II. İLERİ TEKNOLOJİLER ÇALIŞTAYI (İTÇ 2011) - Bilgesam

472
kontrastı (DIC) devreye sokularak ayırt edilebilirlik daha da arttırılmıştır. Aydınlık
alan ile görüntülemede, numune yüzeyinden gelen ışık doğrudan optik sisteme
yansıtılır. Parlatılmış metal yüzeyinde kontrast, fazların arasındaki ışık refleksiyon
katsayısındaki farkla elde edilir. Refleksiyon tipi DIC modunda ise mikroyapıda
bulunan fazların sertliklerine bağlı olarak oluşan yükseklik farkı ışığın aldığı yolun
ve dolayısı ile ışık şiddetinin farklı olmasına yol açar. Sonuç olarak yüzeyin
topografik bir profili elde edilir. Mikroyapıda yer alan karbürlerin matriksleri ile
olan sertlik farklılıkları bu konumda gözlenebilmelerine bir fayda sağlamıştır. Şekil
1a’da verilen aydınlık alan görüntüsünde %1 Nb içeren çelikte sadece küresele
yakın formda MC tipi karbürler gözlenirken Şekil 1b’de örneklendiği üzere diferansiyel
enterferans kontrast ile görüntülemede tane sınırlarında yer alan M6C karbürleri
de gözlenmektedir. Şekil 1c ve d, %2.66 Nb içeren çelikte birincil MC karbür
yapılarını göstermekte olup enterferans kontrast ile matriks-karbür arayüzeyleri
belirginleşmiştir. Yüksek niobyumlu çelik içerisinde çubuksu morfolojide matriks
içerisinde dağılım gösteren yapılar ise tipik ötektik MC karbürleridir (Şekil 1d).
Şekil 2’de %2.66 Nb içeren çeliğin parlatılmış konumda taramalı elektron mikroskobu
ile görüntülenmesi sonrası mikroyapıları verilmiştir. Bilindiği üzere, elektron
mikroskobisinde ikincil ve geri saçılmış elektronların kullanımı ile farklı kontrastlar
oluşturulabilir. İkincil elektronların ağırlıklı kullanımı ile elde edilen topografik
kontrastın yanı sıra geri saçılmış elektronların kullanımı ile materyal kontrast
matriks incelemelerinde kullanılabilir. Çoğunlukla köşe efektlerinin baskın olarak
ayırd edilebilirliğe katkı sağladığı topografi içeren matriks incelemelerinde ikincil
elektron ile çalışma bir avantaj sağlamakatdır. Materyal kontrast ile görüntülemede
eşdeğer atom numarasına sahip olan yöreler eşdeğer kontrast vermektedir. Şekil
2b’de mikroyapı içerisinde Nb-ca zengin birincil MC karbürleri ile yine Nb-ca
zengin ötektik karbürler eşdeğer kontrast ile gözlenmektedir. Şekil 3’de kimyasal
dağlanmış konumda %2.66 Nb içeren çelikte benzer kontrastlama teknikleri uygulanmış
olup matriks içi karbürler gözlenmektedir.