NOM-010-STPS-1999 - Normas Oficiales Mexicanas de Seguridad y ...
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284 (Primera Sección) DIARIO OFICIAL Lunes 13 <strong>de</strong> marzo <strong>de</strong> 2000<br />
4.1 La <strong>de</strong>sviación estándar relativa <strong>de</strong> las mediciones analíticas es aproximadamente <strong>de</strong>l 3% cuando<br />
las mediciones se hacen en los intervalos que aparecen en la tabla 2. La <strong>de</strong>sviación estándar relativa<br />
total será mayor que este valor <strong>de</strong>bido a errores asociados con los pasos <strong>de</strong> recolección y preparación <strong>de</strong><br />
muestras.<br />
4.2 En base a pruebas realizadas usando filtros cargados a 3 niveles <strong>de</strong> concentración con una<br />
generación <strong>de</strong> aerosoles dinámica y un sistema <strong>de</strong> muestreo, se obtuvo que el porcentaje promedio<br />
recuperado y la <strong>de</strong>sviación estándar para metales representativos es <strong>de</strong>:<br />
Metal<br />
Cd<br />
Co<br />
Cr<br />
Ni<br />
Pb<br />
% Promedio<br />
Recuperado<br />
100,8<br />
97,6<br />
96,6<br />
98,6<br />
98,7<br />
Desviación Estándar<br />
±...9,9<br />
± 13,9<br />
± 10,8<br />
± 10,3<br />
± 12,2<br />
5. Interferencias<br />
5.1 En la espectrofotometría <strong>de</strong> absorción atómica, la existencia <strong>de</strong> interferencias es menos<br />
frecuente que en cualquier otro método <strong>de</strong> <strong>de</strong>terminación analítica. Sin embargo, pue<strong>de</strong>n existir<br />
interferencias, y cuando se encuentren pue<strong>de</strong>n corregirse como se indica en las secciones siguientes:<br />
Los métodos <strong>de</strong> adiciones patrón y los datos para corrección y monitoreo son usados para i<strong>de</strong>ntificar<br />
la presencia <strong>de</strong> problemas <strong>de</strong> interferencias. La matriz <strong>de</strong> las muestras y estándares se ajustan tanto<br />
como sea posible para minimizar los problemas <strong>de</strong> interferencias que pudieran presentarse.<br />
5.1.1 Se pue<strong>de</strong> presentar una absorción obscura o una absorción no específica <strong>de</strong> las partículas<br />
producidas en la flama las cuales pue<strong>de</strong>n dispersar la radiación inci<strong>de</strong>nte causando una señal aparente <strong>de</strong><br />
absorción. Se pue<strong>de</strong>n encontrar problemas <strong>de</strong> dispersión <strong>de</strong> luz cuando se analizan soluciones con alto<br />
contenido <strong>de</strong> sales. Los problemas <strong>de</strong> dispersión <strong>de</strong> luz son más severos cuando las mediciones se hacen<br />
a bajas longitu<strong>de</strong>s <strong>de</strong> onda (por ejemplo abajo <strong>de</strong> 250 nm). La absorción oscura pue<strong>de</strong> también ocurrir<br />
como el resultado <strong>de</strong> la formación <strong>de</strong> varias especies moleculares que pue<strong>de</strong>n absorber luz. La absorción<br />
oscura <strong>de</strong>be explicarse por el uso <strong>de</strong> técnicas <strong>de</strong> absorción oscura (uso continuo <strong>de</strong> D 2 o H 2 longitu<strong>de</strong>s <strong>de</strong><br />
onda cercanas no absorbentes).<br />
5.1.2 Las interferencias <strong>de</strong>l espectro se refieren a aquellas interferencias que ocurren como el<br />
resultado <strong>de</strong> un átomo diferente <strong>de</strong>l medio que se está midiendo y que absorbe una porción <strong>de</strong> radiación<br />
inci<strong>de</strong>nte. Estas interferencias son extremadamente raras en la absorción atómica. En algunos casos, las<br />
lámparas <strong>de</strong> multi-elementos diferentes. En tales casos las lámparas <strong>de</strong> multi-elementos <strong>de</strong> cátodo hueco<br />
no <strong>de</strong>ben usarse, o el uso <strong>de</strong> ranuras más estrechas <strong>de</strong>l espectro o longitu<strong>de</strong>s <strong>de</strong> onda alternas <strong>de</strong>ben ser<br />
usadas para solucionar el problema.<br />
5.1.3 Las interferencias <strong>de</strong> ionización pue<strong>de</strong>n presentarse cuando se mi<strong>de</strong> un átomo fácilmente<br />
ionizable. El grado en el cual se ionizan los átomos es <strong>de</strong>pendiente <strong>de</strong> la concentración atómica y <strong>de</strong> la<br />
presencia <strong>de</strong> otros átomos en la muestra que también se ionizan fácilmente. Las interferencias por<br />
ionización pue<strong>de</strong>n controlarse adicionando a la muestra una alta concentración <strong>de</strong> otro elemento<br />
fácilmente ionizable que amortiguará la concentración <strong>de</strong>l electrón en la flama. Generalmente 1000 a<br />
2000 /ml <strong>de</strong> una sal <strong>de</strong> metales alcalinos (K, Na y Cs) se agregan a la muestra y a las soluciones<br />
estándar.<br />
5.1.4 Las interferencias químicas ocurren en la espectrofotometría <strong>de</strong> absorción atómica cuando las<br />
especies presentes en la muestra causan variaciones en el grado en el cual los átomos se forman en la<br />
flama. Dichas interferencias pue<strong>de</strong>n corregirse controlando la matriz estándar y la matriz <strong>de</strong> muestra,<br />
usando el método <strong>de</strong> adiciones estándar o usando la flama a alta temperatura.<br />
5.1.5 Las interferencias físicas pue<strong>de</strong>n presentarse si las propieda<strong>de</strong>s físicas <strong>de</strong> la muestra varían<br />
significativamente. Cambios en la viscosidad y en la tensión superficial, pue<strong>de</strong>n afectar la velocidad con<br />
que se aspira la muestra y causar resultados erróneos. La dilución <strong>de</strong> la muestra y/o el método <strong>de</strong><br />
adiciones estándar se usan para corregir este tipo <strong>de</strong> interferencias. Altas concentraciones <strong>de</strong> silicatos en