Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005

Weitere Magazine

Empfehlungen

Info

MethodenM33: Röntgenbeugung – Linienprofilanalyse (XRD LPA)M33: Röntgenbeugung –Linienprofilanalyse (XRD LPA)Zur die Bestimmung der Kristallgrößen undMikroverzerrungen von nanoskaligen Materialiendient die Methode der Weitwinkel-Röntgenbeugung(WAXS). Als sehr vielseitige Untersuchungsmethodeliefert diese sowohl Information über dieZusammensetzung und Kristallstruktur der Probe– aus der Lage der Röntgenreflexe – als auch überdie Verzerrungen und die Korngröße aus der Verbreiterungder Röntgenlinien.In nanokristallinen Materialien trägt auf Grundder geringen Korngröße nur eine begrenzte Anzahlvon Netzebenen (ca. 10 bis 100) zur Beugung derRöntgenstrahlen bei. Hierdurch kommt es – in Analogiezur Beugung am Gitter – zu einer Verbreiterungder Röntgenlinien. Neben der begrenzten Kristallitgrößeführen Verzerrungen zu einer Verbreiterungder Braggreflexe. Aus der Variation der integralenLinienbreite β mit dem Betrag des Streuvektorss = 2 sinθ / λ (θ … Wellenlänge; λ … Beugungswinkel)können gemäß Williamson-Hall die Anteileder volumengemittelten Korngröße D V und der Mikroverzerrungen an der Linienverbreiterungermittelt werden (s. Abb. 1). Darüber hinaus könnenweitere verbreiterungswirksame Mechanismen wieStapelfehler in Metallen berücksichtigt werden. DieMessungen werden in Bragg-Brentano-Geometriean ebenen oder pulverförmigen Proben durchgeführt.Abbildung 1:Bestimmung von Kristallitgröße D VundMikroverzerrungen in kubisch-flächenzentrierten(fcc) Metallen aus derVariation der integralen Linienbreite mitdem Streuvektor s nach Williamson-Hall (schematisch). a.u. … arbitraryunits, d.h. beliebige Einheiten.86Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005
M33: Röntgenbeugung – Linienprofilanalyse (XRD LPA)Weiterführende Literaturallgemein[1] H. P. Klug, L. E. Alexander (1974) „X-raydiffraction procedures for polycrystalline andamorphous materials”. John Wiley and Sons,New York. 992 Seiten.Messbeispiel an nanokristallinem Material[2] K. Reimann, R. Würschum (1997) „Distributionof internal strains in nanocrystalline Pdstudied by x-ray diffraction“. J. Appl. Phys. 81,Methoden: M34 | M35 | M367186 – 92.Lösungen: —Institute:I9 | I3 | I15Ulrich Brossmann, Roland WürschumTechnische Universität Graz Kontakte:K3Institut für MaterialphysikKristallitgröße | Kristallstruktur | Linienverbreiterung | Mikroverzerrungen | nanokristalline MaterialienPhasenanalyse | Röntgenbeugung/diffraktion | WAXS | XRD-LPAIndex Kontakte Institute Lösungen MethodenHandbuch der Nanoanalytik Steiermark 200587
Seite 4 und 5:
Zum Geleit4. Ausbildung von Nachwuc
Seite 6 und 7:
NANONET-StyriaNANONET-Styria -Die s
Seite 8 und 9:
Einführung in die NanoanalytikEine
Seite 10 und 11:
Einführung in die NanoanalytikOrts
Seite 12 und 13:
XHandbuch der Nanoanalytik Steierma
Seite 14 und 15:
XIIHandbuch der Nanoanalytik Steier
Seite 16 und 17:
InhaltsverzeichnisM26: Präparation
Seite 18 und 19:
InhaltsverzeichnisL26: Morphologie-
Seite 21:
Methoden undInstrumentierungHandbuc
Seite 24 und 25:
M1: 3D-Atomsonde (3D APFIM)Notwendi
Seite 26 und 27:
M2: Analytische Elektronenmikroskop
Seite 28:
M3: Auger-Elektronenspektroskopie (
Seite 31 und 32:
M4: Dynamische Lichtstreuung (DLS)P
Seite 33 und 34:
M5: Elektrochemische MethodenDie ro
Seite 35 und 36:
M6: Elektrolytische PräparationDie
Seite 38 und 39:
MethodenM8: Elektronenenergieverlus
Seite 40 und 41:
M8: Elektronenenergieverlustspektro
Seite 42 und 43:
M9: EllipsometriePrinzip des Verfah
Seite 44:
M9: Ellipsometrieführen können, s
Seite 48 und 49:
MethodenM11: Energiefilterungs-Tran
Seite 50 und 51:
M11: Energiefilterungs-Transmission
Seite 52 und 53:
M12: EPR-Spektroskopie (ESR-Spektro
Seite 54 und 55:
MethodenM13: Focused Ion Beam (FIB)
Seite 56 und 57: M13: Focused Ion Beam (FIB)Typische
Seite 58 und 59: M14: HECUS System-3CharakteristikaH
Seite 60 und 61: M15: Hoch-/Tieftemperatur-Pulverdif
Seite 62 und 63: MethodenM16: Hochauflösende SQUID-
Seite 64 und 65: MethodenM17: Hochauflösungs-TEM un
Seite 66 und 67: M17: Hochauflösungs-TEM und Elektr
Seite 68 und 69: M18: Hochverformung - Nanokristalli
Seite 70 und 71: MethodenM19: Leitfähigkeits-Raster
Seite 72 und 73: M19: Leitfähigkeits-Rasterkraftmik
Seite 74 und 75: M20: Nanoindentierungeiner Probe. G
Seite 76 und 77: M21: Negativkontrastierung als Diag
Seite 78 und 79: M22: NMR-CIDNPFür die NMR- und CID
Seite 80 und 81: M23: Oberflächenenergie von Beschi
Seite 82 und 83: M24: Photoemissions-Elektronenmikro
Seite 84 und 85: M25: PositronenannihilationMit den
Seite 86 und 87: M26: Präparationstechniken in der
Seite 92 und 93: M27: Rasterelektronenmikroskopie (R
Seite 94 und 95: M28: Rasterkraftmikroskopie (AFM)Du
Seite 96: M29: Rasterkraftmikroskopie (AFM) -
Seite 99 und 100: MethodenM30: Rastertransmissionsele
Seite 101 und 102: M30: Rastertransmissionselektronenm
Seite 103 und 104: M31: Rastertunnel mikroskopie (RTM
Seite 105: M32: Röntgen- und Ultraviolett-Pho
Seite 109 und 110: M34: Röntgenbeugung - Polfigurtech
Seite 111 und 112: M35: Röntgenkleinwinkel- und -weit
Seite 113 und 114: M35: Röntgenkleinwinkel- und -weit
Seite 115 und 116: M36: Röntgenkleinwinkelstreuung (S
Seite 117 und 118: MethodenM37: Röntgenreflektivität
Seite 119 und 120: M37: Röntgenreflektivität (XRR)de
Seite 121 und 122: M38: SAXSess - Das Instrument für
Seite 123 und 124: M39: Schwingungsspektroskopie (IR u
Seite 125 und 126: MethodenM41: Thermische Desorptions
Seite 127 und 128: Methodenstress [MPa]M42: Thermo-mec
Seite 129 und 130: MethodenM43: Tribologische Untersuc
Seite 131 und 132: M43: Tribologische UntersuchungenGr
Seite 133 und 134: M44: Ultramikrotomie in der Materia
Seite 135 und 136: M44: Ultramikrotomie in der Materia
Seite 137 und 138: MethodenM45: Zeta-Potenzial-Messung
Seite 139: M45: Zeta-Potenzial-MessungDie Mess
Seite 143 und 144: LösungenL1: AES-Querschnitts-Analy
Seite 145 und 146: LösungenL2: AFM-Untersuchungenzum
Seite 147 und 148: L2: AFM-Untersuchungen an Pentazen-
Seite 149 und 150: LösungenL3: Anwendungen der Positr
Seite 151 und 152: L3: Anwendungen der Positronenannih
Seite 153: L4: Ausscheidungscharakterisierung
Seite 156 und 157:
L5: Bestimmung der Ge-Konzentration
Seite 158 und 159:
LösungenL7: Charakterisierung von
Seite 160 und 161:
L7: Charakterisierung von Ausscheid
Seite 162 und 163:
LösungenL9: Der Effekt aromatische
Seite 164 und 165:
L9: Der Effekt aromatischer Quellun
Seite 166 und 167:
L10: Device Modification mittels Fo
Seite 168 und 169:
L11: Eigenspannungs-Charakterisieru
Seite 170 und 171:
LösungenL12: Elektrokinetische Mes
Seite 172 und 173:
L12: Elektrokinetische Messungen (Z
Seite 174 und 175:
L13: Epitaktisches Wachstum von org
Seite 176 und 177:
L14: EPR: Wie kommunizieren Elektro
Seite 178 und 179:
L15: EPR: Photoinitiatoren für die
Seite 180 und 181:
LösungenL16: Fehleranalyse von Pie
Seite 182 und 183:
LösungenL17: FIB in der Mikro- und
Seite 184 und 185:
LösungenL18: Haftfestigkeitsprüfu
Seite 186 und 187:
LösungenL19: Hochtemperatur-Röntg
Seite 188 und 189:
L19: Hochtemperatur-Röntgendiffrak
Seite 190 und 191:
LösungenL21: HT-XRD - Spannungen u
Seite 192 und 193:
L21: HT-XRD - Spannungen und Deform
Seite 194 und 195:
L22: Li-Ionen-Batterien und alkalis
Seite 196 und 197:
LösungenL23: Magnetische Eigenscha
Seite 198 und 199:
LösungenL24: Mechanismus der Wirks
Seite 200 und 201:
LösungenL25: Metallische Schichten
Seite 202 und 203:
LösungenL26: Morphologie-Analyse v
Seite 204 und 205:
LösungenL27: Nanoindentierungsvers
Seite 206 und 207:
LösungenL28: Ortsaufgelöste Rönt
Seite 208 und 209:
LösungenL29: Präparationstechnike
Seite 210 und 211:
L29: Präparationstechniken in der
Seite 212 und 213:
L30: Probenpräparation mittels Zwe
Seite 214 und 215:
LösungenL31: Raman-Spektroskopie i
Seite 216 und 217:
LösungenL32: Rastertunnelmikroskop
Seite 218 und 219:
L33: Röntgenkleinwinkelstreuung an
Seite 220 und 221:
L34: Sekundärionen-Massenspektrosk
Seite 222 und 223:
L35: Synchrotronstrahlung in der in
Seite 224 und 225:
L35: Synchrotronstrahlung in der in
Seite 226 und 227:
L36: Nanostruktur von nichtstöchio
Seite 228 und 229:
LösungenL37: Tiefenprofilanalyse e
Seite 230 und 231:
LösungenL38: Ultradünne organisch
Seite 232 und 233:
L39: Untersuchung eines Defektes in
Seite 234 und 235:
LösungenL40: Untersuchung moderner
Seite 236 und 237:
L41: Untersuchung von Reaktionswell
Seite 238 und 239:
LösungenL43: XPS-Untersuchungen an
Seite 241:
Institute,Institutionen undFirmenHa
Seite 244 und 245:
I1: Anton Paar GmbHFirmenstrukturGr
Seite 246 und 247:
I2: Die österreichische SAXS-Stati
Seite 248 und 249:
I3: Erich-Schmid-Institut für Mate
Seite 250 und 251:
InstitutionenI4: FELMI-ZFE, TU Graz
Seite 252 und 253:
I4: FELMI-ZFE, TU GrazPolymeren (in
Seite 254 und 255:
I5: HECUS XRS GmbHKontaktHECUS XRS
Seite 256 und 257:
I6: Institut für Chemie, KFU GrazD
Seite 258 und 259:
I7: Institut für Chemische Prozess
Seite 260 und 261:
InstitutionenI8: Institut für Fest
Seite 262 und 263:
I8: Institut für Festkörperphysik
Seite 264 und 265:
I9: Institut für Materialphysik, T
Seite 266 und 267:
I10: Institut für Nanostrukturiert
Seite 268 und 269:
InstitutionenI11: Institut für Phy
Seite 270 und 271:
I11: Institut für Physik, Bereich
Seite 272 und 273:
Seite 274 und 275:
Seite 276 und 277:
I13: Institut für Physikalische un
Seite 278 und 279:
I14: Laserzentrum Leoben, JRDie Bes
Seite 280 und 281:
InstitutionenI15: Materials Center
Seite 282 und 283:
I15: Materials Center Leoben Forsch
Seite 285 und 286:
K1Amenitsch Heinz, Dr.Institut für
Seite 287 und 288:
KontakteK11Grampp Günther, O. Univ
Seite 289 und 290:
KontakteK20Köstler Stefan, Dipl.-I
Seite 291 und 292:
KontakteK31Motz Christian, Dr.Öste
Seite 293 und 294:
KontakteK43Schöberl Thomas, Dr.Ös
Seite 295:
KontakteNetzwerk NanoanalytikSteier
Seite 298 und 299:
278Handbuch der Nanoanalytik Steier
Seite 300 und 301:
SchlagwörterSchlagwort Seite Schla
Seite 302 und 303:
Seite 304 und 305:
Seite 306 und 307:
Seite 308:
AutorenAutor Seite Autor SeiteNNESH
Seite 311:
Handbuch der Nanoanalytik Steiermar
Alle anzeigen

Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005

Erfolgreiche ePaper selbst erstellen

Template löschen?

Als Template speichern?