Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005

MethodenM24: Photoemissions-Elektronenmikroskopie(PEEM)Abbildung 1:M24: Photoemissions-Elektronenmikroskopie (PEEM)Die einzelnen Photoemissionsspektroskopie-Methoden sind besonders geeignete Technikenzur Untersuchung einer großen Bandbreite vonOberflächenphänomenen, die sich von der elektronischenStruktur über die Oberflächenchemiebis hin zum Magnetismus erstrecken. Die Entwicklungdes Photoemissions-Elektronenmikroskopesermöglicht die Untersuchung dieser Phänomenenicht nur mit nanometrischer Präzision, sondernauch in Echtzeit.Schematischer Aufbau einesPEEM-InstrumentsPEEM ist eine abbildende Technik, wobei derKontrast, der von topographischer über chemischebis zu magnetischer Information reichen kann, vonder Anregungsquelle zur Emission der Elektronenaus der Oberfläche abhängt. Das PEEM sammeltdie emittierten Elektronen mittels eines starkenelektrostatischen Feldes zwischen Probe und Abbildungssäule,wobei das Elektronenbild im Anschlussmit mehreren koaxialen Linsen vergrößert wird. Inseiner einfachsten Form werden die Elektronenim Anschluss durch eine Vielkanalplatte vervielfachtund auf einen Fluoreszenzschirm abgebildet(Abb. 1). Dieses Bild kann dann entweder mit einemVideorecorder oder einem Computer aufgezeichnetwerden. Das theoretische Limit der Ortsauflösungliegt bei 2 nm, in Praxis ist sie jedoch durch dasbeschleunigende elektrische Feld begrenzt, wobeineueste kommerzielle Instrumente eine Auflösungvon 20 nm erreichen. Da die Probe effektiv einElement der Elektronenoptik darstellt, ist die Untersuchungnichtleitender Proben nicht möglich unddie bestmögliche Ortsauflösung kann bei topographischflachen Proben erreicht werden.Index Kontakte Institute Lösungen MethodenHandbuch der Nanoanalytik Steiermark 200561