Bulletin 2011/31 - European Patent Office

(G01N) I.1(1)
(54) • RÖNTGENBILDGEBUNGSVORRICHTUNG
UND RÖNTGENBILDGEBUNGSVERFAH-
REN
• X-RAY IMAGING APPARATUS AND X-RAY
IMAGING METHOD
• APPAREIL D'IMAGERIE À RAYON X ET
PROCÉDÉ D'IMAGERIE À RAYON X
(71) Canon Kabushiki Kaisha, 30-2 Shimomaruko
3-chome Ohta-ku, Tokyo 146-8501, JP
(72) MUKAIDE, Taihei, Tokyo 146-8501, JP
TAKADA, Kazuhiro, Tokyo 146-8501, JP
FUKUDA, Kazunori, Tokyo 146-8501, JP
WATANABE, Masatoshi, Tokyo 146-8501, JP
(74) TBK, Bavariaring 4-6, 80336 München, DE
G01N 23/20 → (51) H01J 37/20
(51) G01N 23/22 (11) 2 350 623 A1*
G01N 33/20 G06T 7/00
H01J 37/22 G01N 23/225
(25) Fr (26) Fr
(21) 09760223.9 (22) 27.10.2009
(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB
GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT
NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR
(86) FR 2009/052066 27.10.2009
(87) WO 2010/049640 2010/18 06.05.2010
(30) 27.10.2008 FR 0857268
(54) • ZÄHLEN VON EINSCHLÜSSEN AUF
LEGIERUNGEN MITTELS BILDANALYSE
• COUNTING INCLUSIONS ON ALLOYS BY
IMAGE ANALYSIS
• COMPTAGE D'INCLUSIONS SUR ALLIA-
GES PAR ANALYSE D'IMAGES
(71) Snecma, 2 Boulevard du Général Martial
Valin, 75015 Paris, FR
(72) BEYA, William, F-93430 Villetaneuse, FR
CUOCO, Marie, F-91170 Viry Chatillon, FR
HINARD, Marie-Noëlle, F-91070 Bondoufle,
FR
PELTIER, Béatrice, F-91800 Brunoy, FR
(74) Desormiere, Pierre-Louis, et al, Cabinet Beau
de Loménie 158, rue de l'Université, 75340
Paris Cedex 07, FR
(51) G01N 23/223 (11) 2 350 624 A1*
G01T 1/17
(25) En (26) En
(21) 09752052.2 (22) 04.11.2009
(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB
GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT
NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR
(86) US 2009/063311 04.11.2009
(87) WO 2010/054018 2010/19 14.05.2010
(30) 04.11.2008 US 111252 P
(54) • DYNAMISCHE MODIFIKATION DER SHA-
PING-ZEIT BEI RÖNTGENDETEKTOREN
• DYNAMIC MODIFICATION OF SHAPING
TIME IN X-RAY DETECTORS
• MODIFICATION DYNAMIQUE DU TEMPS
DE MISE EN FORME DANS DES DÉTEC-
TEURS DE RAYONS X
(71) Thermo Niton Analyzers LLC, 900 Middlesex
Turnpike, Bldg. 8, Billerica, MA 01821, US
(72) DUGAS, Michael, E., Londonderry NH 03053,
US
GRODZINS, Lee, Lexington MA 02421, US
(74) Frost, Alex John, Boult Wade Tennant
Verulam Gardens 70 Gray's Inn Road,
London WC1X 8BT, GB
G01N 23/225 → (51) G01N 23/22
(51) G01N 23/227 (11) 2 350 625 A2*
(25) En (26) En
(21) 09760620.6 (22) 22.10.2009
(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB
GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT
NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR
Europäisches Patentblatt
European Patent Bulletin
Bulletin européen des brevets
(86) IL 2009/000991 22.10.2009
(87) WO 2010/046896 2010/17 29.04.2010
(88) 15.07.2010
(30) 22.10.2008 US 107387 P
(54) • VERFAHREN UND SYSTEM ZUR BESTIM-
MUNG VON TIEFENPROFILEN
• METHOD AND SYSTEM FOR DETERMIN-
ING DEPTH PROFILING
• PROCÉDÉ ET SYSTÈME POUR DÉTERMI-
NER DES PROFILS DE PROFONDEUR
(71) Yeda Research And Development Company
Ltd., At The Weizmann Institute of Science P.
O.Box 95, 76100 Rehovot, IL
(72) COHEN, Hagai, 76292 Rehovot, IL
(74) Kurig, Thomas, Patentanwälte Becker Kurig
Straus Bavariastraße 7, DE-80336 München,
DE
(51) G01N 25/50 (11) 2 350 626 A1*
(25) Fr (26) Fr
(21) 09752363.3 (22) 13.11.2009
(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB
GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT
NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR
(86) EP 2009/065164 13.11.2009
(87) WO 2010/055140 2010/20 20.05.2010
(30) 14.11.2008 FR 0857741
(54) • ELEMENT ZUM TESTEN VON MATERIA-
LIEN UND VERFAHEN ZUR CHARAKTERI-
SIERUNG UNTER VERWENDUNG DIESES
ELEMENTS
• ELEMENT FOR TESTING MATERIALS AND
METHOD FOR CHARACTERIZING USING
THIS ELEMENT
• FOUR D'ESSAI DE MATÉRIAUX ET PRO-
CÉDÉ DE CARACTÉRISATION UTILISANT
CE FOUR
(71) Commissariat à l'Énergie Atomique et aux
Énergies Alternatives, Bâtiment "Le Ponant D"
25, rue Leblanc, 75015 Paris, FR
(72) BAYLE, Jean-Philippe, F-30400 Villeneuve
Les Avignon, FR
GENIN, Xavier, F-84100 Orange, FR
(74) Ilgart, Jean-Christophe, BREVALEX 95 rue
d'Amsterdam, 75378 Paris Cedex 8, FR
(51) G01N 25/72 (11) 2 350 627 A1*
(25) En (26) En
(21) 08822598.2 (22) 17.09.2008
(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB
GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MT NL
NO PL PT RO SE SI SK TR
(86) US 2008/076598 17.09.2008
(87) WO 2010/033113 2010/12 25.03.2010
(54) • VERFAHREN ZUM NACHWEIS EINES
MATERIALFEHLERS UND SYSTEM FÜR
DAS VERFAHREN
• METHOD FOR DETECTING DEFECT IN
MATERIAL AND SYSTEM FOR THE
METHOD
• PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'UN DÉFAUT
DANS UN MATÉRIAU ET SYSTÈME POUR
LE PROCÉDÉ
(71) Nippon Steel Corporation, 6-1, Marunouchi
2-chome Chiyoda-ku, Tokyo 100-8071, JP
(72) NAKAGAWA, Junichi, Tokyo 100-8071, JP
ITO, Tadayuki, Tokyo 100-8071, JP
NISHIYAMA, Tetsuo, Tokyo 100-8071, JP
DOKI, Masahiro, Tokyo 100-8071, JP
SAITO, Kozo, Kentucky 40506-0503, US
GHARAIBEH, Belal, Kentucky 40506-0503,
US
CHUAH, Keng Hoo, Kentucky 40506-0503,
US
SALAIMEH, Ahmad, Kentucky 40506-0503,
US
YAMAMOTO, Masahiro, Tokyo 153-8914, JP
TAKEUCHI, Tomoya, Tokyo 153-8914, JP
260
Anmeldungen
Applications
Demandes (31/2011) 03.08.2011
ITO, Kazufumi, Raleigh, North Carolina
27695, US
HUANG, Huaxiong, Markham Ontario L3P
7S2, CA
BOHUN, Sean, C., Oshawa Ontario L1K 2E8,
CA
(74) Vossius & Partner, Siebertstrasse 4, 81675
München, DE
G01N 27/00 → (51) H01P 3/12
G01N 27/02 → (51) A61B 5/053
G01N 27/06 → (51) C07K 14/31
G01N 27/06 → (51) G01N 27/10
(51) G01N 27/10 (11) 2 350 628 A2*
G01N 27/06 G05B 13/00
(25) En (26) En
(21) 09795805.2 (22) 29.10.2009
(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB
GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT
NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR
(86) IB 2009/007398 29.10.2009
(87) WO 2010/049810 2010/18 06.05.2010
(88) 28.10.2010
(30) 30.10.2008 US 109909 P
(54) • VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR
ONLINE-ABSCHÄTZUNG UND VORHER-
SAGE DER SPEZIESKONZENTRATION
WÄHREND EINER REAKTION
• METHOD AND APPARATUS FOR ON-LINE
ESTIMATION AND FORECASTING OF
SPECIES CONCENTRATION DURING A
REACTION
• PROCÉDÉ ET APPAREIL D ESTIMATION
ET DE PRÉVISION EN LIGNE DE LA
CONCENTRATION D ESPÈCES PENDANT
UNE RÉACTION
(71) Sanjuan, Marco E., Km. 5 Antigua via e
Puerto Columbia, Puerto Colombia, CO
(72) GARCIA, Jaime, Puerto Colombia, CO
SANJUAN, Marco, Puerto Colombia, CO
POSADA, José, Puerto Colombia, CO
VILLALBA, Pedro, Puerto Colombia, CO
(74) ABG Patentes, S.L., Avenida de Burgos 16D
Edificio Euromor, 28036 Madrid, ES
(51) G01N 27/26 (11) 2 350 629 A2*
G01N 33/48
(25) En (26) En
(21) 09826755.2 (22) 12.11.2009
(84) AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB
GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT
NL NO PL PT RO SE SI SK SM TR
(86) US 2009/064216 12.11.2009
(87) WO 2010/056869 2010/20 20.05.2010
(88) 08.07.2010
(30) 14.11.2008 US 114829 P
(54) • ELEKTROCHEMISCHES SENSORMODUL
• ELECTROCHEMICAL SENSOR MODULE
• MODULE DÉTECTEUR ÉLECTROCHIMIQUE
(71) Pepex Biomedical, LLC, 1350 South Loop
Road, Suite 104, Alameda, CA 94502, US
(72) SAY, James, L., Breckenridge CO 80424, US
(74) Burt, Matthew Thomas, et al, Abel & Imray
20 Red Lion Street, London WC1R 4PQ, GB
G01N 27/26 → (51) G01N 17/00
G01N 27/26 → (51) G01N 33/68
(51) G01N 27/27 (11) 2 350 630 A1*
A61B 5/00 C12Q 1/00
(25) En (26) En
(21) 09823914.8 (22) 01.09.2009