br />

GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT<br />

NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR<br />

(86) JP 2010/051199 29.01.2010<br />

(87) WO 2010/100983 2010/36 10.09.2010<br />

(30) 03.03.2009 JP 2009049956<br />

15.07.2009 JP 2009166932<br />

(54) • STROMVERBRAUCHSMESSVERFAHREN,<br />

VERFAHREN ZUR MESSUNG EINES<br />

DURCHSCHNITTLICHEN LOKALEN<br />

STROMVERBRAUCHS, VORRICHTUNG<br />

ZUR BERECHNUNG EINES DURCH-<br />

SCHNITTLICHEN LOKALEN STROMVER-<br />

BRAUCHS UND PROGRAMM ZUR<br />

BERECHNUNG EINES DURCHSCHNITTLI-<br />

CHEN LOKALEN STROMVERBRAUCHS<br />

• ABSORBED POWER MEASURING<br />

METHOD, LOCAL AVERAGE ABSORBED<br />

POWER MEASURING METHOD, LOCAL<br />

AVERAGE ABSORBED POWER CALCU-<br />

LATING DEVICE, AND LOCAL AVERAGE<br />

ABSORBED POWER CALCULATING PRO-<br />

GRAM<br />

• PROCÉDÉ DE MESURE DE PUISSANCE<br />

ABSORBÉE, PROCÉDÉ DE MESURE DE<br />

PUISSANCE ABSORBÉE MOYENNE<br />

LOCALE, DISPOSITIF DE CALCUL DE<br />

PUISSANCE ABSORBÉE MOYENNE<br />

LOCALE ET PROGRAMME DE CALCUL DE<br />

PUISSANCE ABSORBÉE MOYENNE<br />

LOCALE<br />

(71) NTT DOCOMO, INC., 11-1, Nagatacho 2chome,<br />

Chiyoda-ku Tokyo 100-6150, JP<br />

(72) IYAMA, Takahiro, Tokyo 100-6150, JP<br />

ONISHI, Teruo, Tokyo 100-6150, JP<br />

(74) MERH-IP Matias Erny Reichl Hoffmann,<br />

Paul-Heyse-Strasse 29, 80336 München, DE<br />

G01N 22/00 → (51) A24C 5/34<br />

G01N 23/087 → (51) G01N 23/10<br />

(51) G01N 23/10 (11) 2 405 260 A1<br />

G01N 23/087 G06T 5/50<br />

G06T 5/40 G01V 5/00<br />

G01T 1/24<br />

(25) En (26) En<br />

(21) 11173192.3 (22) 08.07.2011<br />

(84) AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR<br />

GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK<br />

MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR<br />

BA ME<br />

(30) 09.07.2010 IT MI20101269<br />

(54) • Methode und Gerät zur Durchführung<br />

nicht-invasiver Objektprüfung<br />

Europäisches <strong>Patent</strong>blatt<br />

<strong>European</strong> <strong>Patent</strong> <strong>Bulletin</strong><br />

<strong>Bulletin</strong> européen des brevets<br />

• Method and apparatus for performing noninvasive<br />

x-ray inspections of objects<br />

• Procédé et dispositif pour l'examen noninvasif<br />

des objets<br />

(71) Alta Lab S.r.l., Via Boncompagni 67, 20139<br />

Milano, IT<br />

Youtech S.r.l., Via Lamarmora 2, 20831<br />

Seregno, IT<br />

Pozzi, Pietro, Viale Europa 252, 20062<br />

Cassano d'Adda (MI), IT<br />

(72) Pozzi, Pietro, 20062 Cassano d'Adda -<br />

Milano, IT<br />

Rotondo, Giuseppe, 20090 Pantigliate, IT<br />

Borghese, Nunzio Alberto, <strong>2012</strong>9 Milano, IT<br />

(74) Herrmann, Franz, Dendorfer & Herrmann<br />

<strong>Patent</strong>anwälte Partnerschaft Bayerstrasse 3,<br />

80335 München, DE<br />

(51) G01N 23/20 (11) 2 405 261 A1<br />

(25) De (26) De<br />

(21) 11171099.2 (22) 22.06.2011<br />

(84) AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR<br />

GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK<br />

MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR<br />

BA ME<br />

(30) 05.07.2010 DE 1<strong>02</strong>010030939<br />

(54) • Verfahren zur Ermittlung der quantitativen<br />

Zusammensetzung einer Pulverprobe<br />

• Method for determining the quantitative<br />

composition of a powder sample<br />

• Procédé de détermination de la composition<br />

quantitative d'un échantillon de poudre<br />

(71) Bruker AXS GmbH, Östliche Rheinbrückenstrasse<br />

49, 76187 Karlsruhe, DE<br />

(72) Der Erfinder hat auf seine Nennung verzichtet.<br />

The inventor has agreed to waive his<br />

entitlement to designation.<br />

L'Inventeur a renoncé à sa désignation.<br />

(74) Kohler Schmid Möbus, <strong>Patent</strong>anwälte<br />

Ruppmannstraße 27, 70565 Stuttgart, DE<br />

(51) G01N 25/04 (11) 2 405 262 A1<br />

C12Q 1/68 G01N 33/53<br />

(25) En (26) En<br />

(21) 11173124.6 (22) 07.07.2011<br />

(84) AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR<br />

GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK<br />

MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR<br />

BA ME<br />

(30) 07.07.2010 JP 2010155032<br />

04.07.2011 JP 2011148520<br />

(54) • Verhältnismessvorrichtung der Nukleinsäureabundanz,<br />

Verfahren, Programmspeichermedium,<br />

Bestimmungsverfahren<br />

und Kit zur Messung des Verhältnisses der<br />

Nukleinsäureabundanz<br />

• Nucleic acid abundance ratio measurement<br />

device, method, and program storage<br />

medium, determination method and<br />

nucleic acid abundance ratio measurement<br />

kit<br />

• Dispositif de mesure du taux d'abondance<br />

d'acides nucléiques, procédé et support de<br />

stockage de programmes, procédé de<br />

détermination et kit de mesure du taux<br />

d'abondance d'acides nucléiques<br />

(71) Arkray, Inc., 57, Nishiaketa-cho Higashikujo,<br />

Minami-ku Kyoto-shi Kyoto 601-8045, JP<br />

(72) Hirano, Katsuyasu, Kyoto, 601-8045, JP<br />

Komori, Mariko, Kyoto, 601-8045, JP<br />

(74) Piésold, Alexander James, Dehns St Bride's<br />

House 10 Salisbury Square, London EC4Y<br />

8JD, GB<br />

(51) G01N 27/22 (11) 2 405 263 A2<br />

(25) En (26) En<br />

(21) 11171345.9 (22) 24.06.2011<br />

266<br />

Anmeldungen<br />

Applications<br />

Demandes (<strong>02</strong>/<strong>2012</strong>) 11.01.<strong>2012</strong><br />

(84) AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR<br />

GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK<br />

MT NL NO PL PT RO RS SE SI SK SM TR<br />

BA ME<br />

(30) 08.07.2010 GB 1011474<br />

(54) • Analyse eines dielektrischen Mediums<br />

• Analysis of a dielectric medium<br />

• Analyse d'un médium diélectrique<br />

(71) Aber Instruments Ltd, Unit 5 Science Park<br />

Cefn Llan Aberystwyth, Ceredigion SY23<br />

3AH, GB<br />

(72) Todd, Robert, Powys, SY20 8QG, GB<br />

(74) Davies, Gregory Mark, Urquhart-Dykes &<br />

Lord LLP 7th Floor Churchill House,<br />

Churchill Way Cardiff CF10 2HH, GB<br />

G01N 27/26 → (51) C12Q 1/68<br />

G01N 27/26 → (51) G01N 27/416<br />

G01N 27/327 → (51) G01N 27/416<br />

(51) G01N 27/416 (11) 2 405 264 A1<br />

G01N 27/26 G01N 27/327<br />

(25) Ja (26) En<br />

(21) 1078<strong>02</strong>27.4 (22) 20.05.2010<br />

(84) AL AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR<br />

GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK<br />

MT NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR<br />

(86) JP 2010/003411 20.05.2010<br />

(87) WO 2010/137266 2010/48 <strong>02</strong>.12.2010<br />

(30) 29.05.2009 JP 2009131248<br />

(54) • BIOSENSORENSYSTEM UND VORRICH-<br />

TUNG ZUM MESSEN EINER ANALYTKON-<br />

ZENTRATION<br />

• BIOSENSOR SYSTEM AND METHOD FOR<br />

MEASURING CONCENTRATION OF ANA-<br />

LYTE<br />

• SYSTÈME DE BIOCAPTEUR ET PROCÉDÉ<br />

PERMETTANT DE MESURER LA<br />

CONCENTRATION EN ANALYTE<br />

(71) Panasonic Corporation, 1006, Oaza Kadoma,<br />

Kadoma-shi Osaka 571-8501, JP<br />

(72) UCHIYAMA, Motonori, Osaka-shi Osaka 540-<br />

6207, JP<br />

(74) Eisenführ, Speiser & Partner, Postfach 10 60<br />

78, 28060 Bremen, DE<br />

G01N 31/10 → (51) B01J 19/24<br />

G01N 33/15 → (51) C12M 3/04<br />

G01N 33/34 → (51) G01N 1/20<br />

(51) G01N 33/48 (11) 2 405 265 A1<br />

G01N 15/14 G06T 1/00<br />

(25) Ja (26) En<br />

(21) 09841070.7 (22) 25.12.2009<br />

(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB<br />

GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT<br />

NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR<br />

(86) JP 2009/007297 25.12.2009<br />

(87) WO 2010/100704 2010/36 10.09.2010<br />

(30) 04.03.2009 JP 2009050489<br />

(54) • DIAGNOSTISCHE BILDGEBUNGSTRÄGER-<br />

VORRICHTUNG, DIAGNOSTISCHES BILD-<br />

GEBUNGSTRÄGERVERFAHREN UND<br />

SPEICHERMEDIUM<br />

• DIAGNOSTIC IMAGING SUPPORT DEVICE,<br />

DIAGNOSTIC IMAGING SUPPORT<br />

METHOD, AND STORAGE MEDIUM<br />

• DISPOSITIF DE SUPPORT D'IMAGERIE DE<br />

DIAGNOSTIC, PROCÉDÉ DE SUPPORT<br />

D'IMAGERIE DE DIAGNOSTIC, ET SUP-<br />

PORT DE STOCKAGE<br />

(71) NEC Corporation, 7-1, Shiba 5-chome Minato-ku,<br />

Tokyo 108-8001, JP<br />

(72) MARUGAME, Atsushi, Tokyo 108-8001, JP

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