bericht forschungs· und entwicklungsarbeiten im jahre ... - Bibliothek

VERÖFFENTLICHUNGEN DES IAK
IM JAHRE 1970
,
Neutron Capture in 151Eu.
Physlcs, A 155(1970) S.21-32
MEYEH, 0.; JOHAN8S0N, N.G.E.; PICRAUX, S.T.;
MAVF:R, J.W.
Lattlce Location and vopant Behavlor of Group
11 and VI Elements Implanted In Silicon.
Solid State Communlcations, 8(1970) S.529-31
33?3 MEYER, 0.; GYULAI, J.; KAYER, J.W.
Analysis of Amorphous Layers on Silicon by
Backscattering and Channelling Effect
Measurements.
Surface Sclence, 22(1970) 8.263-76
KfK-1341 (Dezember 70)
3324 GVULA1, J.; HEYER, 0.; KAYER, J.W.;
RODRIGUEZ, V.
Analysis of Silicon Nitride Layers on Silicon
by ßackscattering and