MMC2107 - Freescale Semiconductor

Freescale Semiconductor, Inc.
Technical Data — MMC2107
Section 21. JTAG Test Access Port and OnCE
21.1 Contents
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Freescale Semiconductor, I
21.2 Introduction. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .535
21.3 Top-Level Test Access Port (TAP) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .537
21.3.1 Test Clock (TCLK) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .538
21.3.2 Test Mode Select (TMS) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .538
21.3.3 Test Data Input (TDI) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .538
21.3.4 Test Data Output (TDO). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .538
21.3.5 Test Reset (TRST) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .538
21.3.6 Debug Event (DE) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .538
21.4 Top-Level TAP Controller. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .540
21.5 Instruction Shift Register . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .541
21.5.1 EXTEST Instruction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .541
21.5.2 IDCODE Instruction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .542
21.5.3 SAMPLE/PRELOAD Instruction. . . . . . . . . . . . . . . . . . . .543
21.5.4 ENABLE_MCU_ONCE Instruction. . . . . . . . . . . . . . . . . .543
21.5.5 HIGHZ Instruction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .544
21.5.6 CLAMP Instruction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .544
21.5.7 BYPASS Instruction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .544
21.6 IDCODE Register . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .545
21.7 Bypass Register . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .546
21.8 Boundary SCAN Register. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .546
21.9 Restrictions. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .546
21.10 Non-Scan Chain Operation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .547
21.11 Boundary Scan. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .547
21.12 Low-Level TAP (OnCE) Module . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .553
21.13 Signal Descriptions. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .555
21.13.1 Debug Serial Input (TDI) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .555
21.13.2 Debug Serial Clock (TCLK) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .555
21.13.3 Debug Serial Output (TDO) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .555
MMC2107 – Rev. 2.0 Technical Data
MOTOROLA JTAG Test Access Port and OnCE 533
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