09.12.2012 Views

Plenarvorträge - DPG-Tagungen

Plenarvorträge - DPG-Tagungen

Plenarvorträge - DPG-Tagungen

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

Halbleiterphysik Donnerstag<br />

HL 44.22 Do 16:30 Poster A<br />

Streuung von Elektronen und 3D longitudinalen Phononen in<br />

ungeordneten Bulk-Materialien — •Frank Löcse — TU Chemnitz,<br />

Institut für Physik, 09107 Chemnitz<br />

Für die Berechnung der Energierelaxationsrate der Elektron-Phonon<br />

Streuung in ungeordneten Bulk-Materialien gibt es im wesentlichen zwei<br />

sich widersprechende Theorien. In deren Ergebnis hängt die Energierelaxationsrate<br />

1/τe−ph von Phononenwellenzahl q und mittlerer elastischer<br />

freier Weglänge l der Elektronen im Bereich ql < 1 wie 1/τe−ph ∼ ql/τ0<br />

bzw. wie 1/τe−ph ∼ 1/(ql)τ0 ab. Beide Abhängigkeiten werden durch<br />

das Experiment bestätigt. Hier ist 1/τ0 ∼ T 3 die Relaxationsrate im<br />

reinen Material. Anhand eines einfachen Modells zeigen wir, daß sich<br />

beide Abhängigkeiten aus einem einzigen Ausdruck für die Energierelaxationsrate<br />

im Bereich ql < 1 ableiten lassen und zwar in Abhängigkeit<br />

von Temperatur des Phononengases und Schallgeschwindigkeit. Grundlage<br />

der analytischen Rechnung ist eine von uns entwickelte semiklassische<br />

Methode zur Berechnung der geeignet gemittelten Übergangswahrscheinlichkeiten.<br />

HL 44.23 Do 16:30 Poster A<br />

Field-dependence in the steady-state photocarrier grating<br />

technique: application to microcrystalline silicon — •Rudolf<br />

Brüggemann 1 and Rashad I. Badran 2 — 1 Instut für Physik, Carl<br />

von Ossietzky Universität Oldenburg — 2 Physics Department, The<br />

Hashemite University, Zarqa, Jordan<br />

The steady-state photocarrier grating (SSPG) technique has become<br />

a standard tool for the characterisation of the minority carrier properties<br />

in amorphous and microcrystalline silicon. In the standard application<br />

the photocurrent response under the presence of spatially modulated<br />

photogeneration is measured at low electric fields. Here, we exploit the<br />

electric-field variation experimentally for microcrystalline silicon samples.<br />

The experimental results show a variation in the influence that the<br />

electric field imposes on the excess charge carriers, depending on the individual<br />

sample. For poor-quality samples there is hardly any influence<br />

in the measured SSPG parameter. In contrast, samples with high diffusion<br />

lengths show a large variation in the SSPG parameters. Analysis of<br />

our data with the theory by Abel et al. (1995) shows good correlation<br />

between experimental and theoretical values for a wide range of electric<br />

field, in particular in the transition region between diffusion dominated<br />

and drift-dominated transport.<br />

HL 44.24 Do 16:30 Poster A<br />

Trench-insulated IPG transistors for active matrix displays<br />

— •A. Lapanik and A.D. Wieck — Ruhr-Universitaet Bochum,<br />

Lehrstuhl fuer Angewandte Festkoerperphysik, Universitaetsstrasse 150,<br />

D-44780 Bochum<br />

We already reported on theoretical investigations of IPG transistors<br />

(formed by Focused Ion Beams), new techniques of preparation of transistors<br />

and results that shows possibilities of using IPG transistors for active<br />

matrix liquid crystal displays (AMLCD). Here, we report of further<br />

research results on trench insulated IPG transistors on poly-Si on quartz<br />

in contrast to previous work on GaAs (1990. Nieder et al). The geometry<br />

of IPG transistors was changed to obtain higher process performance and<br />

lower leakage current to be more suitable for AMCLD developing. New<br />

mask layers were used for sputtering of the Si and we present here results<br />

for transistors with a better gate insulation. This is obtained by wider<br />

insulating lines between gate and the source-drain areas, respectively.<br />

The annealing temperature dependence of the transistor parameters are<br />

discussed. Also, we would like to report on the technology improvement<br />

of IPG transistor fabrication. In particular, chemical process steps were<br />

improved and new were added to perform a ”cleaning” of the sputtered<br />

area and sputtered trenches.<br />

HL 44.25 Do 16:30 Poster A<br />

Fabrication of Resonant-Tunneling Diodes by B Surfactant<br />

Modified Growth of Si Films on CaF2/Si — •C.R. Wang, M.<br />

Bierkandt, B.H. Müller, S. Paprotta, E. Bugiel, T. Wietler,<br />

and K.R. Hofmann — Institute for Semiconductor Devices and Electronic<br />

Materials, University of Hannover, Appelstr. 11A, 30167 Hannover,<br />

Germany<br />

Boron (B) surfactant enhanced solid phase epitaxy (SPE) of thin Si<br />

films on CaF2/Si(111) substrates has been studied. Room temperature<br />

deposition of amorphous Si films followed by the deposition of one monolayer<br />

B atoms resulted in continuous and smooth epitaxial Si layers on<br />

CaF2 with a sharp B-induced √ 3x √ 3R30 ◦ surface reconstruction after<br />

annealing to about 635 ◦ C. This growth technique was used to fabricate<br />

CaF2/Si/CaF2 double-barrier resonant tunneling diodes (RTDs) in SiO2<br />

windows patterned on Si(111) substrates. A negative differential resistance<br />

(NDR) peak was found at ∼0.2 V at 77 K, and the current density<br />

at the NDR peak was estimated to be 6 orders of magnitude higher than<br />

that found in earlier reports.<br />

HL 44.26 Do 16:30 Poster A<br />

Elektronischer Transport in einzelnen und verzweigten Wellenleitern<br />

— •Mirja Richter 1 , Michael Knop 1 , Ulrich Wieser<br />

1 , Ulrich Kunze 1 , Dirk Reuter 2 und Andreas D. Wieck 2<br />

— 1 Lehrstuhl für Werkstoffe und Nanoelektronik, Ruhr-Universität Bochum,<br />

D-44780 Bochum — 2 Lehrstuhl für Angewandte Festkörperphysik,<br />

Ruhr-Universität Bochum, D-44780 Bochum<br />

Auf einer modulationsdotierten GaAs/Al1−xGaxAs-Heterostruktur<br />

werden einzelne und gekreuzte elektronische Wellenleiter in einem<br />

Mix-and-Match Prozess hergestellt. Der Prozess kombiniert<br />

Niederenergie-Elektronenstrahllithographie mit konventioneller<br />

Fotolithographie.<br />

Wellenleiter mit einer Breite bis minimal 50 nm und einer Länge von einigen<br />

Mikrometern werden durch elektronische Transportmessungen bei<br />

tiefen Temperaturen charakterisiert. Die Wellenleiter zeigen quantisierten<br />

Leitwert in Vielfachen von 2e 2 /h und eine Separation der untersten<br />

Subbänder von bis zu 19 meV. An gekreuzten Wellenleitern kann der<br />

Knickwiderstand R1324 (bend resistance) im ballistischen Transportregime<br />

in Abhängigkeit von der Geometrie der Kreuzungsstelle und der<br />

Steuerspannung an der Topgateelektrode untersucht werden.<br />

HL 44.27 Do 16:30 Poster A<br />

Magnetotransportspektroskopie an einem GaAs/AlGaAs-<br />

Quantenring — •A. Mühle 1 , U. F. Keyser 1 , R. J. Haug 1 , W.<br />

Wegscheider 2 und M. Bichler 3 — 1 Institut für Festkörperphysik,<br />

Universität Hannover, D-30167 Hannover — 2 Angewandte und<br />

Experimentelle Physik, Universität Regensburg, D-92040 Regensburg —<br />

3 Walter Schottky Institut, TU München, D-85748 Garching<br />

Ein Quantenring, der auf der Oberfläche einer GaAs/AlGaAs-<br />

Heterostruktur durch lokale anodische Oxidation mit einem Rasterkraftmikroskop<br />

hergestellt wurde, [1] wurde untersucht. Über zwei<br />

In-plane-Gates konnten sowohl die Energie der Elektronen auf dem Ring<br />

als auch die Ankopplung der Struktur an die Zuleitungen durchgestimmt<br />

werden.<br />

Für verschiedene Kopplungsstärken wurde das Transportverhalten in<br />

Abhängigkeit von einem senkrechten Magnetfeld und einer Gatespannung<br />

über große Bereiche gemessen. Aus den sich ergebenden Mustern<br />

in der grafischen Darstellung konnten dann bei wenigen Elektronen auf<br />

dem Ring deren Anzahl und ihre Spinverteilung bestimmt werden.<br />

Weiterhin wurden bei sehr kleinen Feldern im Regime weniger Elektronen<br />

in einigen Bereichen Oszillationen der differentiellen Leitfähigkeit mit<br />

dem Magnetfeld beobachtet, die über Level-crossings im Grundzustand<br />

des Ringes erklärt werden könnten.<br />

[1] U. F. Keyser et al., Phys. Rev. Lett. 90, 196601-1 (2003)<br />

HL 44.28 Do 16:30 Poster A<br />

Noise measurements of individual and coupled InAs quantum<br />

dots — •P. Barthold 1 , N. Maire 1 , F. Hohls 1 , A. Nauen 2 ,<br />

R.J. Haug 1 , K. Pierz 3 , and T. Bryllert 2 — 1 Institut für<br />

Festkörperphysik, Universität — 2 Div. of Solid State Physics, Lund<br />

University, P.O. BOX 118, SE-221 00 Lund — 3 Physikalisch- Technische<br />

Bundesanstalt, Bundesallee 100, D-38116 Braunschweig<br />

We present noise measurements of resonant single electron tunnelling<br />

through individual and coupled self-organised InAs quantum dots (QDs)<br />

at temperatures down to 1.5 K.<br />

In the first case our samples consist of a GaAs/AlAs/GaAs tunnelling<br />

structure with self-organised InAs QDs embedded in the AlAs. We investigate<br />

the noise generated by the sample with a current amplifier in a<br />

range from 0 to 10 kHz, and use a Fast Fourier Transformation analyser<br />

for spectral decomposition. Above 1 kHz the noise shows a frequencyindependent<br />

behaviour indicating the presence of shot noise. Depending<br />

on bias voltage we find that the shot noise is suppressed in respect to<br />

the Poissonian value 2eI expected for a single barrier. We observe the<br />

effect of asymmetric tunnelling barriers on the shot noise suppression.<br />

This suppression is characterised by the Fano factor α = S/2eI whose<br />

modulation was perceived in the experiment.<br />

In the second case the sample consists of a GaInAs/InP/GaInAs structure<br />

with two layers of self-organised InAs QDs embedded in the InP

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!