Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005

L16: Fehleranalyse von Piezokeramiken mittels XPSwerden können. Darüber hinaus wird C an beidenProben als Oberflächenverunreinigung detektiert.Die defekte Probe enthält etwa 3 Atomprozent (at%)Zinn (Sn), das auf der Referenzprobe definitiv nichtvorhanden ist. Eine ausführliche Atomkonzentrationsanalyseanhand der Spektren zeigt, dass die defekteProbe im Vergleich zur Referenzprobe Ti- undZr-defizient ist (defekte Probe: 3,4 at% Ti, 6,1 at%dungsenergien verschoben ist. Diese chemischverschobene XPS-Komponente stammt von Pb-Atomen in metallischer Form. Dieses Resultatdeutet darauf hin, dass in der defekten Probe eineReduktion der Pb-Oxidphase unter den betreffendenGebrauchsbedingungen stattgefunden hat,die wahrscheinlich für das Versagen des piezokeramischenStapels verantwortlich ist.Zr; Referenzprobe: 6,7 at% Ti, 9,1 at% Zr).Svetlozar Surnev, Michael Ramsey, Falko NetzerDetaillierte Messungen der Pb-4f-Rumpfniveauspektrenermöglichen den Nachweis weiterer Unterschiedein der chemischen ZusammensetzungKarl-Franzens-Universität GrazInstitut für Physik, Bereich Experimentalphysik,Oberflächen- und Grenzflächenphysikder defekten Probe und der intakten Referenzprobe(Abb. 2). Die Pb-4f 7/2 - und Pb-4f 5/2 -Dubletts derReferenzprobe haben die für oxidiertes Blei typischenMethoden:M32Bindungsenergien. Die Pb-4f-Linienform Lösungen: —der defekten Probe ist etwas breiter, was auf dieGegenwart einer neuen spektralen KomponenteInstitute:I11schließen lässt, die um ~1,4 eV zu niedrigeren Bin-Kontakte:K32Photoelektronenspektroskopie | Piezokeramik | Rumpfniveauspektrum | XPSIndex Kontakte Institute Lösungen MethodenHandbuch der Nanoanalytik Steiermark 2005161