Plenarvorträge - DPG-Tagungen
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Dünne Schichten Dienstag<br />
layers results in the formation of NiMn films with different structural and<br />
morphological characteristics (phase composition, texture and crystallite<br />
grain size)which signicantly influence the magnetic characteristics of the<br />
respective annealed and field-cooled AFM/FM bi-layers.<br />
DS 22.23 Di 14:30 Poster B<br />
Mikrostruktur orientierter magnetischer NiMnAl-Formgedächtnisschichten<br />
und ab-initio-Simulationsrechnungen —<br />
•Sigurd Thienhaus 1 , Ralf Hassdorf 1 , Thomas Büsgen 1 ,<br />
Jürgen Feydt 1 , Rene Borowski 1 , Markus Boese 2 und Michael<br />
Moske 1 — 1 Forschungszentrum caesar, 53175 Bonn — 2 Universität<br />
Bonn, Institut für Anorganische Chemie, 53117 Bonn<br />
Magnetische NiMnAl-Formgedächtnisschichten wurden unter Verwendung<br />
der Gradiententechnik mittels Molekularstrahlepitaxie hergestellt.<br />
Die Variation der Zusammensetzung liegt für jede Komponente bei ca.<br />
10 at.% und erlaubt den direkten Vergleich des chemisch/strukturellen<br />
Zusammenhangs mit der martensitischen Umwandlung und der magnetischen<br />
Ordnung in einem großen Konzentrationsbereich sowie eine effiziente<br />
Identifizierung der relevanten Bereiche für die Phasenstabilität.<br />
Besonderer Wert wurde auf die strukturellen Aspekte der Phasentransformation<br />
gelegt, welche unter Verwendung von Röntgen-Mikrodiffraktion<br />
innerhalb einer speziell konstruierten Heizkammer untersucht wurden.<br />
Querschliff-TEM-Untersuchungen bei Raumtemperatur zeigen die Koexistenz<br />
zweier Martensitphasen (2M, 14M) in mesoskopisch-periodischer<br />
Anordnung, von denen die eine (14M) eine langperiodische Shuffling-<br />
Struktur aufweist. Solche Strukturen wurden mit ab-initio-Rechnungen<br />
verglichen. Hierbei konnte die Metastabilität und die Bevorzugung der<br />
magnetischen Phase in einem definierten Konzentrationsbereich nachgewiesen<br />
werden.<br />
DS 22.24 Di 14:30 Poster B<br />
Optical and electrical properties of Teflon AF/Au nanocomposite<br />
prepared by vapor phase co - deposition — •Haile Takele,<br />
Cenk Aktas, Christian Pochstein, Ulrich Schürmann, Abhijit<br />
Biswas, Vladimir Zaporotchenko, and Franz Faupel —<br />
Lehrstuhl für Materialverbunde, Technische Fakultät der CAU Kiel,<br />
Kaiserstr. 2, 24143 Kiel, Germany<br />
We have prepared nanocomposite films (100-200 nm) of Teflon AF containing<br />
Au nanoparticles by using vapor phase co - deposition technique<br />
in high vacuum deposition system. Au cluster size, shape and distribution<br />
in Teflon AF matrix have been investigated using TEM analysis.<br />
XPS and FTIR are also applied to study the chemical composition and<br />
structure of the composite. The metal filling factor in the polymer matrix<br />
has been estimated by SEM/EDX measurement. The optical properties<br />
of Teflon AF/Au prepared at different substrate temperatures of 80 o C<br />
to 250 o C and various metal filling factors have been studied by UV-<br />
Visible spectroscopy. Similarly, the variation of electrical properties of<br />
Teflon AF/Au nanocomposite at various metal filling factors near the<br />
percolation threshold are reported.<br />
DS 22.25 Di 14:30 Poster B<br />
Excess noise in current-biased ultra-thin superconducting nanostructures<br />
— •Alexei Semenov, Heiko Richter, Andreas Engel,<br />
and Heinz-Wilhelm Hübers — DLR Institute of Planetary Research<br />
Noise properties of ultra-thin films deserve particular interest because<br />
they shine light on the dynamics of the superconducting phase transition<br />
and are of importance in metrology and detector technology. We<br />
have studied electrical noise appearing in nano-structured current-biased<br />
superconducting rectangular (length - l, width - w) bridges made from<br />
ultra-thin NbN films. For both wide (w > l) and narrow (w < l) bridges<br />
we have observed similar behaviour: at currents close to the critical current,<br />
the noise increased rapidly in excess to generation-recombination,<br />
shot or thermal fluctuation noise. The magnitude and temperature dependence<br />
of the excess noise evidences that this noise most likely originates<br />
from random formation of the phase-slip centres (PSC). The spectrum<br />
of the excess noise suggests the intrinsic lifetime of a PSC is of the<br />
order of the electron-phonon interaction time.<br />
DS 22.26 Di 14:30 Poster B<br />
Optische in-situ Untersuchungen des gaschromen Schaltens von<br />
Wolframoxid — •François Vertommen, Christian Salinga und<br />
Matthias Wuttig — I. Physikalisches Institut (IA), Lehrstuhl für<br />
Physik neuer Materialien, RWTH Aachen<br />
Wolframoxid (WOx) ist unter Luft bzw. sauerstoffhaltiger Atmosphäre<br />
transparent. Unter wasserstoffhaltiger Atmosphäre färbt sich die Schicht<br />
im sichtbaren Bereich blau, da eine Absorption im Infraroten generiert<br />
wird. Ein atomistisches Modell für die Generierung der Absorption sagt<br />
voraus, dass beim Färbeprozess aus den an der Platin-Katalysatorschicht<br />
dissoziierten Wasserstoffatomen und dem Sauerstoff aus der WOx-Schicht<br />
in deren porösen Schichtstruktur Wasser geformt wird.<br />
Ein FTIR-Spektrometer wurde um einen Gasmischstand erweitert<br />
um in-situ FTIR-Messung an gaschrom schaltbaren Schichtsystemen zu<br />
ermöglichen. Die Probenkammer des Spektrometers kann mit diversen<br />
Gasgemischen bis zu einem Gesamtdruck von 0,8 bar gefüllt werden. Abpumpen<br />
bis auf einen Restdruck von 2 mbar ist möglich.<br />
Die Messergebnisse des gaschromen Ein- und Entfärbens unter H2bzw.<br />
O2-haltiger Atmosphäre von WOx-Schichten zeigen mit zunehmender<br />
Zeit unter der jeweiligen Gasatmosphäre eine klare Entwicklung<br />
der Absortion im Infraroten Spektralbereich und der unterschiedlichen<br />
Vibrationsbanden. Die relative Stärke der entstehenden Wasserbanden<br />
wurde ermittelt, um Annahmen für das atomare Färbemodell<br />
zu überprüfen. In-situ Messungen mittels Ellipsometrie, Transmission im<br />
UV/VIS, Röntgenbeugung und Wafer-Curvature unterstützen die Ergebnisse<br />
der FTIR-Analysen.<br />
DS 22.27 Di 14:30 Poster B<br />
TOF-PEEM investigation of photoelectron emission from cesium<br />
covered silver nanoparticle films — •D.A. Valdaitsev, M.<br />
Cinchetti, A. Gloskovskii, S.A. Nepijko, and G. Schönhense —<br />
Johannes Gutenberg-Universität Mainz, Institut für Physik, Staudingerweg<br />
7, D-55099 Mainz<br />
The present study continues the time-of-flight photoemission electron<br />
microscopy investigation of emission properties of Ag nanoparticles under<br />
fs-laser excitation (hν = 3.1 eV, ∆ = 80 fs, fluence 6.4 µJcm −2 ). Earlier<br />
it was demonstrated that the energy distribution of electrons emitted<br />
from the particles considerably differs from the well-known 2PPE spectrum<br />
typical for bulk silver [1]. To understand the emission mechanisms<br />
in more detail we studied the change of energy spectra of electrons emitted<br />
from the nanoparticle films (particle size from 1 to 50 nm) caused<br />
by deposition of Cs. This allows to observe switching between different<br />
electron emission mechanisms in the same system. Lowering of the work<br />
function led to the shift of the low-energy edge and allowed to consider<br />
the electron energy distribution in a wider range. Exponential behavior<br />
of the spectrum in the low-energy region points to a significant contribution<br />
of electron gas heating processes to the total emission yield from<br />
sufficiently small particles.<br />
[1] M. Cinchetti, D.A. Valdaitsev, A. Gloskovskii, A. Oelsner, S.A.<br />
Nepijko, G. Schönhense, J. Elec. Spec. Relat. Phenom., in print<br />
DS 22.28 Di 14:30 Poster B<br />
Investigation of the local electron emission from currentcarrying<br />
silver nanoparticle films by means of emission electron<br />
microscopy — •A. Gloskovskii, D.A. Valdaitsev, S.A. Nepijko,<br />
and G. Schönhense — Johannes Gutenberg-Universität Mainz,<br />
Institut für Physik, Staudingerweg 7, D-55099 Mainz<br />
Emission electron microscopy is a very convenient tool for the investigation<br />
of emission properties of metal nanoparticle films during passage<br />
of tunnel current [1]. In these systems the electron emission arises in the<br />
non-linear region of the current-voltage characteristic of the conduction<br />
current and has a local character (stems from separate emission centers).<br />
Owing to the energy and angle distributions of emitted electrons,<br />
the emission center is visualised in an emission electron microscope in the<br />
form of an elongated spot. Its size and shape enable to make quantitative<br />
estimations of the value of the electric field strength in the vicinity of the<br />
emission center and the energy spread of emitted electrons. The upper<br />
limit of the electric field strength near the emission center is 1.5·10 6 V/cm<br />
that is not enough to initiate field emission. An energy distribution with<br />
a width of 0.3 eV confirms our assumption about a thermal mechanism<br />
of the electron emission.<br />
[1] A. Gloskovskii, D.A. Valdaitsev, S.A. Nepijko, N.N. Sedov and G.<br />
Schönhense Appl. Phys. A (published online 23 September 2003)<br />
DS 22.29 Di 14:30 Poster B<br />
Preparation and characterization of a Teflon AF/Fe-Ni-Co<br />
nanocomposite for magnetic UHF applications — •H. Greve 1 ,<br />
U. Saeed 1 , A. Biswas 1 , J. Kanzow 1 , V. Zaporojtchenko 1 , F.<br />
Faupel 1 , M. Frommberger 2 , and E. Quandt 2 — 1 Lehrstuhl für<br />
Materialverbunde, Technische Fakultät der CAU, Kaiserstr. 2, 24143<br />
Kiel — 2 CAESAR, Ludwig-Erhard-Allee 2, 53175 Bonn