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Plenarvorträge - DPG-Tagungen

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Halbleiterphysik Montag<br />

Anregungsquelle diente, die Position des freien A-Exzitons im Bereich<br />

von 10 K bis Raumtemperatur bestimmt. Ein Vergleich dieser Daten<br />

zeigt eine gute Übereinstimmung der Temperaturverläufe. Mit Hilfe unserer<br />

Messungen werden wir verschiedene Modelle zur Beschreibung der<br />

Temperaturabhängigkeit der Bandlücke diskutieren.<br />

HL 12.81 Mo 16:30 Poster A<br />

Einfluss von verschiedenen Nukleationsschichten auf die Eigenschaften<br />

von ZnO-Dünnfilmen — •Holger von Wenckstern,<br />

Andreas Rahm, Jörg Lenzner, Michael Lorenz, Holger Hochmuth<br />

und Marius Grundmann — Universität Leipzig, Institut für<br />

Experimentelle Physik II, Linnéstraße 5<br />

ZnO-Dünnfilme wurden epitaktisch mittels gepulster Laser Deposition<br />

auf Saphir abgeschieden. Dabei wurde der Einfluss verschiedener<br />

Nukleationsschichten (ZnO, MgO) auf die strukturellen, optischen<br />

und elektrischen Eigenschaften mittels Röntgen-, SNMS-, RHEED-,<br />

Kathodolumineszenz- und Halleffektmessungen untersucht. Die kritischen<br />

Züchtungsparameter für der Nukleationsschichten wie Temperatur,<br />

Art und Druck des Restgases wurden ebenfalls variiert. Zudem wurde der<br />

Einfluss der Orientierung des Substrates in die Untersuchungen einbezogen.<br />

HL 12.82 Mo 16:30 Poster A<br />

Nano structured material in electrodynamic traps — •Silko<br />

Barth and Dieter Gerlich — Department of Physics, Technische<br />

Universität Chemnitz, 09126 Chemnitz, Germany<br />

The goal of this project is the mass spectrometrical and optical characterization<br />

of simple structures of ligand stabilized clusters. Small agglomerates<br />

(e.g., dimers or trimers) of these chemically produced nanoparticles<br />

are stored in a controlled inert atmosphere or under UHV conditions<br />

using time dependent electric fields. The new trapping apparatus offers<br />

numerous possibilities for determining physical and chemical properties<br />

of single isolated objects. Experimental parameters are n, the number of<br />

particles in an agglomerate, its charge and temperature, and the environment<br />

(e.g., buffer or reactant gas). Optical detection and analysis is<br />

based on laser methods such as differential light scattering, laser induced<br />

fluorescence, or non linear optical effects. The method is applied to water<br />

soluble CdTe nanoparticles and small agglomerates (n < 10) of them.<br />

In a first step the material is injected via µm sized water droplets. The<br />

evaporation process if followed in real time. After complete drying only<br />

the semiconductor particles remain, allowing one to investigate them in<br />

detail. Finally, it is also planned to modify or remove the ligand shell.<br />

HL 12.83 Mo 16:30 Poster A<br />

Real-time spectroscopic ellipsometry monitoring of a ZnO thin<br />

film pulsed laser deposition growth — •N. Ashkenov 1 , M. Schubert<br />

1 , H. Hochmuth 1 , M. Lorenz 1 , M. Grundmann 1 , and B.<br />

Johs 2 — 1 Fakultät für Physik und Geowissenschaften, Institut für Experimentelle<br />

Physik II, Universität Leipzig, Linnéstraße 5, 04103 Leipzig<br />

— 2 J. A. Woollam Co., 650 ’J’ Street, Suite 39,Lincoln, NE 68508 USA<br />

Real-time in-situ optical monitoring and control of thin-film growth processes<br />

provides depth-resolved optical properties of heteroepitaxial layer<br />

structures. Semiconductor device structures based on ZnO and its isolectronically<br />

mixed (Mg,Cd)xZn1−xO compounds are promising candidates<br />

for next-generation UV optoelectronics, which can be grown by pulsed<br />

laser deposition (PLD). Substrate temperature, growth rate, layer thickness<br />

and composition can be accessed by in-situ spectroscopic ellipsometry.<br />

A two-step PLD growth mode of a (0001) ZnO thin film on (0001)<br />

Al2O3 substrate at 1053 K was monitored in-situ in the photon energy<br />

range from 1.25 eV to 3.335 eV. Changes in the growth rate and in the<br />

optical properties of the ZnO film throughout the deposition process are<br />

determined utilizing the generalized virtual interface approach. Detailed<br />

knowledge about the unintentional variations in the deposition conditions<br />

can be used for feed-back control in order to optimize the PLD growth<br />

process. A simple ZnO dielectric function model approach is developed,<br />

which can be used to control the ZnO film growth in real time.<br />

HL 12.84 Mo 16:30 Poster A<br />

Elektrische Charakterisierung von n-leitendem ZnO mittels<br />

Schottky Kontakten — •Holger von Wenckstern, Swen Weinhold,<br />

Gisela Biehne, Rainer Pickenhain, Holger Hochmuth,<br />

Michael Lorenz und Marius Grundmann — Universität Leipzig,<br />

Institut für Experimentelle Physik II, Linnestraße 5<br />

Der transparente II-VI Halbleiter ZnO ist aufgrund seiner vorteilhaften<br />

Eigenschaften, wie z. B. der hohen Exzitonbindungsenergie von<br />

ca. 60 meV , in den letzten Jahren ins Zentrum des Interesses vieler<br />

Festkörperphysiker gerückt. Nominell undotiertes ZnO ist n-leitend, was<br />

auf den Einbau von effektiv Masse Donatoren und/oder auf den Einbau<br />

von Wasserstoff zurückzuführen ist (letzteres insbesondere bei der Abscheidung<br />

mittels Gasphasentransportmethoden). Außerdem ist die Bildungsenergie<br />

von donatorartigen intrinsischen Defekten wie Sauerstoffvakanzen<br />

bzw. Zink auf Zwischengitterplätzen (beides tiefe Störstellen<br />

in ZnO) deutlich geringer als die von akzeptorartigen intrinsischen<br />

Störstellen. Aus diesen Gründen ist die Herstellung von dauerhaft pleitendem<br />

ZnO bis jetzt noch nicht reproduzierbar gelungen. Um die<br />

Paramater und Formationsmechanismen von tiefen Störstellen in ZnO<br />

zu studieren, wurden DLTS-Messungen in einem Temperaturbereich von<br />

4 K bis 450 K mittels Schottky Kontakten vorgenommen. Diese wurden<br />

auf ZnO Einkristallen und auf mittels gepulster Laser Deposition<br />

auf Saphir abgeschiedenen ZnO-Dünnfilmen aufgedampft und mit Kapazitäts-Spannungs-,<br />

Strom-Spannungsmessungen und Admittanzspektroskopie<br />

charakterisiert. Zudem wurde der Photostrom in einem Temperaturbereich<br />

von 4 K bis 300 K gemessen.<br />

HL 12.85 Mo 16:30 Poster A<br />

Identifizierung von flachen Donatoren in ZnO — •H. Alves 1 ,<br />

B.K. Meyer 1 und A. Rodina 2 — 1 I. Physikalisches Institut, Justus-<br />

Liebig-Universität Gießen, Heinrich-Buff-Ring 16, 35392 Gießen — 2 Ioffe<br />

Institut, St. Petersburg, Rußland<br />

ZnO zeigt eine Vielzahl von exzitonischen Übergängen, die in der Vergangenheit<br />

sowohl Donator- als auch Akzeptor-gebundenen Exzitonen<br />

zugeordnet wurden. Über die Beobachtung der angeregten Zustände der<br />

gebundenen Exzitonen (TES) können die Rekombinationen von I4 bis<br />

I10 zweifelsfrei als neutrale Donator-gebundene Exzitonen identifiziert<br />

werden. Ihre Lokalisierungsenergien folgen der Regel von Haynes die sich<br />

aus der theoretischen Modellierung der angeregten Zustände und der Aufspaltung<br />

der 2s- und 2p-Zustände ergibt.<br />

HL 12.86 Mo 16:30 Poster A<br />

Temperature-dependent band-gap energies and optical constants<br />

of ZnO — •N. Ashkenov, M. Schubert, W. Chakai, G.<br />

Benndorf, H. Hochmuth, M. Lorenz, and M. Grundmann —<br />

Fakultät für Physik und Geowissenschaften, Institut für Experimentelle<br />

Physik II, Universität Leipzig, Linnéstraße 5, 04103 Leipzig<br />

We report the temperature dependencies of the fundamental band-toband<br />

transition energies and the below-band-gap refractive index in ZnO.<br />

Spectroscopic ellipsometry data, taken from a (0001)-cut ZnO single crystal<br />

at temperatures between 300 K and 1154 K, and for photon energies<br />

from 1.25 eV to 3.335 eV, are analyzed by using model dielectric function<br />

approaches, augmented by excitonic continuum contributions. A strong<br />

and linear red-shift of the three wurtzite-type Γ-point transition energies<br />

is observed. The increase of the valence band splitting energies upon<br />

temperature is indicative for an increase of the quasi-cubic model parameters.<br />

Results of photoluminescence studies between 4.4 K and 300 K are<br />

used to supplement the high-temperature band-gap data. For ZnO, the<br />

phonon dispersion must be considered appropriately in order to model<br />

the temperature dependence of the fundamental band-to-band transition<br />

energy. We obtain strong contributions due to optical phonons at elevated<br />

temperatures, whereas acoustic phonons dominate the electron-phonon<br />

coupling at low temperatures.<br />

HL 12.87 Mo 16:30 Poster A<br />

Verspannungs- und Temperaturabhängigkeit der Energiebandstruktur<br />

von wurtzitischem ZnO mittels Empirischer<br />

Pseudopotential (EPP)-Rechnungen unter Berücksichtigung<br />

der Spin-Bahn-Wechselwirkung — •Daniel Fritsch, Heidemarie<br />

Schmidt und Marius Grundmann — Universität Leipzig,<br />

Fakultät für Physik und Geowissenschaften<br />

Beim Züchten von ZnO-Filmen auf Substraten bzw. in Heterostrukturen<br />

treten aufgrund der Gitterfehlanpassung Verspannungseffekte auf.<br />

Der Einfluß der Verspannungseffekte auf die Energiebandstruktur von<br />

ZnO wird in der Rechnung über eine Variation der Gitterkonstanten a0<br />

und c0 des unverspannten Volumenmaterials berücksichtigt, wobei die<br />

verwendeten übertragbaren, strukturunabhängigen Parameter r i und z i<br />

der ionaren Modellpotentiale von Zn und O iterativ aus experimentell<br />

bestimmten Tieftemperaturübergangsenergien binärer Halbleiterverbindungen<br />

gewonnen wurden.<br />

Desweiteren bilden die experimentell bestimmten temperaturabhängigen<br />

a und c Gitterkonstanten 1 von ZnO den Ausgangspunkt<br />

für EPP-Rechnungen zur theoretischen Untersuchung der Temperatur-

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