Bulletin 2010/15 - European Patent Office
22.12.2012 • Views
Share Embed Flag

Bulletin 2010/15 - European Patent Office

Bulletin 2010/15 - European Patent Office

Bulletin 2010/15 - European Patent Office

SHOW MORE
SHOW LESS
ePAPER READ
DOWNLOAD ePAPER
application.epo.org

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

START NOW

(G01P) II.1(1)<br />

• Tachygraphe avec deux unités de lecture/<br />

écriture pour cartes de données agencées<br />

dans un plan<br />

(73) Continental Automotive GmbH, Vahrenwalder<br />

Strasse 9, 30165 Hannover, DE<br />

(72) Burkart, Harald, 78054 Villingen-Schwenningen,<br />

DE<br />

Klostermeier, Dieter, 78050 Villingen-<br />

Schwenningen, DE<br />

(51) G01P 3/44 (11) 1 739 438 B1<br />

G01P <strong>15</strong>/00<br />

(25) En (26) En<br />

(21) 06113836.8 (22) 11.05.2006<br />

(84) DE FR GB<br />

(43) 03.01.2007<br />

(30) 01.07.2005 GB 0513545<br />

(54) • Überwachungsbildschirm für Strömungsmaschinengeschwindigkeit<br />

• Turbo machinery speed monitor<br />

• Moniteur de vitesse du mécanisme turbo<br />

(73) ICS Triplex Technology Limited, Hall Road,<br />

Maldon CM9 4LA, GB<br />

(72) Jones, Ian, West Mersea, Colchester CO5<br />

8RS, GB<br />

(74) Simons, Alison, et al, Dummett Copp 25 The<br />

Square Martlesham Heath, Ipswich, Suffolk,<br />

IP5 3SL, GB<br />

(51) G01P 3/44 (11) 1 780 549 B1<br />

F16J <strong>15</strong>/32 F16C 19/52<br />

F16C 33/78<br />

(25) En (26) En<br />

(21) 06022719.6 (22) 31.10.2006<br />

(84) DE FR<br />

(43) 02.05.2007<br />

(30) 01.11.2005 JP 2005317969<br />

(54) • Dichtungsanordnung mit einem Sensor<br />

und Wälzlagervorrichtung mit einer solchen<br />

Dichtungsanordnung<br />

• Seal device with sensor and rolling bearing<br />

device using the same<br />

• Dispositif d'étanchéité avec capteur et<br />

dispositif de roulement l'utilisant<br />

(73) JTEKT CORPORATION, 5-8, Minamisemba<br />

3-chome, Chuo-ku Osaka-shi Osaka 542-<br />

8502, JP<br />

UCHIYAMA MANUFACTURING CORP., 338<br />

Enami, Okayama-shi, Okayama 702-8004, JP<br />

(72) Koyagi, Katsura, Osaka-shi Osaka 542-8502,<br />

JP<br />

Kuwajima, Tooru, Osaka-shi Osaka 542-<br />

8502, JP<br />

Kageyama, Takeshi, Akaiwa-shi Okayama<br />

701-2221, JP<br />

(74) Weber, Joachim, Hoefer & Partner <strong>Patent</strong>anwälte<br />

Pilgersheimer Strasse 20, 8<strong>15</strong>43<br />

München, DE<br />

G01P <strong>15</strong>/00 → (51) G01P 3/44<br />

(51) G01R 1/073 (11) 1 503 216 B1<br />

H01R 11/01 H01L 21/66<br />

(25) Ja (26) En<br />

(21) 03758872.0 (22) 24.10.2003<br />

(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB<br />

GR HU IE IT LI LU MC NL PT RO SE SI SK<br />

TR<br />

(43) 02.02.2005<br />

(86) JP 2003/013618 24.10.2003<br />

(87) WO 2004/038433 2004/19 06.05.2004<br />

(30) 28.10.2002 JP 2002313457<br />

(54) • SHEET-FORM-VERBINDER UND HER-<br />

STELLUNGSVERFAHREN UND ANWEN-<br />

DUNG DAFÜR<br />

• SHEET-FORM CONNECTOR AND PRO-<br />

DUCTION METHOD AND APPLICATION<br />

THEREFOR<br />

Europäisches <strong>Patent</strong>blatt<br />

<strong>European</strong> <strong>Patent</strong> <strong>Bulletin</strong><br />

<strong>Bulletin</strong> européen des brevets<br />

• CONNECTEUR EN FORME DE FEUILLE ET<br />

PROCEDE DE PRODUCTION ET APPLICA-<br />

TION ASSOCIEE<br />

(73) JSR Corporation, 5-6-10, Tsukiji, Chuo-ku,<br />

Tokyo 104-8410, JP<br />

(72) Sato, Katsumi JSR Corporation, Tokyo 104-<br />

0045, JP<br />

Inoue, Kazuo JSR Corporation, Tokyo 104-<br />

0045, JP<br />

(74) TBK-<strong>Patent</strong>, Bavariaring 4-6, 80336<br />

München, DE<br />

(51) G01R 31/28 (11) 1 623 242 B1<br />

(25) De (26) De<br />

(21) 04739062.0 (22) 09.03.2004<br />

(84) DE FR GB IT<br />

(43) 08.02.2006<br />

(86) EP 2004/002420 09.03.2004<br />

(87) WO 2004/099802 2004/47 18.11.2004<br />

(30) 09.05.2003 DE 10320925<br />

(54) • VERFAHREN ZUM TESTEN VON UNBE-<br />

STÜCKTEN LEITERPLATTEN<br />

• METHOD FOR TESTING BARE PRINTED<br />

CIRCUIT BOARDS<br />

• PROCÉDÉ POUR TESTER DES CARTES<br />

DES CIRCUITS IMPRIMÉES NON-ÉQUI-<br />

PÉES<br />

(73) atg Luther & Maelzer GmbH, Zum Schlag 3,<br />

97877 Wertheim/Reicholzheim, DE<br />

(72) ROMANOV, Victor, 97877 Wertheim, DE<br />

YUSCHUK, Oleh, 97877 Wertheim, DE<br />

(74) Ganahl, Bernhard, et al, Huber & Schüssler<br />

<strong>Patent</strong>anwälte Truderinger Strasse 246,<br />

81825 München, DE<br />

(51) G01R 31/3185 (11) 1 851 560 B1<br />

(25) En (26) En<br />

(21) 06710860.5 (22) 09.02.2006<br />

(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB<br />

GR HU IE IS IT LI LT LU LV MC NL PL PT RO<br />

SE SI SK TR<br />

(43) 07.11.2007<br />

(86) IB 2006/050421 09.02.2006<br />

(87) WO 2006/085276 2006/33 17.08.2006<br />

(30) 11.02.2005 EP 05101041<br />

(54) • TESTEN EINER INTEGRIERTEN SCHAL-<br />

TUNG MIT MEHREREN TAKTDOMÄNEN<br />

• TESTING OF AN INTEGRATED CIRCUIT<br />

WITH A PLURALITY OF CLOCK DOMAINS<br />

• TEST D'UN CIRCUIT INTEGRE AVEC UNE<br />

PLURALITE DE DOMAINES D'HORLOGE<br />

(73) NXP B.V., High Tech Campus 60, 5656 AG<br />

Eindhoven, NL<br />

(72) WAAYERS, Thomas F., c/o Philips I.P. &<br />

Standards, Redhill, Surrey RH1 5HA, GB<br />

MORREN, Richard, c/o Philips I.P. & Standards,<br />

Redhill, Surrey RH1 5HA, GB<br />

(74) Williamson, Paul Lewis, et al, NXP Semiconductors<br />

UK Ltd. Intellectual Property<br />

Department Betchworth House 57-65 Station<br />

Road, Redhill Surrey RH1 1DL, GB<br />

(51) G01R 31/3185 (11) 1 946 132 B1<br />

(25) En (26) En<br />

(21) 06821206.7 (22) 23.10.2006<br />

(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB<br />

GR HU IE IS IT LI LT LU LV MC NL PL PT RO<br />

SE SI SK TR<br />

(43) 23.07.2008<br />

(86) IB 2006/053889 23.10.2006<br />

(87) WO 2007/069098 2007/25 21.06.2007<br />

(30) 04.11.2005 EP 05110387<br />

(54) • VERFAHREN UND TESTVORRICHTUNG<br />

ZUR PRÜFUNG INTEGRIERTER SCHAL-<br />

TUNGEN<br />

• INTEGRATED CIRCUIT TEST METHOD<br />

AND TEST APPARATUS<br />

624<br />

<strong>Patent</strong>e<br />

<strong>Patent</strong>s<br />

Brevets (<strong>15</strong>/<strong>2010</strong>) 14.04.<strong>2010</strong><br />

• PROCEDE ET APPAREIL PERMETTANT DE<br />

SOUMETTRE UN CIRCUIT INTEGRE A UN<br />

ESSAI<br />

(73) NXP B.V., High Tech Campus 60, 5656 AG<br />

Eindhoven, NL<br />

(72) VRANKEN, Hendrikus, P., E., Redhill, Surrey<br />

RH1 5HA, GB<br />

(74) Williamson, Paul Lewis, et al, NXP Semiconductors<br />

UK Ltd. Intellectual Property<br />

Department Betchworth House 57-65 Station<br />

Road, Redhill Surrey RH1 1DL, GB<br />

(51) G01R 31/3185 (11) 1 952 168 B1<br />

(25) En (26) En<br />

(21) 06809673.4 (22) 23.10.2006<br />

(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB<br />

GR HU IE IS IT LI LT LU LV MC NL PL PT RO<br />

SE SI SK TR<br />

(43) 06.08.2008<br />

(86) IB 2006/053895 23.10.2006<br />

(87) WO 2007/054845 2007/20 18.05.2007<br />

(30) 14.11.2005 EP 05110725<br />

(54) • INTEGRIERTE SCHALTUNGSANORDNUNG<br />

UND ENTWURFSVERFAHREN<br />

• INTEGRATED CIRCUIT ARRANGEMENT<br />

AND DESIGN METHOD<br />

• AGENCEMENT DE CIRCUIT INTEGRE ET<br />

PROCEDE DE CONCEPTION<br />

(73) NXP B.V., High Tech Campus 60, 5656 AG<br />

Eindhoven, NL<br />

(72) VRANKEN, Hendrikus, P., E., Redhill Surrey<br />

RH1 5HA, GB<br />

(74) Williamson, Paul Lewis, et al, NXP Semiconductors<br />

UK Ltd. Intellectual Property<br />

Department Betchworth House 57-65 Station<br />

Road, Redhill Surrey RH1 1DL, GB<br />

(51) G01R 31/327 (11) 1 358 499 B1<br />

(25) En (26) En<br />

(21) 01270780.8 (22) 14.12.2001<br />

(84) AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI<br />

LU MC NL PT SE TR<br />

(43) 05.11.2003<br />

(86) SE 2001/002782 14.12.2001<br />

(87) WO 2002/048729 2002/25 20.06.2002<br />

(30) <strong>15</strong>.12.2000 US 255424 P<br />

(54) • ÜBERWACHUNG EINES LASTSTUFEN-<br />

SCHALTERS<br />

• TAP CHANGER MONITORING<br />

• SURVEILLANCE DE SELECTEUR DE<br />

CHARGE<br />

(73) ABB Technology AG, Affolternstrasse 44,<br />

8050 Zürich, CH<br />

(72) STENESTAM, Bengt-Olof, S-771 42 Ludvika,<br />

SE<br />

ANDERSSON, Gunnar, S-770 14 Nyhammar,<br />

SE<br />

(74) Dahlstrand, Björn, ABB AB Intellectual<br />

Property Ingenjör Bååths Gata 11, 721 83<br />

Västerås, SE<br />

(51) G01R 33/035 (11) 1 387 178 B1<br />

(25) De (26) De<br />

(21) 03017464.3 (22) 01.08.2003<br />

(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB<br />

GR HU IE IT LI LU MC NL PT RO SE SI SK<br />

TR<br />

(43) 04.02.2004<br />

(30) 02.08.2002 DE 10235633<br />

(54) • SQUID Magnetometer<br />

• SQUID magnetometer<br />

• Magnetomètre à SQUID<br />

(73) QEST Quantenelektronische Systeme GmbH,<br />

Max-Eyth-Strasse 38, 71088 Holzgerlingen,<br />

DE<br />

Institut für Photonische Technologien e.V.,<br />

Albert-Einstein-Strasse 9, 07745 Jena, DE<br />

(72) Oppenländer, Jörg, 72138 Kirchentellinsfurt,<br />

DE

logo

products

Resources

Company

Terms of service
Privacy policy
Cookie policy
Cookie settings
Imprint
Change language
Made with love in Switzerland
© 2024 Yumpu.com all rights reserved

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!