II. İLERİ TEKNOLOJİLER ÇALIŞTAYI (İTÇ 2011) - Bilgesam

428
Şekil 15. Fonksiyonel yorulma deneyinde 80 çevrime maruz kalmış şekil bellekli yayın mikroyapısı 500X.
Şekil 15 da görülen Ni-Ti faz diyagramı incelendiğinde 50 Ni–50 Ti alaşımı için
600 o C’ den düşük sıcaklıklar da, TiNi and Ti2,3Ni gibi iki fazın termodinamik
olarak dengede olduğu söylenebilir.
Şekil 16. NiTi faz diyagramı (Otsuka ve Ren, 1999)
Geri saçılan elektronlar Analizi de (BSE) fonksiyonel yorulmada faz farklılıklarını
belirlemek ve vurgulamak üzere bu araştırmada kullanılmıştır. Aynı zamanda EDS
analizleri gerçekleştirilmiş ve mikroyapı fotoğraflarına eklenmiştir. Şekil 17 ve18, 5
mikron kalınlığında martenzit iğneleri ile boşluklara yerleşmiş çökeltileri göstermektedir.