Plenarvorträge - DPG-Tagungen
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Halbleiterphysik Montag<br />
Anregungsquelle diente, die Position des freien A-Exzitons im Bereich<br />
von 10 K bis Raumtemperatur bestimmt. Ein Vergleich dieser Daten<br />
zeigt eine gute Übereinstimmung der Temperaturverläufe. Mit Hilfe unserer<br />
Messungen werden wir verschiedene Modelle zur Beschreibung der<br />
Temperaturabhängigkeit der Bandlücke diskutieren.<br />
HL 12.81 Mo 16:30 Poster A<br />
Einfluss von verschiedenen Nukleationsschichten auf die Eigenschaften<br />
von ZnO-Dünnfilmen — •Holger von Wenckstern,<br />
Andreas Rahm, Jörg Lenzner, Michael Lorenz, Holger Hochmuth<br />
und Marius Grundmann — Universität Leipzig, Institut für<br />
Experimentelle Physik II, Linnéstraße 5<br />
ZnO-Dünnfilme wurden epitaktisch mittels gepulster Laser Deposition<br />
auf Saphir abgeschieden. Dabei wurde der Einfluss verschiedener<br />
Nukleationsschichten (ZnO, MgO) auf die strukturellen, optischen<br />
und elektrischen Eigenschaften mittels Röntgen-, SNMS-, RHEED-,<br />
Kathodolumineszenz- und Halleffektmessungen untersucht. Die kritischen<br />
Züchtungsparameter für der Nukleationsschichten wie Temperatur,<br />
Art und Druck des Restgases wurden ebenfalls variiert. Zudem wurde der<br />
Einfluss der Orientierung des Substrates in die Untersuchungen einbezogen.<br />
HL 12.82 Mo 16:30 Poster A<br />
Nano structured material in electrodynamic traps — •Silko<br />
Barth and Dieter Gerlich — Department of Physics, Technische<br />
Universität Chemnitz, 09126 Chemnitz, Germany<br />
The goal of this project is the mass spectrometrical and optical characterization<br />
of simple structures of ligand stabilized clusters. Small agglomerates<br />
(e.g., dimers or trimers) of these chemically produced nanoparticles<br />
are stored in a controlled inert atmosphere or under UHV conditions<br />
using time dependent electric fields. The new trapping apparatus offers<br />
numerous possibilities for determining physical and chemical properties<br />
of single isolated objects. Experimental parameters are n, the number of<br />
particles in an agglomerate, its charge and temperature, and the environment<br />
(e.g., buffer or reactant gas). Optical detection and analysis is<br />
based on laser methods such as differential light scattering, laser induced<br />
fluorescence, or non linear optical effects. The method is applied to water<br />
soluble CdTe nanoparticles and small agglomerates (n < 10) of them.<br />
In a first step the material is injected via µm sized water droplets. The<br />
evaporation process if followed in real time. After complete drying only<br />
the semiconductor particles remain, allowing one to investigate them in<br />
detail. Finally, it is also planned to modify or remove the ligand shell.<br />
HL 12.83 Mo 16:30 Poster A<br />
Real-time spectroscopic ellipsometry monitoring of a ZnO thin<br />
film pulsed laser deposition growth — •N. Ashkenov 1 , M. Schubert<br />
1 , H. Hochmuth 1 , M. Lorenz 1 , M. Grundmann 1 , and B.<br />
Johs 2 — 1 Fakultät für Physik und Geowissenschaften, Institut für Experimentelle<br />
Physik II, Universität Leipzig, Linnéstraße 5, 04103 Leipzig<br />
— 2 J. A. Woollam Co., 650 ’J’ Street, Suite 39,Lincoln, NE 68508 USA<br />
Real-time in-situ optical monitoring and control of thin-film growth processes<br />
provides depth-resolved optical properties of heteroepitaxial layer<br />
structures. Semiconductor device structures based on ZnO and its isolectronically<br />
mixed (Mg,Cd)xZn1−xO compounds are promising candidates<br />
for next-generation UV optoelectronics, which can be grown by pulsed<br />
laser deposition (PLD). Substrate temperature, growth rate, layer thickness<br />
and composition can be accessed by in-situ spectroscopic ellipsometry.<br />
A two-step PLD growth mode of a (0001) ZnO thin film on (0001)<br />
Al2O3 substrate at 1053 K was monitored in-situ in the photon energy<br />
range from 1.25 eV to 3.335 eV. Changes in the growth rate and in the<br />
optical properties of the ZnO film throughout the deposition process are<br />
determined utilizing the generalized virtual interface approach. Detailed<br />
knowledge about the unintentional variations in the deposition conditions<br />
can be used for feed-back control in order to optimize the PLD growth<br />
process. A simple ZnO dielectric function model approach is developed,<br />
which can be used to control the ZnO film growth in real time.<br />
HL 12.84 Mo 16:30 Poster A<br />
Elektrische Charakterisierung von n-leitendem ZnO mittels<br />
Schottky Kontakten — •Holger von Wenckstern, Swen Weinhold,<br />
Gisela Biehne, Rainer Pickenhain, Holger Hochmuth,<br />
Michael Lorenz und Marius Grundmann — Universität Leipzig,<br />
Institut für Experimentelle Physik II, Linnestraße 5<br />
Der transparente II-VI Halbleiter ZnO ist aufgrund seiner vorteilhaften<br />
Eigenschaften, wie z. B. der hohen Exzitonbindungsenergie von<br />
ca. 60 meV , in den letzten Jahren ins Zentrum des Interesses vieler<br />
Festkörperphysiker gerückt. Nominell undotiertes ZnO ist n-leitend, was<br />
auf den Einbau von effektiv Masse Donatoren und/oder auf den Einbau<br />
von Wasserstoff zurückzuführen ist (letzteres insbesondere bei der Abscheidung<br />
mittels Gasphasentransportmethoden). Außerdem ist die Bildungsenergie<br />
von donatorartigen intrinsischen Defekten wie Sauerstoffvakanzen<br />
bzw. Zink auf Zwischengitterplätzen (beides tiefe Störstellen<br />
in ZnO) deutlich geringer als die von akzeptorartigen intrinsischen<br />
Störstellen. Aus diesen Gründen ist die Herstellung von dauerhaft pleitendem<br />
ZnO bis jetzt noch nicht reproduzierbar gelungen. Um die<br />
Paramater und Formationsmechanismen von tiefen Störstellen in ZnO<br />
zu studieren, wurden DLTS-Messungen in einem Temperaturbereich von<br />
4 K bis 450 K mittels Schottky Kontakten vorgenommen. Diese wurden<br />
auf ZnO Einkristallen und auf mittels gepulster Laser Deposition<br />
auf Saphir abgeschiedenen ZnO-Dünnfilmen aufgedampft und mit Kapazitäts-Spannungs-,<br />
Strom-Spannungsmessungen und Admittanzspektroskopie<br />
charakterisiert. Zudem wurde der Photostrom in einem Temperaturbereich<br />
von 4 K bis 300 K gemessen.<br />
HL 12.85 Mo 16:30 Poster A<br />
Identifizierung von flachen Donatoren in ZnO — •H. Alves 1 ,<br />
B.K. Meyer 1 und A. Rodina 2 — 1 I. Physikalisches Institut, Justus-<br />
Liebig-Universität Gießen, Heinrich-Buff-Ring 16, 35392 Gießen — 2 Ioffe<br />
Institut, St. Petersburg, Rußland<br />
ZnO zeigt eine Vielzahl von exzitonischen Übergängen, die in der Vergangenheit<br />
sowohl Donator- als auch Akzeptor-gebundenen Exzitonen<br />
zugeordnet wurden. Über die Beobachtung der angeregten Zustände der<br />
gebundenen Exzitonen (TES) können die Rekombinationen von I4 bis<br />
I10 zweifelsfrei als neutrale Donator-gebundene Exzitonen identifiziert<br />
werden. Ihre Lokalisierungsenergien folgen der Regel von Haynes die sich<br />
aus der theoretischen Modellierung der angeregten Zustände und der Aufspaltung<br />
der 2s- und 2p-Zustände ergibt.<br />
HL 12.86 Mo 16:30 Poster A<br />
Temperature-dependent band-gap energies and optical constants<br />
of ZnO — •N. Ashkenov, M. Schubert, W. Chakai, G.<br />
Benndorf, H. Hochmuth, M. Lorenz, and M. Grundmann —<br />
Fakultät für Physik und Geowissenschaften, Institut für Experimentelle<br />
Physik II, Universität Leipzig, Linnéstraße 5, 04103 Leipzig<br />
We report the temperature dependencies of the fundamental band-toband<br />
transition energies and the below-band-gap refractive index in ZnO.<br />
Spectroscopic ellipsometry data, taken from a (0001)-cut ZnO single crystal<br />
at temperatures between 300 K and 1154 K, and for photon energies<br />
from 1.25 eV to 3.335 eV, are analyzed by using model dielectric function<br />
approaches, augmented by excitonic continuum contributions. A strong<br />
and linear red-shift of the three wurtzite-type Γ-point transition energies<br />
is observed. The increase of the valence band splitting energies upon<br />
temperature is indicative for an increase of the quasi-cubic model parameters.<br />
Results of photoluminescence studies between 4.4 K and 300 K are<br />
used to supplement the high-temperature band-gap data. For ZnO, the<br />
phonon dispersion must be considered appropriately in order to model<br />
the temperature dependence of the fundamental band-to-band transition<br />
energy. We obtain strong contributions due to optical phonons at elevated<br />
temperatures, whereas acoustic phonons dominate the electron-phonon<br />
coupling at low temperatures.<br />
HL 12.87 Mo 16:30 Poster A<br />
Verspannungs- und Temperaturabhängigkeit der Energiebandstruktur<br />
von wurtzitischem ZnO mittels Empirischer<br />
Pseudopotential (EPP)-Rechnungen unter Berücksichtigung<br />
der Spin-Bahn-Wechselwirkung — •Daniel Fritsch, Heidemarie<br />
Schmidt und Marius Grundmann — Universität Leipzig,<br />
Fakultät für Physik und Geowissenschaften<br />
Beim Züchten von ZnO-Filmen auf Substraten bzw. in Heterostrukturen<br />
treten aufgrund der Gitterfehlanpassung Verspannungseffekte auf.<br />
Der Einfluß der Verspannungseffekte auf die Energiebandstruktur von<br />
ZnO wird in der Rechnung über eine Variation der Gitterkonstanten a0<br />
und c0 des unverspannten Volumenmaterials berücksichtigt, wobei die<br />
verwendeten übertragbaren, strukturunabhängigen Parameter r i und z i<br />
der ionaren Modellpotentiale von Zn und O iterativ aus experimentell<br />
bestimmten Tieftemperaturübergangsenergien binärer Halbleiterverbindungen<br />
gewonnen wurden.<br />
Desweiteren bilden die experimentell bestimmten temperaturabhängigen<br />
a und c Gitterkonstanten 1 von ZnO den Ausgangspunkt<br />
für EPP-Rechnungen zur theoretischen Untersuchung der Temperatur-