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ordinati di provocare fenomeni di diffrazione nei confronti di un fascio di raggi X opportuni che lo investa secondo una determinata angolazione. La diffrazione dei raggi X da parte dei vari piani cristallini forma una serie di riflessi variabili per posizione e intensità che costituiscono quindi un profilo caratteristico del cristallo che l'ha provocato. La formazione dei riflessi e regolata dall'equazione di Bragg: λ è lunghezza d'onda del fascio di raggi X impiegato d è distanza tra i piani reticolari riflettenti nλ = 2d sen θ θ è la metà dell'angolo fra le direzioni di incidenza e di rifrazione del raggio. Dall'analisi del profilo di diffrazione e possibile risalire sia alla natura della sostanza che alla sua forma cristallina. Ne consegue che questo metodo di indagine e applicabile solo a sostanze cristalline, mentre non fornisce praticamente informazioni sui materiali di natura vetrosa o resinosa la cui struttura reticolare non è ordinata. Anziché un cristallo abbastanza grosso e ben formato, può essere più conveniente utilizzare per l’analisi la sostanza cristallina macinata in polvere fine. In seguito a un effetto di orientamento statistico dei microcristallini la diffrazione X su tale polvere fornisce un profilo di diffrazione del tutto analogo a quello del monocristallo. I riflessi possono venire registrati (per intensità e posizione angolare), ad esempio, da una pellicola fotografica alloggiata in una adatta camera. Si ha allora il metodo di Debye - Scherrer. Altrimenti è possibile registrare i riflessi mediante un contatore Geiger a goniometro che ruota angolarmente intorno al campione, raccogliendo i riflessi di diffrazione e trasformandoli i segnali elettrici che vengono inviati ad un registratore grafico. Esistono tabelle che riportano per moltissime sostanze inorganiche e organiche grandezze correlate con la posizione angolare e intensità dei riflessi e che per confronto permettono l’identificazione quantitativa e semiquantitativa della sostanza in esame In maniera molto elementare descriviamo lo schema di un diffrattometro a raggi X é costituito: 1. una sorgente di raggi X costituita da un tubo catodico ci una ampolla in vetro in cui si trovano situati da parti opposte, sotto vuoto spinto, due elettrodi collegati a forti differenze di potenziale e intensità di corrente necessarie alla produzione di un fascio elettronico di opportuna energia cinetica. Un elettrodo è costituito da un filamento di tungsteno riscaldato elettricamente che in tal modo produce elettroni Questi vengono poi focalizzati sull'altro elettrodo chiamato anticatodo, di forma, materiale e orientamento opportuni alla produzione di raggi X con una determinata lunghezza d'onda. 285
2. dispositivo di collimazione costituito da schermi con opportune fenditure per ottenere un fascio di raggi X paralleli. 3. camera porta campione. 4. rivelatore dei raggi diffratti come già detto, questo può essere almeno di due tipi: la camera di Debye contenente una pellicola fotografica (in tal caso in questa stessa camera, al centro, e alloggiato il campione) o un contatore Geiger a goniometro collegato a un registratore grafico. Tipi indagini effettuabili La diffrattometria X permette analisi qualitative e cristallografiche di qualsiasi sostanza cristallina. In particolare, nel settore delle opere d'arte, essa e valida per analisi di: pigmenti, sali inquinanti, prodotti di corrosione, materiali lapidei in genere, leghe metalliche, materiali ceramici. DIFFRATTOMETRIA A RAGGI X Tipo di indagine effettuabile Analisi qualitativa e cristallografica di tutti i materiali solidi cristallini (es. pigmenti, sali inquinanti, prodotti di corrosione, materiali lapidei in genere, leghe metalliche materiali ceramici vetrosi, ecc.). Analisi semiquantitative degli stessi. Sensibilità Analisi effettuabile su microquantità oppure su quantità dell'ordine di decine di milligrammi a seconda della tecnica di registrazione utilizzata. Scarsa precisione nelle analisi quantitative. Oggetto dell'indagine Campione rappresentativo prelevato dal opera. Principio di base Correlazione tra lo spettro della diffrazione X provocata dai piani cristallini delle sostanze e la natura chimica - cristallografica della sostanza. Principio di base FLUORESCENZA AI RAGGI X Si dà il nome di fluorescenza a quei fenomeni ottici nei quali un materiale colpito da radiazioni elettromagnetiche di certe lunghezze d'onda riemette radiazioni con lunghezze d'onda superiori a quelle della radiazione incidente. 286
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ODDONE MASSIMO LEZIONI DI ARCHEOMET
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RICOGNIZIONE SUBACQUEA Il motivo pe
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Possibili traiettorie delle onde ac
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METODI DI DATAZIONE L'argomento di
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Il fenomeno della radioattività na
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1. Cenni sulla storia del metodo. 2
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Decontaminazione dei campioni: Sono
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C = C e t 0 dove C 0 è la concentr
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1) Determinazioni sperimentali Sia
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La costante del fenomeno è la vita
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La ricombinazione può anche avveni
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II concetto fondamentale della puri
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Una possibilità di risolvere il pr
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Limiti del metodo I limiti inferior
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Applicazioni della datazione con il
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Il metodo delle Tracce di Fissione
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La Terra doveva essere parzialmente
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Fisher Scientific
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