Zbornik radova Koridor 10 - Kirilo Savić

3rd International Scientific and Professional Conference
CORRIDOR 10 - a sustainable way of integrations
postoji fazni ugao i on zavisi od veličine i dubine defekta. Da bi se na dijagramu što osetljivije prikazale
promene u materijalu, ovaj dijagram se pri praktičnom prikazivanju rotira i normira tako da kriva AB
bude približno paralelna x-osi i predstavlja referentnu krivu, kako je prikazano na slici 5 desno. Krive
BC1 i BC2 na slici 5 desno kvalitativno predstavljaju kretanja tačke na dijagramu pri nailasku na
pukotinu manje i veće dubine.
Postupak pri ovakvom načinu prikazivanja i karakterizacije defekata je da se prvo podizanjem i
približavanjem sonde ispitivanom materijalu formira putanja AB, referentna za neoštećeni materijal i
sondu i podesi se njen željeni položaj na ekranu. Da bi se kvantitativno odredila dubina defekta,
njegova dužina, nagib i sl. potrebno je ispitivanje vršiti prvo na standardu od istog materijala na kome
su napravljeni defekti poznatih dubina, nagiba, dužina i sl. i na osnovu toga podesiti pojačanje u
mostu, da bi se dobila što bolja rezolucija i utvrdili kakva promena impedanse i ugla odgovara kojoj
vrsti defekta. Na slici 6 je prikazan dijagram koji se dobija kada se sonda kreće na standardnom
čeličnom uzorku koji ima tri vertikalne pukotine različite dubine.
Slika 6. Merenje na standardnom čeličnom uzorku: urezani uski žlebovi naznačenih dubina (levo),
prikaz na ekranu mernog uređaja (desno)
Krive koje se dobijaju prevlačenjem sonde preko defekata imaju različite visine što je posledica i
dužine i dubine defekta, ali i različite nagibe, koji su vezani za različite dubine defekata. Naime, uticaj
vrtložnih struja sa neke dubine ispod površine materijala se javlja sa vremenskim zakašnjenjem u
odnosu na uticaj onih koje su na površini (eng. phase lag), pa se ovo javlja kao dodatna promena faze
između struje i napona na sondi i koristi za procenu dubine defekta. U slučaju da se mali defekt nalazi
na dubini od jedne standardne dubine na ekranu bi kriva zaklapala ugao od 114 0 u odnosu na istu
krivu koja bi se dobila za isti defekt na površini materijala. Ako se pukotina prostire od površine do
neke dubine uticaji presečenih vrtložnih struja nisu istovremeni pa to utiče na nagib krive na
dijagramu, ali ne sa podjednakom težinom jer je gustina vrtložnih struja ispod površine manja.
Poseban problem predstavljaju pukotine koje su pod nekim nagibom manjim od 90 0 stepeni u odnosu
na površinu uzorka pa one presecaju vrtložne struje na različitim mestima i različitim dubinama, i čak
se dobijaju različite putanje na dijagramu ako se ide u smeru povećavanja dubine ili smanjenja dubine.
Zato procena dubine defekta preko nagiba nije previše precizna, ali može da posluži kao relativni
pokazatelj pri poređenju više defekata.
Ovaj metod prikazivanja i tumačenja defekata, uz korišćenje odgovarajućih standarda za ispitivani
materijal i uvežbanost i veliko iskustvo osobe koja vrši ispitivanje omogućava dobru karakterizaciju
defekta. Promenom frekvencije pobudnog napona i dimenzija sonde može se postići optimalan
kompromis između osetljivosti, rezolucije merenja i dubine prodiranja vrtložnih struja.
Na isti način rade uređaji na dve frekvencije kod kojih se sonda pobuđuje istovremeno na dve
frekvencije i na ekranu se istovremeno prikazuju dva dijagrama za isti defekt i zahvaljujući tome on se
preciznije karakteriše.
Belgrade, 2012 244