Plenarvorträge - DPG-Tagungen

Oberflächenphysik Mittwoch
gen ˚Angström wurden durch thermische Oxidation erzeugt. Mit Synchrotronstrahlung
(BESSY II, U41 PGM) wurden hochaufgelöste Si2p-
Photoemissionsspektren über dem gesamten Halbraum bei einer Photonenenergie
von hν = 180 eV aufgenommen. Diese Spektren ermöglichen
durch Anpassungsroutinen die Trennung der Si-Oxidationszustände
(Si 1+ , Si 2+ , Si 3+ , Si 4+ ) vom Volumensignal (Si B ). Dabei zeigt sich, dass
zwei weitere Komponenten (Si α , Si β ) für eine verbesserte Anpassung
nötig sind. Um den Ursprung dieser Komponenten zu ermitteln wird die
Winkelabhängigkeit dieser Signale analysiert. Dazu werden die gemessenen
Photoelektronenbeugungsmuster mit Vielfachstreusimulationen verglichen.
O 28.29 Mi 16:00 Bereich C
Indium- und Indiumselenid-terminierte Si(111)-Oberflächen
als neuartige Pufferschichten in der Heteroepitaxie — •Stefan
Andres, Wolfram Calvet, Tilo Plake und Christian Pettenkofer
— Hahn-Meitner-Institut Berlin, Glienicker Strasse 100, 14109
Berlin
Zur Passivierung von Silizium-Substraten für die Heteroepitaxie sind
III-VI terminierte Oberflächen von grossem Interesse. Wir präsentieren
erste Ergebnisse dünner In- bzw. InSe-Schichten auf Si(111). Die
Präparation der Proben erfolgte mittels Molekularstrahlepitaxie (MBE)
auf H-Si(111)1x1-, Si(111)7x7- und definiert nasschemisch oxidierten
Si(111)-Substraten. Die Schichten wurden in situ mittels Photoelektronenspektroskopie
(PES), niederenergetischer Elektronenbeugung
(LEED) und Rastertunnelmikroskopie (STM) bezüglich ihrer Morphologie
und elektronischen Struktur analysiert. Es wurde zunächst der Einfluss
von elementarem Indium auf Si(111) untersucht. Im weiteren Prozess
erfolgte durch sukzessives Koverdampfen von In und Se die Herstellung
einer InSe-terminierten 1x1-Oberfläche. Es zeigt sich, dass InSe in
einer sogenannten Halblage aufwächst, wobei die In-Atome direkt an die
Si-Oberfläche gebunden sind. Eine Selenisierung der Si-Oberfläche findet
nicht statt. Die Energetik der Grenzfläche wird bezüglich Bandversatz
und Grenzflächendipolen bestimmt.
O 28.30 Mi 16:00 Bereich C
Electrospray Deposition of Sensitive Analytes — •Frank
Stadler 1 , Sergei Koltsov 2 , Eugenio Lunedei 1 , Giovanni
Costantini 1 , and Klaus Kern 1 — 1 Max-Planck-Institut für
Festörperforschung, D-70569 Stuttgart — 2 Institute for Analytical
Instrumentation, Russian Academy of Sciences, 19813 Saint Petersburg
Electrospray ionization is well-known as a means to solve the
volatilization and ionization problem of sensitive analytes such as large
biomolecules [1]. Recently Ouyang et al. [2] reported that electrosprayed
protein ions remain intact, after ionization, in vacuo transfer, massselection
and soft landing. We present a novel electrospray deposition
source, whose objective is the non-destructive deposition of large
sensitive (e.g. organic and biological) analytes under UHV conditions.
Aim of this project is to overcome the limitations of size and mass of the
deposited sample material that are intrinsic to the organic molecular
beam epitaxy techniques based on sublimation. Besides the explanation
of the underlying working principle of this novel experimental setup,
the relevant technological aspects will be discussed. In addition, AFM
images of electrosprayed metal colloid- and protein-containing analyte
solutions (deposited on highly oriented pyrolytic graphite) will be
presented.
[1] J. B. Fenn et al., Science, 246 (1989), 64-71
[2] Z. Ouyang et al., Science, 301 (2003), 1351-1354
O 28.31 Mi 16:00 Bereich C
VUV photon detector with improved resolution for inverse photoemission
— •R. Stiepel, R. Ostendorf, C. Benesch, H. Merz,
and H. Zacharias — Physikalisches Institut, Universität Münster, D-
48149 Münster, Germany
We have significantly improved the energy resolution of a VUV isochromat
spectrometer for inverse photoemission. The detector used is a
Geiger-Müller counter with acetone as filling gas and a CaF2 entrance
window. With this detector we achieve an optical energy resolution of
330meV (FWHM) at a mean energy of 9.9eV for the optical bandpass.
With an additional gas absorption filter arranged between two CaF2 windows
at the entrance of the counting tube we enhance the resolution to
90meV (FWHM) at a slightly decreased mean energy of 9.8eV. The
higher resolution decreases the counting rate to approximately 20%, but
by filling or evacuating the gas chamber we can switch between the two
modes high resolution and high counting rate within seconds.
O 28.32 Mi 16:00 Bereich C
Konventionelle und positroneninduzierte Auger-Elektronenspektroskopie
am System Kupfer-Gold — •Benno Straßer,
Christoph Hugenschmidt und Klaus Schreckenbach —
Technische Universität München, Lichtenbergstraße 1, D-85748
Garching
Bei positroneninduzierter Auger-Elektronenspektroskopie (PAES) erfolgt
die Anregung der untersuchten Probe durch Annihilation von niederenergetischen
Positronen mit Rumpfelektronen des Probenmaterials.
Die Energie der eingestrahlten Positronen kann dabei so klein gewählt
werden, dass sie keinen Sekundärelektronen-Untergrund im Energiebereich
der Auger-Peaks erzeugen. PAES besitzt deshalb ein wesentlich
besseres Signal-zu-Untergrund-Verhältnis als konventionelle AES und
verfügt außerdem über eine höhere Oberflächensensitivität.
Die an der Technischen Universität München bestehende PAES-
Apparatur wurde mit einer Effusionszelle und einem Elektronenstrahlverdampfer
zur Probenbeschichtung im Sub-Monolayer-Bereich erweitert.
Daneben wurden eine Argonkanone zur in situ Probenreinigung,
eine Probenheizung sowie einen Probenschleuse installiert. Die Beschichtungsanlage
wurde an mit Gold bedampften, polykristallinen Kupferproben
getestet und Vergleichsmessungen zur Oberflächensensitivität von
elektronen- und positroneninduzierter AES durchgeführt.
O 28.33 Mi 16:00 Bereich C
Focussing XUV photons with high contrast — •J. Buck 1 , M.
Kalläne 1 , S. Harm 1 , M. Skibowski 1 , R. L. Johnson 2 , and L. Kipp 1
— 1 Institut für Experimentelle und Angewandte Physik, Universität Kiel,
D-24098 Kiel, Germany — 2 Institut für Experimentalphysik, Universität
Hamburg, D-22761 Hamburg, Germany
Photon sieves consisting of a large number of pinholes appropriately
distributed over the Fresnel zones focus electromagnetic radiation [1]. As
part of the program to develop photon sieves for VUV FEL radiation [2]
we present first experimental results on the focussing properties of reflective
photon sieves, which allow to enhance the image contrast efficiently.
The experiments have been performed with visible light (hν = 1.96 eV)
and XUV radiation (hν = 100 eV) supplied from the BW3 beamline at
HASYLAB.
[1] L. Kipp, M. Skibowski, R.L. Johnson, R. Berndt, R. Adelung, S. Harm
and R. Seemann, Nature 414, 184 (2001)
[2] A free-elecron laser (FEL) delivering transversal coherent radiation in
the vacuum ultraviolet regime with photon energies up to several 100 eV
is currently under construction at the Hamburg Synchrotron Radiation
Laboratory HASYLAB/DESY.
Work supported by the BMBF proj. 05 KS1 FK1
O 28.34 Mi 16:00 Bereich C
TOF-PEEM für zeitaufgelöste Mikrospektroskopie von Oberflächen
basierend auf einer fs-Laser EUV-Lichtquelle — •G. H.
Fecher 1,2 , A. Oelsner 1 , G. Schönhense 1 , J. Kutzner 2 , G. Tsimilis
2 und H. Zacharias 2 — 1 Johannes Gutenberg - Universität, 55099
Mainz — 2 Westfälische Wilhelms - Universität, 48149 Münster
Die Kombination eines Photoemissions Elektronen Mikroskops
(PEEM) mit einer Femtosekunden Laser gepumpten EUV Lichtquelle
wird präsentiert. Das PEEM ist für simultane Bildaufnahme und Flugzeitanalyse
(TOF) mit einem 3D (x, y, t) Detektor ausgestattet. Dies
erlaubt neuartige Anwendungen in der Mikrospektroskopie von Oberflächen.
Die Lichtpulse im extremen ultraviolett Bereich werden in Edelgasen
durch ein 30fs Ti:Saphir Lasersystem generiert. Intensive IR Pulse erzeugen
im Konversionsgas hohe Harmonische bis 120eV. Ein Toroidgitter
wird zur Auswahl der Harmonischen eingesetzt. Al-Filter und Au-Spiegel
beschränkten den Energiebereich auf 15-72eV. Die herkömmliche Bildeinheit
de PEEM wurde durch einen 3D-Delayline Detektor ersetzt. Dieser
registriert die Elektronen in 2 räumlichen und einer zeitlichen Koordinate.
Die rückwärtige Mikroskopsäule wird als Flugzeitstrecke betrieben.
Die Zeitauflösung des Detektors beträgt 125ps. Erste Ergebisse zeigen,
daß der Bildkontrast empfindlich von der ausgewählten Energie der Elektronen
abhängt. Die derzeitige Begrenzung der räumlichen (160nm) und
zeitlichen Auflösung der Methode ist durch die Repetitionsrate (1kHz)
des anregenden Lasers bedingt.
O 28.35 Mi 16:00 Bereich C
Growth of Platin Nanowire Networks on Nafion — •M. Elbahri,
J. Franc, O.C. Aktas, R. Adelung, and F. Faupel —
Lehrstuhl für Materialverbunde, Technische Fakultät der CAU Kiel