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Plenarvorträge - DPG-Tagungen

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Dünne Schichten Dienstag<br />

layers results in the formation of NiMn films with different structural and<br />

morphological characteristics (phase composition, texture and crystallite<br />

grain size)which signicantly influence the magnetic characteristics of the<br />

respective annealed and field-cooled AFM/FM bi-layers.<br />

DS 22.23 Di 14:30 Poster B<br />

Mikrostruktur orientierter magnetischer NiMnAl-Formgedächtnisschichten<br />

und ab-initio-Simulationsrechnungen —<br />

•Sigurd Thienhaus 1 , Ralf Hassdorf 1 , Thomas Büsgen 1 ,<br />

Jürgen Feydt 1 , Rene Borowski 1 , Markus Boese 2 und Michael<br />

Moske 1 — 1 Forschungszentrum caesar, 53175 Bonn — 2 Universität<br />

Bonn, Institut für Anorganische Chemie, 53117 Bonn<br />

Magnetische NiMnAl-Formgedächtnisschichten wurden unter Verwendung<br />

der Gradiententechnik mittels Molekularstrahlepitaxie hergestellt.<br />

Die Variation der Zusammensetzung liegt für jede Komponente bei ca.<br />

10 at.% und erlaubt den direkten Vergleich des chemisch/strukturellen<br />

Zusammenhangs mit der martensitischen Umwandlung und der magnetischen<br />

Ordnung in einem großen Konzentrationsbereich sowie eine effiziente<br />

Identifizierung der relevanten Bereiche für die Phasenstabilität.<br />

Besonderer Wert wurde auf die strukturellen Aspekte der Phasentransformation<br />

gelegt, welche unter Verwendung von Röntgen-Mikrodiffraktion<br />

innerhalb einer speziell konstruierten Heizkammer untersucht wurden.<br />

Querschliff-TEM-Untersuchungen bei Raumtemperatur zeigen die Koexistenz<br />

zweier Martensitphasen (2M, 14M) in mesoskopisch-periodischer<br />

Anordnung, von denen die eine (14M) eine langperiodische Shuffling-<br />

Struktur aufweist. Solche Strukturen wurden mit ab-initio-Rechnungen<br />

verglichen. Hierbei konnte die Metastabilität und die Bevorzugung der<br />

magnetischen Phase in einem definierten Konzentrationsbereich nachgewiesen<br />

werden.<br />

DS 22.24 Di 14:30 Poster B<br />

Optical and electrical properties of Teflon AF/Au nanocomposite<br />

prepared by vapor phase co - deposition — •Haile Takele,<br />

Cenk Aktas, Christian Pochstein, Ulrich Schürmann, Abhijit<br />

Biswas, Vladimir Zaporotchenko, and Franz Faupel —<br />

Lehrstuhl für Materialverbunde, Technische Fakultät der CAU Kiel,<br />

Kaiserstr. 2, 24143 Kiel, Germany<br />

We have prepared nanocomposite films (100-200 nm) of Teflon AF containing<br />

Au nanoparticles by using vapor phase co - deposition technique<br />

in high vacuum deposition system. Au cluster size, shape and distribution<br />

in Teflon AF matrix have been investigated using TEM analysis.<br />

XPS and FTIR are also applied to study the chemical composition and<br />

structure of the composite. The metal filling factor in the polymer matrix<br />

has been estimated by SEM/EDX measurement. The optical properties<br />

of Teflon AF/Au prepared at different substrate temperatures of 80 o C<br />

to 250 o C and various metal filling factors have been studied by UV-<br />

Visible spectroscopy. Similarly, the variation of electrical properties of<br />

Teflon AF/Au nanocomposite at various metal filling factors near the<br />

percolation threshold are reported.<br />

DS 22.25 Di 14:30 Poster B<br />

Excess noise in current-biased ultra-thin superconducting nanostructures<br />

— •Alexei Semenov, Heiko Richter, Andreas Engel,<br />

and Heinz-Wilhelm Hübers — DLR Institute of Planetary Research<br />

Noise properties of ultra-thin films deserve particular interest because<br />

they shine light on the dynamics of the superconducting phase transition<br />

and are of importance in metrology and detector technology. We<br />

have studied electrical noise appearing in nano-structured current-biased<br />

superconducting rectangular (length - l, width - w) bridges made from<br />

ultra-thin NbN films. For both wide (w > l) and narrow (w < l) bridges<br />

we have observed similar behaviour: at currents close to the critical current,<br />

the noise increased rapidly in excess to generation-recombination,<br />

shot or thermal fluctuation noise. The magnitude and temperature dependence<br />

of the excess noise evidences that this noise most likely originates<br />

from random formation of the phase-slip centres (PSC). The spectrum<br />

of the excess noise suggests the intrinsic lifetime of a PSC is of the<br />

order of the electron-phonon interaction time.<br />

DS 22.26 Di 14:30 Poster B<br />

Optische in-situ Untersuchungen des gaschromen Schaltens von<br />

Wolframoxid — •François Vertommen, Christian Salinga und<br />

Matthias Wuttig — I. Physikalisches Institut (IA), Lehrstuhl für<br />

Physik neuer Materialien, RWTH Aachen<br />

Wolframoxid (WOx) ist unter Luft bzw. sauerstoffhaltiger Atmosphäre<br />

transparent. Unter wasserstoffhaltiger Atmosphäre färbt sich die Schicht<br />

im sichtbaren Bereich blau, da eine Absorption im Infraroten generiert<br />

wird. Ein atomistisches Modell für die Generierung der Absorption sagt<br />

voraus, dass beim Färbeprozess aus den an der Platin-Katalysatorschicht<br />

dissoziierten Wasserstoffatomen und dem Sauerstoff aus der WOx-Schicht<br />

in deren porösen Schichtstruktur Wasser geformt wird.<br />

Ein FTIR-Spektrometer wurde um einen Gasmischstand erweitert<br />

um in-situ FTIR-Messung an gaschrom schaltbaren Schichtsystemen zu<br />

ermöglichen. Die Probenkammer des Spektrometers kann mit diversen<br />

Gasgemischen bis zu einem Gesamtdruck von 0,8 bar gefüllt werden. Abpumpen<br />

bis auf einen Restdruck von 2 mbar ist möglich.<br />

Die Messergebnisse des gaschromen Ein- und Entfärbens unter H2bzw.<br />

O2-haltiger Atmosphäre von WOx-Schichten zeigen mit zunehmender<br />

Zeit unter der jeweiligen Gasatmosphäre eine klare Entwicklung<br />

der Absortion im Infraroten Spektralbereich und der unterschiedlichen<br />

Vibrationsbanden. Die relative Stärke der entstehenden Wasserbanden<br />

wurde ermittelt, um Annahmen für das atomare Färbemodell<br />

zu überprüfen. In-situ Messungen mittels Ellipsometrie, Transmission im<br />

UV/VIS, Röntgenbeugung und Wafer-Curvature unterstützen die Ergebnisse<br />

der FTIR-Analysen.<br />

DS 22.27 Di 14:30 Poster B<br />

TOF-PEEM investigation of photoelectron emission from cesium<br />

covered silver nanoparticle films — •D.A. Valdaitsev, M.<br />

Cinchetti, A. Gloskovskii, S.A. Nepijko, and G. Schönhense —<br />

Johannes Gutenberg-Universität Mainz, Institut für Physik, Staudingerweg<br />

7, D-55099 Mainz<br />

The present study continues the time-of-flight photoemission electron<br />

microscopy investigation of emission properties of Ag nanoparticles under<br />

fs-laser excitation (hν = 3.1 eV, ∆ = 80 fs, fluence 6.4 µJcm −2 ). Earlier<br />

it was demonstrated that the energy distribution of electrons emitted<br />

from the particles considerably differs from the well-known 2PPE spectrum<br />

typical for bulk silver [1]. To understand the emission mechanisms<br />

in more detail we studied the change of energy spectra of electrons emitted<br />

from the nanoparticle films (particle size from 1 to 50 nm) caused<br />

by deposition of Cs. This allows to observe switching between different<br />

electron emission mechanisms in the same system. Lowering of the work<br />

function led to the shift of the low-energy edge and allowed to consider<br />

the electron energy distribution in a wider range. Exponential behavior<br />

of the spectrum in the low-energy region points to a significant contribution<br />

of electron gas heating processes to the total emission yield from<br />

sufficiently small particles.<br />

[1] M. Cinchetti, D.A. Valdaitsev, A. Gloskovskii, A. Oelsner, S.A.<br />

Nepijko, G. Schönhense, J. Elec. Spec. Relat. Phenom., in print<br />

DS 22.28 Di 14:30 Poster B<br />

Investigation of the local electron emission from currentcarrying<br />

silver nanoparticle films by means of emission electron<br />

microscopy — •A. Gloskovskii, D.A. Valdaitsev, S.A. Nepijko,<br />

and G. Schönhense — Johannes Gutenberg-Universität Mainz,<br />

Institut für Physik, Staudingerweg 7, D-55099 Mainz<br />

Emission electron microscopy is a very convenient tool for the investigation<br />

of emission properties of metal nanoparticle films during passage<br />

of tunnel current [1]. In these systems the electron emission arises in the<br />

non-linear region of the current-voltage characteristic of the conduction<br />

current and has a local character (stems from separate emission centers).<br />

Owing to the energy and angle distributions of emitted electrons,<br />

the emission center is visualised in an emission electron microscope in the<br />

form of an elongated spot. Its size and shape enable to make quantitative<br />

estimations of the value of the electric field strength in the vicinity of the<br />

emission center and the energy spread of emitted electrons. The upper<br />

limit of the electric field strength near the emission center is 1.5·10 6 V/cm<br />

that is not enough to initiate field emission. An energy distribution with<br />

a width of 0.3 eV confirms our assumption about a thermal mechanism<br />

of the electron emission.<br />

[1] A. Gloskovskii, D.A. Valdaitsev, S.A. Nepijko, N.N. Sedov and G.<br />

Schönhense Appl. Phys. A (published online 23 September 2003)<br />

DS 22.29 Di 14:30 Poster B<br />

Preparation and characterization of a Teflon AF/Fe-Ni-Co<br />

nanocomposite for magnetic UHF applications — •H. Greve 1 ,<br />

U. Saeed 1 , A. Biswas 1 , J. Kanzow 1 , V. Zaporojtchenko 1 , F.<br />

Faupel 1 , M. Frommberger 2 , and E. Quandt 2 — 1 Lehrstuhl für<br />

Materialverbunde, Technische Fakultät der CAU, Kaiserstr. 2, 24143<br />

Kiel — 2 CAESAR, Ludwig-Erhard-Allee 2, 53175 Bonn

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